8812711024

8812711024



LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO

B. Pomiary dynamicznych wartości pola magnetycznego

Pomiar zmiany składowej stycznej natężenia zewnętrznego pola magnetycznego H(t) oraz indukcji magnetycznej dB/dt pod wpływem sinusoidalnej zmiany zewnętrznego obciążenia czujnika magnetostrykcyjnego dla kilku wartości amplitudy obciążenia.

Celem wykonywanego zadania jest zapoznanie się ze sposobem pomiaru dynamicznych zmian składowej stycznej wektora natężenia pola magnetycznego H(t) (identycznie jak w części A) oraz indukcji magnetycznej dB/dt w próbce walcowej z materiału wykazującego zjawisko odwrotnej magnetostrykcji. Materiał ten poddany cyklicznym zmianom obciążenia zewnętrznego w postaci siły wykazuje zmianę wektora magnetyzacji M czego następstwem jest zmiana składowej stycznej natężenia pola magnetycznego H(t) oraz indukcji magnetycznej B(t). Zjawisko to charakteryzuje się dużą nieliniowością, której wynikiem jest powstawanie pętli histerezy. Schemat pomiarowy został przedstawiony na rysunku B1.

dt /x\\\

>ff

-ł/l;

__



Rys. BI. Schemat pomiarowy do pomiarów dynamicznych natężenia oraz indukcji pola magnetycznego próbki walcowej typu GMM

Próbka będzie poddana sinusoidalnemu obciążeniu ściskającemu o rosnącej amplitudzie przy ustalonej wartości stałego obciążenia Fo oraz stałej wartości natężenia pola magnetycznego Ho. Należy zarejestrować przebiegi czasowe sygnału F(t), H(t), dB(t)/dt dla wskazanych wartości amplitudy obciążenia (rys. B2).

Rys. B2. Cykliczne obciążenie dynamiczne próbki silą


Pomiar wartości składowej stycznej natężenia pola magnetycznego H(t) będzie realizowany w identyczny sposób jak w części A. Wartość dB/dt zostanie zarejestrowana przez cewkę pomiarową nawiniętą na próbkę. Przebiegi czasowe mierzonych sygnałów zostaną zarejestrowane za pomocą karty pomiarowej i udostępnione w celu przygotowania sprawozdania. Wartości amplitudy obciążenia oraz natężenia pola magnetycznego należy odnotować w tabeli BI i dołączyć do sprawozdania.

16


OPRACOWAŁ: J.M.BOMBA (1-19), jacek.bomba@pwr.wroc.pl, Bl/110, TEL. 320 28 99



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Laboratorium —Elektroniczne Systemy Pomiarowe Kierunek/semestr: AiZ/6 Grupa: A1/1 Data wykonania:
Sprawozdanie z laboratorium Elektroniczne Systemy Pomiarowe Rok akademicki: 2007/2008 Temat
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO Rys. 13. Struktura płytki
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO Zmiana orientacji pomiaru
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO Rys. 16. Zależność wartości Vo n
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO Hy(kA/m) Rys. 18. Zależność wart
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO natomiast znacznie wyższe w mate
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGOZADANIA DO WYKONANIA A. Pomiary s
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO C. Opracowanie wyników Sprawozda
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO OPIS GRUPY - data...............
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGOWPROWADZENIE TEORETYCZNE POLE
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO EFEKTY KRZYŻOWE POLA MAGNETYCZNE
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO Materiały o gigantycznej magneto
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO przedstawionych krzywych silnie
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO Czujn
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO V gdzie V0 [mV] - napięcie
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO W tej prostej postaci efekt
LABORATORIUM SENSORY I SYSTEMY POMIAROWE SENSORY POLA MAGNETYCZNEGO po linearyzacji [Phi1998] Rys. 1
Sensory i struktura systemu pomiarowego. Czujniki wykorzystywane w systemach monitorowania (czujniki

więcej podobnych podstron