Załącznik nr 4 do ZW 33/2012
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki KARTA PRZEDMIOTU | |
Nazwa w języku polskim: |
Metody statystyczne w EMF |
Nazwa w języ ku angielskim: |
Statistics for EPM |
Kierunek: |
Elektronika i Telekomunikacja |
Stopień i forma: |
II stopnia / Stacjonarne |
Rodzaj przedmiotu: |
Obowiązkowy / Wydziałowy |
Kod przedmiotu: |
ETD008075 |
Grupa kursów: |
NIE |
Wykład |
Ćwiczenia |
Laboratorium |
Projekt |
Seminarium | |
Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni (ZZU) |
15 |
15 | |||
Liczba godzin całkowitego nakładu pracy studenta (CNPS) |
30 |
60 | |||
Forma zaliczenia |
Z |
Z | |||
Liczba punktów ECTS |
1 |
2 | |||
Liczba punktów odpowiadająca zajęciom o charakterze praktycznym (P) |
0 |
2 | |||
Liczba punktów ECTS odpow iadająca zajęciom wymagającym bezpośredniego kontaktu (BK) |
0,6 |
1,4 |
1. Znajomość podstaw rachunku prawdopodobieństwa i analizy matematycznej
C01 Nabycie wiedzy w zakresie roli metod statystycznych w działalności inży nierskiej oraz na temat metod zbierania danych statystycznych
C02 Nabycie wiedzy na temat metod analizy danych statystycznych z zastosowaniem takich narzędzi, jak statystyka opisowa, estymacja przedziałowa, testowanie hipotez, analiza wariancji, regresja liniowa
C03 Zaznajomienie z metodami statystycznego sterowania jakością
C04 Nabycie umiejętności samodzielnego rozwiązywania problemów z zakresu zastosowania metod statystycznych
C05 Utrwalanie świadomości studenta odnośnie potrzeby stosowania metod statystycznych w działalności inżynierskiej_