Katedra Automatyki i Elektroniki Bezzlączowe elementy półprzewodnikowe
4.2. Układ do wyznaczania charakterystyk statycznych metodą oscyloskopową.
Rys.7 Uproszczony schemat do wyznaczania charakterystyk statycznych elementów półprzewodnikowych metodą oscyloskopową.
4.3 Układ do wyznaczania charakterystyki rezystancyjno-temperaturowej termistora.
Zaproponować sposób pomiaru charakterystyki rezystancyjno-temperaturowej termistora. Wykorzystać zasilacz laboratoryjny z regulacją prądu, rezystor o wartości 111 i mocy 20W oraz miernik temperatury.
5. POMIARY
Uwaga! Przed rozpoczęciem pomiarów:
> zapoznać się z kartami katalogowymi badanych przyrządów półprzewodnikowych (dostępne w laboratorium lub na stronach internetowych);
> zanotować najważniejsze parametry dopuszczalne i charakterystyczne badanych elementów.
5.1 Wyznaczyć charakterystyki rezystancyjno-temperaturowe termistorów;
5.2 wyznaczyć charakterystyki prądowo-napięciowe termistorów metodą „punkt po punkcie”;
5.3 wyznaczyć charakterystyki prądowo-napięciowe termistorów metodą oscyloskopową;
5.4 wyznaczyć charakterystyki prądowo-napięciowe warystorów metodą „punkt po punkcie”;
5.5 wyznaczyć charakterystyki prądowo-napięciowe warystorów metodą oscyloskopową;
5.6 wyznaczyć charakterystyki przejściowe hallotronu;
9