Test teoretyczny, Inżynierskie, Semestr IV, Modelowanie i optymalizacja procesów


Nazwisko i imię:

Test wielokrotnego wyboru

Proszę zaznaczyć wybrane odpowiedzi.

1.

Planowanie doświadczeń jest opisane w normie:

ISO 3534

ISO 9000

ISO 14000

2.

Proszę uszeregować (ponumerować) we właściwej kolejności etapy realizacji badania zgodnie z wytycznymi metodyki planowania doświadczeń:

5 statystyczna analiza danych

2 wybór planu doświadczenia

4 wybór wielkości wejściowych, liczby wartości i zakresów zmienności

3 przeprowadzenie doświadczenia

1 rozpoznanie typu problemu i sformułowanie zagadnienia

7 wnioski i propozycje

6 wybór wielkości wyjściowej

3.

Proszę zaznaczyć obserwacje jakościowe:

typy uszkodzeń opakowań z podaniem ilości wystąpień

przyczyny absencji pracowniczych z podaniem udziału procentowego

uszkodzenia w transporcie z podziałem ze względu na wielkość i podaniem udziału procentowego

4.

Skala porządkowa jest stosowana w odniesieniu do

obserwacji jakościowych

obserwacji ilościowych

5.

Proszę zaznaczyć powody stosowania przekształcenia danych pierwotnych:

stabilizacja wariancji

usunięcie błędów grubych

linearyzacja zależności pomiędzy wielkościami

wyrównanie liczności w klasach

normalizacja rozkładu

6.

Wariancja jest miarą

wartości średniej

rozrzutu wokół wartości średniej

istnienia zależności pomiędzy dwoma wielkościami

7.

Linearyzacja jest stosowana w celu

stabilizacji wariancji

uzyskania prostego związku regresyjnego

normalizacji rozkładu

usunięcia błędów grubych

8.

Normalizacja danych jest stosowana w celu uzyskania przybliżonej zgodności z rozkładem

Poissona

χ2 (chi-kwadrat)

Gaussa

Fishera (Snedecora)

9.

Proszę uszeregować według ważności cele przekształcania danych pierwotnych

3 linearyzacja

1 normalizacja rozkładu

2 stabilizacja wariancji

10.

Proszę zaznaczyć definicję efektywności estymatora

estymator ma mieć możliwie najmniejszy rozrzut; oznacza to, że wartości estymatora obliczone dla różnych prób mają dać możliwie zbliżone wartości oszacowania nieznanego parametru populacji generalnej

wartość oczekiwana estymatora jest równa wartości nieznanego parametru populacji generalnej; inaczej mówiąc: estymator nie ma błędu systematycznego

stosowanie większych liczebnie prób poprawia dokładność szacunku; inaczej mówiąc: estymator jest stochastycznie zbieżny do wartości szacowanego parametru

11.

Proszę zaznaczyć miary skupienia (tendencji środkowej)

wariancja

moda

odchylenie standardowe

średnia

rozstęp

mediana

odchylenie ćwiartkowe

12.

Błąd pierwszego rodzaju określa ryzyko

odrzucenia prawdziwej hipotezy zerowej

przyjęcia fałszywej hipotezy zerowej

13.

Poziom istotności określa wartość prawdopodobieństwa

błędu pierwszego rodzaju

błędu drugiego rodzaju

14.

Test statystyczny powoduje stanowcze

przyjęcie hipotezy zerowej

odrzucenie hipotezy zerowej

15.

Jednoczesne porównywanie równości wartości średnich w wielu grupach jest przeprowadzane przy pomocy

testu normalności

analizy wariancji

testu stabilności wariancji

16.

Uznaje się różnicujący wpływ czynnika wtedy, gdy obliczona wartość krytyczna poziomu istotności jest

mniejsza niż założony poziom istotności

większa niż założony poziom istotności

17.

Do porównywanie a posteriori wartości średnich poszczególnych średnich w grupach służy

test normalności

test Shapiro-Wilka

test λ Kołmogorowa

test Scheffego

18.

Jednorodność wariancji sprawdza się

testem normalności

testem λ Kołmogorowa

testem Bartletta

testem Scheffego

19.

Czynnik (wielkość wejściowa) jest to

wartość nastawy, którą można zadać

wielkość, której zmierzenie jest celem badania

wielkość pozostająca pod kontrolą badacza, który może sterować jej nastawami

wielkość zaburzająca zachowanie się obiektu badań

20.

Replikacja (powtórzenie) jest to

zbiór wszystkich nastaw dla konkretnej wielkości wejściowej

ponowienie pomiaru dla takich samych nastaw wielkości wejściowych na tym samym obiekcie badań

ponowienie pomiaru dla takich samych nastaw wielkości wejściowych na różnych obiektach badań

21.

Interakcja dwuczynnikowa oznacza, że

sposób wpływania danej wielkości wejściowej na wielkość wyjściową silnie zależy od innego czynnika

sposób wpływania danej wielkości wejściowej na wielkość wyjściową silnie zależy od innych dwóch czynników

22.

Kryterium najmniejszych kwadratów stosowane przy regresji minimalizuje

błąd maksymalny

błąd średni

sumę błędów

sumę kwadratów błędów

23.

Przy wstępnej selekcji wielkości wejściowych wykorzystuje się

plany kwadratów łacińskich

plany dwuwartościowe eliminacyjne

plany centralne kompozycyjne

metodę Taguchi

24.

Przy modelowaniu zależności liniowych wykorzystuje się

plany kwadratów łacińskich

plany dwuwartościowe

plany centralne kompozycyjne

metodę Taguchi

25.

Uwikłanie efektów to

wprowadzenie zbyt dużej liczby parametrów do modelu uniemożliwiający ich wyznaczenie

nieprawidłowy dobór układów planu uniemożliwiający odseparowanie wpływu poszczególnych czynników

niewłaściwy dobór funkcji obiektu badań (modelu regresji) uniemożliwiający dopasowanie modelu do danych

26.

Randomizacja planu jest stosowana w celu

uniezależnienia się od błędów grubych

uniezależnienia się od błędów systematycznych

uniezależnienia się od awarii sprzętu pomiarowego

27.

Do modelowania zależności silnie nieliniowych stosowane są

plany kwadratów łacińskich

plany dwuwartościowe

plany centralne kompozycyjne

metodę Taguchi

28.

Warunek sumowalności oznacza, że

model regresyjny jest sumą wielkości wejściowych

wartości wielkości wejściowych we wszystkich układach planu sumują się do stałej wartości

model regresyjny spełnia dodatkowe warunki ograniczające



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
testmini, Inżynierskie, Semestr IV, Modelowanie i optymalizacja procesów
kim, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
1 Karta analizy dokumentacji, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
Projekt nr 1, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
ktm, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
PPT Pytania, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
Przykład MTS, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
Projekt nr 2, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
kup, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
2 karta technologiczna, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
5 Karta normowania, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
7 1 KO przyklad walek, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
4b KT przyklad walek, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
duzza inzyniera, semestr IV, inżynieria procesowa, 2 koło
3 Karta instr obrobki, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
PSO RAPORT, Inżynieria Bezpieczeństwa WAT, Semestr IV, Modelowanie obiektowe, projekt
Klasyfikacja przedmiotow, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych
Zestawy z I koła z inżynierii, semestr IV, inżynieria procesowa, inżynieria procesowa
kim, Inżynierskie, Semestr IV, Podstawy procesów technologicznych

więcej podobnych podstron