130858474

lokalnego składu fazowego dostarczając informacji na temat wymiarów komórki elementarnej oraz symetrii sieci krystalicznej w danym krystalicie.

Zastąpienie wiązki optycznej elektronami, które mogą oddziały wać z atomami preparatu prowadząc do ich wzbudzenia i w efekcie emisji rentgenowskiego promieniowania charakterystycznego, pozwoliło na wykorzystanie tego efektu do określania lokalnego składu chemicznego analizowanych materiałów.

2. Transmisyjny mikroskop elektronowy Tecnai G2 F20 (200kV), wyposażony w:

-    działo z emisją połową FEG,

-    dwie kamery CCD - wysokorozdzielczą Gatan UltraScan i szeroko kątowa SIS Magaview III oraz detektor HAADF do techniki skaningowo- transmisyjnej STEM

-    spektrometr promieniowania rentgenowskiego do analizy składu chemicznego EDAX.

Mikroskop jest przystosowany do przyszłego zastosowania spektrometrii EELS i GIF.

Oprócz tego na wyposażeniu laboratorium jest system wycinania cienkich folii z wykorzystaniem jonów Ga tzw. FIB typ Dual Beam firmy FEI z działem jonowym na bazie mikroskopu skaningowego.

11