3545336560

107.    Borkowski Jozef S, Mroczka Janusz: Multifreąuency signal analysis of the optic sensor in the LIDFT method. Metrology and Measurement Systems. 2004 vol. 11, nr 4, s. 377-384, 6 rys., bibliogr. 11 poz.

AK K06/2005/I-164

108.    Rubaszewski Igor, Mroczka Janusz: Digital correction of nonlinear sensor dynamics by means of neural networks. Metrology and Measurement Systems. 2004 vol. 11, nr 4, s. 333-343, 7 rys., bibliogr. 16 poz.

AK K06/2005/I-165

109.    Polak Adam, Wysoczański Dariusz, Mroczka Janusz: A transient State analysis of gas exchange in a human body. Metrology and Measurement Systems. 2004 vol. 11, nr 4, s. 321-332,

4 rys., 2 tab., bibliogr. 26 poz.

AK K06/2005/I-166

110.    Grosel Jacek, Polak Adam: Symulacja wyboczenia kanalika oddechowego podczas wytężonego wydechu. W: Kompozyty. Konstrukcje warstwowe. III Sympozjon. Referaty,

[Wrocław-Karpacz, 4-6 listopada 2004]. Wrocław : Dolnośl. Wydaw. Edukacyjne, 2004. s. 41-46, 6 rys., bibliogr. 12 poz., Summ.

RK II4/2004/1-112

111.    Mroczka Janusz, Kabza Zdzisław*, Bartodziej Gerhard*, Górecki Krzysztof*, Szmajda Mirosław*, Polok Norbert*, Santarius Pavel*, Galvas Josef*, Novosad Bretislav*, Drapela Jan*: Analyza rusivych vlivu v napajeci siti nemocnicniho komplexu. Elektrotechnika v Praxi. 2004 R. 14, cis. 3/4, s. 46-48, 6 rys., 2 tab., bibliogr. 2 poz.

AZ K06/2004/I-163

112.    Wysoczański Dariusz, Rawa Remigiusz, Mroczka Janusz: System komputerowy do kalibracji medycznych czujników ciśnienia i przepływu. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 615-618, 3 rys., bibliogr. 9 poz.

RP K06/2004/I-158

113.    Jagielnicki Ryszard: Modelowanie empirycznych charakterystyk impedancyjnych sypkich substancji organicznych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM.

Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 703-706,

8 rys., bibliogr. 4 poz.

RP K06/2004/I-162

114.    Wojtaszek Tomasz, Mroczka Janusz: Fazowa anemometria dopplerowska w pomiarach właściwości fizycznych ośrodka wielofazowego. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 673-676, 3 rys., bibliogr. 13 poz.

RP K06/2004/I-161

115.    Rubaszewski Igor, Mroczka Janusz: Analiza wpływu zjawiska rozpraszania światła w pomiarze spektrofotometrycznym. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM.

Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław :