1148442358

Tablica 2. Wyniki badań wpływu temperatury na czułość przetwornika pomiarowego.

	Wartości zadane		Wartości zmierzone
Lp	Temperatura	a	am	T0ff	Tref	Tx
	[°C]	[%i	[%]	[ms]	[ms]	[ms]
1		0	1-2*°	4,20	4,96	4,20
2		25	25-i*°	4,20	4,96	4,29
3	-30	50	50±1	4,20	4,96	4,39
4		75	75+1	4,20	4,96	4,48
5		100	101-2*°	4,20	4,96	4,59
6		0	1-,*°	3,44	4,08	3,44
7		25	25-1*°	3,44	4,08	3,52
8	+20	50	51-o^+1	3,44	4,08	3,61
9		75	76±1	3,44	4,08	3,68
10		100	101+1	3,44	4,08	3,76
11		0	0-o^+l	3,32	3,96	3,32
12		25	25±1	3,32	3,96	3,40
13	+55	50	50±1	3,32	3,96	3,48
14		75	75+1	3,32	3,96	3,56
15		100	lOO-o*^1	3,32	3,96	3,64

gdzie: a =    1

: - zadawane obciążenie względne, - zmierzone obciążenie względne.

Tablica 3. Wyniki badań wpływu temperatury na dryft zera przetwornika pomiarowego.

	Wartości zadane	Wartości zmierzone
Lp	Temperatura	am	T0ff	Tref	Tx
	[°C]	[%i	[ms]	[ms]	[ms]
1	-30	0±1	4,20	4,96	4,20
2	+20	0+1	3,44	4,08	3,44
3	+55	0-o^+1	3,32	3,96	3,32

Analiza otrzymanych wyników pomiarowych pokazuje, że temperatura nie ma wpływu na dryft zera przetwornika pomiarowego UTI.

Niewielkie rozmycie wyników pomiarowych a_m spowodowane jest wpływem zakłóceń zewnętrznych.