7270842110

ność pomiaru nie zależy od parametrów źródła prądowego. Istotne wymagania dotyczą jedynie rezystora Rp.

Rys. 5. Pomiary temperatury za pomocą termorezystora: a) układ klasyczny, b) układ z przetwornikiem sigma-delta

4. PODSUMOWANIE

Parametry metrologiczne przyrządu lub systemu pomiarowego zależą głównie od parametrów przetwornika analogowo-cyfrowego i od układu kondycjonowania. Na szczególną uwagę ze strony projektanta przyrządów pomiarowych zasługują nowoczesne przetworniki analogowo-cyfrowe typu sigma-delta. Przetworniki te charakteryzują się znacznie lepszymi parametrami w porównaniu do innych przetworników. Ponadto przetworniki te mają rozbudowane układy wejściowe, których parametry można programować. W pierwszej części referatu przeanalizowano podstawowe parametry przetworników. W dalszej części przedstawiono charakterystyczne przykłady współpracy przetworników sigma-delta z obwodami wejściowymi torów pomiarowych. Jednym z podstawowych aspektów współpracy jest możliwość wykorzystania wzmacniacza przetwornika sigma-delta w charakterze wzmacniacza wejściowego toru pomiarowego. Należy podkreślić, że jest to wzmacniacz o programowalnym wzmocnieniu. Omówiono także przykłady torów pomiarowych wykorzystujące mostki pomiarowe oraz tory pomiarowe do pomiaru temperatury⁷. Dokonano również porównania tych torów pomiarowych z klasycznymi rozwiązaniami bazującymi na wykorzystaniu typowych przetworników analogowo-cyfrowych. Wymienione przykłady pokazują, że zastosowanie przetworników sigma-delta do budowy przyrządów lub systemów pomiarowych umożliwia uproszczenie w wielu przy padkach struktury układów kondycjonowania. Dzięki temu można zmniejszyć materiałochłonność przyrządów oraz ograniczyć zapotrzebowanie na energię elektryczną, zachowując odpowiednio wysoką dokładność pomiaru.

LITERATURA

1.    Candy J.C, Temes G.C.: Oversampling Delta-Sigma Data Comerters. IEEE Press, New York 1992

2.    Jackiewicz B.: Właściwości metrologiczne nadpróbkujących przetworników analogowo-cyfrowych z modulatorami sigma-delta przy pomiarach przebiegów stacjonarnych. Metrologia i systemy pomiarowe zeszyt 1, 1997

112