testmini, Inżynierskie, Semestr IV, Modelowanie i optymalizacja procesów


1. Planowanie doświadczeń jest opisane w normie:

 ISO 3534

2. Proszę uszeregować (ponumerować) we właściwej kolejności etapy realizacji badania

zgodnie z wytycznymi metodyki planowania doświadczeń:

 5 statystyczna analiza danych

 2 wybór planu doświadczenia

 4 wybór wielkości wejściowych, liczby wartości i zakresów zmienności

 3 przeprowadzenie doświadczenia

 1 rozpoznanie typu problemu i sformułowanie zagadnienia

 7 wnioski i propozycje

 6 wybór wielkości wyjściowej

3. Proszę zaznaczyć obserwacje jakościowe:

 przyczyny absencji pracowniczych z podaniem udziału procentowego

4. Skala porządkowa jest stosowana w odniesieniu do

 obserwacji jakościowych

5. Proszę zaznaczyć powody stosowania przekształcenia danych pierwotnych:

 stabilizacja wariancji

 usunięcie błędów grubych

6. Wariancja jest miarą

 rozrzutu wokół wartości średniej

7. Linearyzacja jest stosowana w celu

 uzyskania prostego związku regresyjnego

8. Normalizacja danych jest stosowana w celu uzyskania przybliżonej zgodności z

rozkładem

 Gaussa

9. Proszę uszeregować według ważności cele przekształcania danych pierwotnych

 3 linearyzacja

 1 normalizacja rozkładu

 2 stabilizacja wariancji

10. Proszę zaznaczyć definicję efektywności estymatora

 estymator ma mieć możliwie najmniejszy rozrzut; oznacza to, że wartości estymatora

obliczone dla różnych prób mają dać możliwie zbliżone wartości oszacowania nieznanego

parametru populacji generalnej

11. Proszę zaznaczyć miary skupienia (tendencji środkowej)

 średnia

 mediana

12. Błąd pierwszego rodzaju określa ryzyko

 odrzucenia prawdziwej hipotezy zerowej

13. Poziom istotności określa wartość prawdopodobieństwa

 błędu pierwszego rodzaju

14. Test statystyczny powoduje stanowcze

 przyjęcie hipotezy zerowej

15. Jednoczesne porównywanie równości wartości średnich w wielu grupach jest

przeprowadzane przy pomocy

 analizy wariancji

16. Uznaje się różnicujący wpływ czynnika wtedy, gdy obliczona wartość krytyczna poziomu

istotności jest

 większa niż założony poziom istotności

17. Do porównywanie a posteriori wartości średnich poszczególnych średnich w grupach

służy

 test Scheffego

18. Jednorodność wariancji sprawdza się

 testem Bartletta

19. Czynnik (wielkość wejściowa) jest to

 wielkość, której zmierzenie jest celem badania

20. Replikacja (powtórzenie) jest to

 ponowienie pomiaru dla takich samych nastaw wielkości wejściowych na tym samym

obiekcie badań

21. Interakcja dwuczynnikowa oznacza, że

 sposób wpływania danej wielkości wejściowej na wielkość wyjściową silnie zależy od

innych dwóch czynników

22. Kryterium najmniejszych kwadratów stosowane przy regresji minimalizuje

 sumę kwadratów błędów

23. Przy wstępnej selekcji wielkości wejściowych wykorzystuje się

 plany dwuwartościowe eliminacyjne

24. Przy modelowaniu zależności liniowych wykorzystuje się

 plany dwuwartościowe

 metodę Taguchi

25. Uwikłanie efektów to

 wprowadzenie zbyt dużej liczby parametrów do modelu uniemożliwiający ich

wyznaczeniedopasowanie modelu do danych

26. Randomizacja planu jest stosowana w celu

 uniezależnienia się od błędów systematycznych

27. Do modelowania zależności silnie nieliniowych stosowane są

 plany kwadratów łacińskich

 plany centralne kompozycyjne

28. Warunek sumowalności oznacza, że

 wartości wielkości wejściowych we wszystkich układach planu sumują się do stałej

wartości



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Test teoretyczny, Inżynierskie, Semestr IV, Modelowanie i optymalizacja procesów
kim, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
1 Karta analizy dokumentacji, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
Projekt nr 1, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
ktm, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
PPT Pytania, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
Przykład MTS, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
Projekt nr 2, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
kup, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
2 karta technologiczna, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
5 Karta normowania, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
7 1 KO przyklad walek, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
4b KT przyklad walek, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
duzza inzyniera, semestr IV, inżynieria procesowa, 2 koło
3 Karta instr obrobki, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
PSO RAPORT, Inżynieria Bezpieczeństwa WAT, Semestr IV, Modelowanie obiektowe, projekt
Klasyfikacja przedmiotow, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
Zestawy z I koła z inżynierii, semestr IV, inżynieria procesowa, inżynieria procesowa
kim, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych

więcej podobnych podstron