METROLOGIA I MIERNICTWO WARSZTATOWE, Pomiary zarysów kształtowych na mikroskopie warsztatowym, POLITECHNIKA OPOLSKA

LABORATORIUM

MIERNICTWA

WARSZTATOWEGO

SPRAWOZDANIE

z laboratorium miernictwa warsztatowego

Temat: Pomiary zarys�w ksztatowych na mikroskopie warsztatowym

1.Wiadomoci wprowadzajce

Mikroskop warsztatowy naley do najbardziej uniwersalnego przyrzdu stosowanego w laboratoriach metrologicznych. Suy do pomiaru wymiar�w liniowych i ktowych wszelkiego rodzaju przedmiot�w cylindrycznych, paskich i ksztatowych.

Ze wzgldu na zakres i wielko spotyka si dwa typy mikroskop�w: warsztatowy (may i duy) oraz uniwersalny. Wsp�ln cech tych przyrzd�w jest moliwo dokonywania pomiar�w w ukadzie wsp�rzdnych prostoktnych. R�ni si one midzy sob dokadnoci odczytu oraz moliwociami pomiarowymi, a take wyposaeniem dodatkowym.

Przedmioty otrzymane do mierzenia (odwzorowania ksztatu):

n� ksztatowy 1,

n� ksztatowy 2,

n� ksztatowy 3,

0x01 graphic

Metoda pomiarowa jest prosta i polega na odwzorowaniu przedmiotu mierzonego przy pomocy kolejnych wartoci odczytanych (pobranych) z przedmiotu mierzonego. Zbi�r punkt�w otrzymanych przez taki pomiar daje nam obraz zarysu mierzonego.

2. Zadania

Zmierzy charakterystyczne punkty zarysu przedmiotu ksztatowego w ukadzie wsp�rzdnych prostoktnych. uki bdce czci zarysu naley zmierzy w kilku punktach.

3. Zestawienie potrzebnych pomocy

Mikroskop warsztatowy duy.

0x01 graphic

obrotowy st� pomiarowy,

bben ruby y,

bben ruby x,

obiektyw,

okularowa gowica goniometryczna,

koo rczne do obrotu stou,

ruba zaciskowa,

Pytka wzorcowa: 20 mm, pobrana z zestawu pytek wzorcowych bdcych na stanie laboratorium metrologii.

Plan mierzenia - notowanie wynik�w

Pomiar polega na zmierzeniu rzdnych y_i przy zaoonych z g�ry odcitych x_i.

lp.	n� 1; x_i	n� 1; y_i	n� 2; x_i	n� 2; y_i	n� 3; x_i	n� 3; y_i
1.	20.88	8.29	1.8	6	41.54	5.81
2.	20.92	10.22	1.89	6.52	41.98	9.33
3.	19.48	10.23	2.93	8.32	41.71	11.64
4.	17.8	10.27	3.79	9.09	41.41	13.84
5.	15.97	10.4	4.77	9.19	41.09	16.15
6.	15.88	11.79	5.87	9.23	37.97	16.29
7.	15.64	12.88	6.85	9.57	35.17	16.4
8.	15.25	13.78	7.54	10.05	33.41	15.86
9.	14.44	14.69	8.12	10.65	31.73	15.32
10.	13.71	15.06	8.98	11.89	29.39	14.57
11.	12.56	15.29	9.97	13	25.42	14.74
12.	10.82	14.97	11	13.65	24.23	14.63
13.	9.77	14.1	12.08	13.8	24.47	14.39
14.	8.88	13.19	13.57	13.6	22.92	14.08
15.	7.51	12.39	14.4	13.1	22.47	13.73
16.	6.48	12.82	15.14	12.22	20.92	13.79
17.	6.04	13.45	15.54	11.17	20	13.59
18.	5.77	15.15	15.7	10	19.37	13.27
19.	5.4	17.5	15.84	8.72	18.86	12.78
20.	5	20.01	18.05	8.75	18.42	12.32
21.	3.7	19.99	20.76	8.63	16.97	12.34
22.	2.27	19.88	20.74	7	15.24	12.37
23.	2.22	18.04	20.69	6	15.19	10.97
24.	2.16	15.33			14.98	10.74
25.	2.09	12			10.78	10.89
26.	2	8			10.57	11.14
27.					10.72	13.79
28.					10.89	17.4
29.					7.76	17.56
30.					3.95	17.7
31.					3.8	14
32.					3.66	11
33.					3.55	8
34.					3.48	5.81

5. Analiza wynik�w, wnioski i uwagi

Bd pomiaru na mikroskopach wynosi:

0x01 graphic

gdzie:

L - wielko mierzona w mm,

H - wysoko przedmiotu mierzonego w mm,

Wartoci bd�w policzone dla maksymalnych wartoci H i L w serii pomiar�w wynosz:

Dla pomiar�w nr 1: H₁ = 18,25 mm = � 1,17 m,

Dla pomiar�w nr 2: H₂ = 18,43 mm = � 1,16 m,

Dla pomiar�w nr 3: H₃ = 15,33 mm = � 7,07 m,

6. Poda obszerniejsze wyjanienia

Otrzymane wyniki pomiar�w zostay przedstawione na wykresach. Z poczenia punkt�w pomiarowych otrzymano zarys rzeczywisty mierzonego przedmiotu z odpowiedni dokadnoci. Dokadno zaley przede wszystkim od czstoci pobieranych wartoci (pomiar�w), a w mniejszym stopniu od dokadnoci pomiaru zastosowanego mikroskopu. Dokadne odwzorowanie zarysu ksztatowego t metod nie nastrcza wikszych trudnoci. Mona by jednak usprawni odczyt pomiar�w, poniewa ze wzgldu na ich ilo jest to czynno pracochonna.

Ponisze wykresy odzwierciedlaj wymiary i rzeczywisty ksztat mierzonych zarys�w

0x01 graphic