7483798146

Wykaz ważniejszych oznaczeń

Nk - liczba neuronów w warstwie A-tej (A = 1. ..L) sztucznej sieci neuronowej.

Oj - obszar}' zdekomponowanego systemu w planowaniu i ocenie ryzyka,

OPP    - organizacyjne przygotowanie produkcji.

OS    - obiekt sterowania,

P    - produktywność systemu produkcyjnego,

PDM - system informatyczny do zarządzania ety kiem życia produktu (ang. Product Data Management), PLM - system informatyczny do zarządzania cyklem życia produktu (ang. Product Lifecycle Management),

PPC - komputerowo wspomagane zarządzanie produkcją (ang. Production Planning and Controt), RPN - liczba priorytetów ryzyka wyznaczana jako wartość w analizie FMEA (ang. Risk Priority Number), R_c - całkowite ryzyko systemu.

R_e - relacje pomiędzy elementami systemu, zbiór relacji.

R,    - ryzyko /-tego obszaru zdekomponowanego systemu.

r, - czynnik ryzyka występując}' w /-tym obszarze systemu produkcyjnego.

Sj - strata na analizowanym wskaźniku w /-tym obszarze systemu.

SCM - system informatyczny do zarządzania łańcuchem dostaw (ang. Supply Chain Management), SPC - statystycznym sterowaniu procesem (ang. Statistical Process Control),

SSN - sztuczne sieci neuronowe.

STEP - norma modelow ania produktów i procesów definiująca reguły zapisu i wy miany danych modelu produktu oparte na danych geometrycznych, topologicznych, technologicznych, materiałowych i innych (ang. Standard for the Exchange ofProduct Model Data),

T - okres reprezentaty w ny będący przyjętą jednostką czasu, dla którego wy znaczono osiągnięcie celu przez system produkcyjny.

TA - transformacja, proces przetwarzania w systemie powodujący przekształcenie wejść do systemu w wyjścia,

TPP - techniczne przygotow anie produkcji,

US - obiekt sterujący, urządzenie sterujące.

W,’*’    - wektor wag /-tego neuronu z warstwy A-tej sztucznej sieci neuronow ej.

xf*⁾ - sygnał wejściowy i-tego neuronu w A-tej warstwie (/ = 0, .... N_k-u k= 1. .... L),

VSM - mapowanie strumienia w artości (ang. J 'alue Stream Mapping). w    - wydajność systemu produkcyjnego.

W_pi - wielkość planow ana analizowanego w skaźnika charakterystycznego dla analizowanego systemu produkcyjnego,

W_rzccz - wielkość rzeczywista analizowanego wskaźnika charaktery'sty cznego dla analizowanego systemu produkcyjnego.

Ujeoiet - możliwa do uzy skania wartość teorety czna wskaźnika charaktery zującego system, wyrażona mierzalnym lub ilościowym wskaźnikiem.

W'_0K, ^_ możliw a do uzy skania wartość teoretyczna wskaźnika charaktery'żującego /-ty obszar zdekomponowanego systemu produkcyjnego, wy rażona mierzalnym lub ilościowy m wskaźnikiem.

X - wejścia do systemu produkcyjnego lub zmienna losowa.

Y    - wyjścia z systemu produkcyjnego.

Z - zakłócenia, czynniki pojawiające się w systemie produkcyjnym w sposób losowy i wpływające na jego funkcjonow anie.

ZSI - zintegrowany system informatyczny (ang. IntegratedManagement System),

Ati    - straty czasu w /-tych obszarach zdekomponowanego systemu spowodowane występowaniem

czynników ry zy ka.