Metrologia-lab-Metodyka opracowań wyników pomiarowych, METPOM S, POLITECHNIKA RADOMSKA


POLITECHNIKA RADOMSKA

Im. Kazimierza Pułaskiego

WYDZIAŁ TRANSPORTU

LABORATORIUM

MIERNICTWA

Data:

Wykonał:

Grupa:

Zespół:

Rok akademicki:

Temat:

Metodyka opracowywania wyników pomiarowych.

Nr ćwiczenia: I I

Ocena i podpis prowadzącego:

1. Cel ćwiczenia:

Celem ćwiczenia jest wykorzystanie komputera z przetwornikami A/C i C/A do badania charakterystyk diod półprzewodnikowych.

2. Schemat połączeń stanowiska do badania charakterystyk elementów półprzewodnikowych:

0x01 graphic

3. Schemat badanego przez nas układu:

0x01 graphic

4. Tabela pomiarowa:

Lp.

UC/A

UA/C

UD

dUD

ID

dID

Uwagi:

[V]

[V]

[V]

[%]

[mA]

[%]

1

-5,0

-2.539

-2,461

0,337

-12,695

0,00110

2

-4,8

-2,368

-2,432

0,355

-11,840

0,00117

3

-4,6

-2,197

-2,403

0,376

-10,985

0,00125

4

-4,4

-2,026

-2,374

0,400

-10,130

0,00134

5

-4,2

-1,860

-2,340

0,428

-9,300

0,00145

6

-4,0

-1,694

-2,306

0,460

-8,470

0,00158

7

-3,8

-1,528

-2,272

0,499

-7,640

0,00174

8

-3,6

-1,367

-2,233

0,545

-6,835

0,00194

9

-3,4

-1,206

-2,194

0,602

-6,030

0,00218

10

-3,2

-1,050

-2,150

0,672

-5,250

0,00249

11

-3,0

-0,903

-2,097

0,760

-4,515

0,00287

12

-2,8

-0,757

-2,043

0,879

-3,785

0,00341

13

-2,6

-0,620

-1,980

1,039

-3,100

0,00414

14

-2,4

-0,493

-1,907

1,263

-2,465

0,00517

15

-2,2

-0,371

-1,829

1,615

-1,855

0,00684

16

-2,0

-0,269

-1,731

2,149

-1,345

0,00940

17

-1,8

-0,181

-1,619

3,080

-0,905

0,01391

18

-1,6

-0,112

-1,488

4,817

-0,560

0,02242

19

-1,4

-0,068

-1,332

7,750

-0,340

0,03687

20

-1,2

-0,039

-1,161

13,277

-0,195

0,06420

21

-1,0

-0,024

-0,976

21,373

-0,120

0,10427

22

-0,8

-0,015

-0,785

33,998

-0,075

0,16677

23

-0,6

-0,010

-0,590

50,873

-0,050

0,25010

24

-0,4

-0,010

-0,390

51,290

-0,050

0,25010

25

-0,2

-0,010

-0,190

52,540

-0,050

0,25010

26

0,0

-0,010

0,010

-0,050

0,25010

Dzielenie przez zero

27

0,2

-0,005

0,205

102,540

-0,025

0,50010

28

0,4

0,005

0,395

101,290

0,025

0,50010

29

0,6

0,059

0,541

9,348

0,295

0,04247

30

0,8

0,186

0,614

3,353

0,930

0,01354

31

1,0

0,361

0,639

1,925

1,805

0,00703

32

1,2

0,542

0,658

1,379

2,710

0,00472

33

1,4

0,732

0,668

1,080

3,660

0,00352

34

1,6

0,923

0,677

0,894

4,615

0,00281

35

1,8

1,118

0,682

0,765

5,590

0,00234

36

2,0

1,313

0,687

0,671

6,565

0,00201

37

2,2

1,509

0,691

0,599

7,545

0,00176

38

2,4

1,704

0,696

0,542

8,520

0,00158

39

2,6

1,899

0,701

0,496

9,495

0,00143

40

2,8

2,100

0,700

0,457

10,500

0,00130

41

3,0

2,295

0,705

0,425

11,475

0,00120

42

3,2

2,495

0,705

0,397

12,475

0,00111

43

3,4

2,695

0,705

0,373

13,475

0,00104

44

3,6

2,891

0,709

0,352

14,455

0,00098

45

3,8

3,091

0,709

0,333

15,455

0,00092

46

4,0

3,286

0,714

0,317

16,430

0,00088

47

4,2

3,486

0,714

0,302

17,430

0,00083

48

4,4

3,682

0,718

0,289

18,410

0,00080

49

4,6

3,882

0,718

0,277

19,410

0,00076

50

4,8

4,082

0,718

0,267

20,410

0,00073

51

5,0

4,277

0,723

0,257

21,385

0,00071

5. Przykładowe obliczenia:

0x01 graphic
[V]

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

6. Charakterystyka przejściowa badanej diody:

0x08 graphic

7. Wnioski:

Celem ćwiczenia było zbadanie charakterystyki przejściowej diody i wyliczenie błędów pomiaru. Do tego celu użyłem stanowiska z przetwornikami analogowo-cyfrowym i cyfrowo-analogowym, sterowanego komputerem. Dzięki temu pomiary miały charakter automatyczny i wymagały jedynie ustawienia parametrów badanego układu w programie sterującym.

