7804215741
ZASŁUŻONY
CCAINTELIGENTNEGO R02W
CERTYFIKAT rrol. <* Nob. ft ir*d licntwi Mojil«"Ok .Zotlutony dki Wdlgenłnego Rozwo|u*
9-
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
zad6grab -„Ł-ł^-S- *• J - ** {nr# * *v-n FT. ^ Ir,.. CwVU7(
+ X -- Scratching the Surface of Paper Currency with FT-IR Microscopy - Chromium Y
DOBRE OBYCZAJE (11) I I
S11P16POSTERY Wykorzystanie spektroskopii FT-IR do profilowania chemicznego cyjanobakterii Grzegorz
11148895?9130808460241616848 n łOęft* ft ir. fu 10 V Ki* l L,
RUSZTOWANIA w POLSCE I EUROP! R
.Mlllto 44*B-***‘ " ■ . ■>««»• • ft •ir>rMa« *«•* * >■•«»
Wady FT-IR: •niska jakość widm przy badaniu próbek o rozmiarach ziaren większych od długości fali
zad6grab -„Ł-ł^-S- *• J - ** {nr# * *v-n FT. ^ Ir,.. CwVU7(
fot9 (2) mTS ‘lift ?**“ ‘ # " * Wm •T , 0 - . Hf1®* v • ^ 1 » i ft *? a ir*u< A a f
39652 IMG02 ■uaiiMisSifrę o cw Orrfr ■fttfT A ft Ir 1 ^ ■«*> T C
skanuj0010 O ^U^UC ^ LvvJ^Ay ^uCXOl> ft? obi^^ZCt-c^- C_- -tQjla^^Z) ► v^ ^ ^vtx^ir<wCVi_rfj t
Zdjŕcie0019 n !*»*■*■) ■» ft. fn—mwtm mwmamrry w prmśmkr* mci?* Ir
Kin W2 Example 4 - t - TRr/K-fcAD: do. *16 r CtJ (f_p (_-tJ ^Lt), iftt) - wsp. biegu, moi^f *r
skanuj0004 (438) gypgJcIgM 1 mi4)j{J^ uąw/LgaAziCL. d<Ąnim**xikt(ft &p*Ą>ĄJa:ir>>,
więcej podobnych podstron