5973829964
Fig. 6
S. Kamiński, J. Trzciński 2008 - Optyczno-elektroniczny sposób określania składu granulometrycznego gruntów i możliwości zastosowania w geologii inżynierskiej
Dodatkowymi informacjami o parametrach i wskaźnikach uziamienia określanymi na podstawie wyników analiz są: nazwa geotechniczna gruntu wg klasyfikacji polskiej normy PN-B-04481: 1988 i PN-EN ISO 14688-2: 2006, wskaźnik niejednorodności uziarnienia, średnia średnica ziaren, odchylenie standardowe, skośność i kurtoza. Informacje te pozwalają na szerszą
interpretację wyników badań uziarnienia pod kątem geologiczno-inżynierskim i
sedymentologicznym. Wymienione parametry uzyskuje się w wynikach z programu, które przedstawiono na Fig. 7. Możliwe jest uzyskanie jeszcze innej charakterystyki uziamienia w zależności od potrzeb użytkownika. Przyrządy IPS L, IPS U/A mogą dodatkowo określać powierzchnię właściwą i kształt cząstki dwuwymiarowo (2D).
Jakość potwierdzona certyfikatem ISO 9001
Optyczno-elektroniczny sposób określania składu granulometrycznego Strona: 10 gruntów i możliwości zastosowania w geologii inżynierskiej
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
Fig. 3 S. Kamiński, J. Trzciński 2008 - Optyczno-elektroniczny sposób określaniad&D S. Kamiński, J. Trzciński 2008 - Optyczno-elektroniczny sposób określania składu granul omE&E Fig. 7 S. Kamiński, J. Trzciński 2008 - Optyczno-elektroniczny sposóbd£D 0,5-300 0,5-600 nm 2-1200 um 0,05-10 mm 2-100 mm Fig 4 S. Kamiński, J. TrzcińsKAMIKA Instruments1 KfiK]PUBLIKACJETYTUŁOptyczno-elektronlczny sposób określania składuCCF20100122 014 T<?i(9 Mass media określa się jako ogół elektrycznych i elektronicznych sposobówŹródło: Topcon Fot. 9. Teodolit elektroniczny Busola Sposobem określenia swojej marszruty lub kierun396 2 9. POTRZEBY WŁASNE ELEKTROWNI PAROWYCH określa się moc znamionową, przekładnię, sposób i zakreRys. 1. Wykres E-pH dla Fe Wygodnym sposobem określania szybkości reakcji elektrochemicznych jest poUniwersytet ŁÓDZKIŁączne opodatkowanie małżonków - sposób określenia podatku Art. 6 ust. 2 - podatekskrypt160 Kys. 10.2. Sposób określenia kąia Halla w płytce półprzewodnika typu n. Kw - wypadkowy wekwięcej podobnych podstron