Obliczając błędy pomiarowe, musiałem wziąć pod uwagę błędy wnoszone przez przyrządy pomiarowe - dwunastobitowe przetworniki A/C i C/A. Najmniejsza rozróżniana przez taki przetwornik wartość to ΔU=20V/212=5 mV (ΔU to iloraz zakresu pomiarowego przetwornika i ilość rozróżnianych przez niego stanów). Jest to błąd kwantyzacji. Drugim błędem wprowadzanym przez przetworniki A/C i C/A jest błąd nieliniowości. Jest on zwykle podawany przez producenta przetwornika. W tym przypadku wyniósł on 0,02%. Zakładamy, że rezystancja wyjściowa przetwornika C/A jest pomijalnie mała, a rezystancja wejściowa przetwornika A/C jest nieskończenie duża - nie bierzemy więc poprawek na te wielkości. W układzie pomiarowym znajduje się także rezystor R o klasie 0,2%.

Obliczenia błędów oparłem o metodę różniczki zupełnej. Pozwala ona na określenie błędu wielkości mierzonych pośrednio, opisanych nawet skomplikowanymi zależnościami matematycznymi. Po znalezieniu odpowiednich pochodnych i wyliczeniu błędów okazało się, że największe błędy występują blisko zera przetworników A/C i C/A i przekraczają 100%. Wynika to z faktu, że wtedy błąd kwantyzacji przetwornika jest tego samego rzędu, co zmierzona wartość. Zauważyłem także, że nie można wyliczyć błędów dla UC/A = 0, ponieważ UC/A jest w mianowniku wzoru.

Podobnie jak w przypadku przyrządów analogowych, odczytów z mierników cyfrowych należy dokonywać w górnej części zakresu pomiarowego. Wtedy pomiar obarczony będzie najmniejszym błędem. Ponadto, należy używać przetworników o jak największej rozdzielczości i najmniejszej nieliniowości, dzięki czemu pomiary będą dokładniejsze.

Charakterystyka diody Zenera uzyskana na podstawie wyników z tabeli pomiarowej nie odbiega od wydruku. Możemy na niej zaobserwować, że dioda ta nie jest elementem idealnym: napięcie stabilizowane dość silnie zależy od prądu płynącego przez diodę, zwłaszcza przy niskich prądach. Dzięki dużej ilości pomiarów możemy zobaczyć łagodne przegięcia charakterystyki diody przy napięciach około -2,2V w kierunku zaporowym i 0,65V w kierunku przewodzenia.

1

1

0x01 graphic



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Metrologia-lab-Metodyka opracowań wyników pomiarowych, Metodyka opracowań wyników pomiarowychspr, PO
Metrologia-lab-Metodyka opracowań wyników pomiarowych, Metodyka, RADOM
METODYKA OPRACOWYWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH, MET0DY s G, POLITECHNIKA RADOMSKA
METODYKA OPRACOWYWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH, METPOM Radzio, POLITECHNIKA RADOMSKA
METODYKA OPRACOWYWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH, MET0DYKA-spr., POLITECHNIKA RADOMSKA
ćwiczenie 2 Statystyczne opracowanie wyników pomiarów, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrolo
B Kamys Statystyczne metody opracowania wyników pomiarów
B Kamys Statystyczne metody opracowania wyników pomiarów
Metrologia-lab-Rozszerzenie Zakresu Pomiarowego, ROZSZE 1, POLITECHNIKA RADOMSKA
Metrologia-lab-Rozszerzenie Zakresu Pomiarowego, ROZ Z S, POLITECHNIKA RADOMSKA
Metrologia-lab-Rozszerzenie Zakresu Pomiarowego, RozEd, POLITECHNIKA RADOMSKA
Analiza błędów. Statystyczne opracowanie wyników pomiarów, Metrologia
Metrologia-lab-Rozszerzenie Zakresu Pomiarowego, ROZSZE 2, POLITECHNIKA RADOMSKA
Opracowanie wynikow pomiarow, Księgozbiór, Studia, Elektronika i Elektrotechnika, Metrologia
Analiza błędów Statystyczne opracowanie wyników pomiarów
Opracowanie wyników pomiaru
Opracowanie wyników pomiarowych - błędy, bledy, Gęstość jest cechą substancji określającą masę jedno
Zastosowanie programów statycznych do opracowania wyników pomiarów

więcej podobnych podstron