BADANIE WŁAŚCIWOŚCI STATYCZNYCH BRAMEK CYFROWYCH


0x08 graphic

Laboratorium Technologii Cyfrowej i Mikroprocesorowej

Rok akad.

2010/2011

Rodzaj studiów

NZGEE

Temat ćwiczenia:

BADANIE WŁAŚCIWOŚCI STATYCZNYCH BRAMEK CYFROWYCH

Skład sekcji:

1. Herlitz Łukasz

2. Jamróz Arkadiusz

Kierunek: Elektrotechnika

Semestr: IV

Grupa: 1

Sekcja: 5

1. Wstęp:

Celem naszego ćwiczenia było zbadanie właściwości statycznych bramek cyfrowych, wykonanie pomiarów oraz sporządzenie na ich podstawie wykresów.

2. Schemat pomiarowy

0x01 graphic

3. Układ LS04

Uwe=5V, Uz=5V

Uwe=0V, Uz=5V

Uwyj [V]

Iwyj [mA]

Uwyj [V]

Iwyj [mA]

0,07

0

4,42

0

0,47

20

3,05

10

1,28

30

2,17

20

1,72

35

1,24

30

2,8

40

0,38

40

3,85

48

0,05

43,7

Wyjście podłączone do Uz Wyjście podłączone do GND

Uz=5V

Uwe [V]

Iwyj [mA]

Uwyj [V]

Iz [mA]

0

-0,13

4,46

1,2

0,5

-0,11

4,45

1,2

1

-0,1

2,4

2,5

1,5

-0,03

0,08

1,8

2

0

0,08

1,8

3

0

0,07

1,8

4

0

0,07

1,8

5

0

0,07

1,8

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

3. Układ LS14

Uwe=5V, Uz=5V

Uwe=0V, Uz=5V

Uwyj [V]

Iwyj [mA]

Uwyj [V]

Iwyj [mA]

0,16

0

4,43

0

0,47

20

3,17

10

0,6

30

2,84

20

0,66

35

2,42

30

0,73

40

1,9

40

0,91

51,2

1,28

50,6

Wyjście podłączone do Uz Wyjście podłączone do GND

Uz=5V

Uz=5V

Uwe [V]

Iwe [mA]

Uwyj [V]

Iz [mA]

Uwe [V]

Iwe [mA]

Uwyj [V]

Iz [mA]

0

-0,25

4,46

9,6

5

0

0,15

10,2

0,5

-0,22

4,46

9,6

4

0

0,15

10,2

1

-0,19

4,46

9,6

3

0

0,15

10,2

1,5

-0,17

4,46

9,6

2

0

0,15

10,2

1,7

0

0,15

10,2

1,5

0

0,15

102

2

0

0,15

10,2

1

-0,01

0,15

10,2

3

0

0,15

10,2

0,65

-0,18

4,44

9,6

4

0

0,15

10,2

0,5

-0,22

4,46

9,6

5

0

0,15

10,2

0

-0,25

4,46

9,6

Pomiar powrotny do wyznaczenia hiperboli

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

4. Układ HC14N

Uwe=5V, Uz=5V

Uwe=0V, Uz=5V

Uwyj [V]

Iwyj [mA]

Uwyj [V]

Iwyj [mA]

0

0

5

0

0,76

20

4,66

10

1,23

30

4,28

20

1,52

35

3,83

30

1,9

40

3,22

40

4,95

44,2

2,1

48,4

Wyjście podłączone do Uz Wyjście podłączone do GND

Uz=5V

Uz=5V

Uwe [V]

Iwe [mA]

Uwyj [V]

Iz [mA]

Uwe [V]

Iwe [mA]

Uwyj [V]

Iz [mA]

0

0

5

0

5

0

0

0

0,5

0

5

0

4

0

0

0

1

0

5

0

3

0

0

0,4

1,5

0

5

0,2

2

0

0

1

2

0

5

0,5

1,95

0

4,99

0,4

2,79

0

0

0,5

1,5

0

5

0,2

3

0

0

0,5

1

0

5

0

4

0

0

0

0,5

0

5

0

5

0

0

0

0

0

5

0

Pomiar powrotny do wyznaczenia hiperboli

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

Ze względu na dokładność miernika, który przy pomiarach nie wykazywał tak małych wartości, wyniki pomiarów nie pozwoliły na wykreślenie wykresu.

0x01 graphic

5. Układ HC14N

Uwe=3V, Uz=3V

Uwe=0V, Uz=3V

Uwyj [V]

Iwyj [mA]

Uwyj [V]

Iwyj [mA]

0

0

2,99

0

0,15

3

2,78

4

0,33

6

2,54

8

0,54

9

2,25

12

0,84

12

1,79

16

2,97

16,8

0,02

21,3

Wyjście podłączone do Uz Wyjście podłączone do GND

Uz=3V

Uz=3V

Uwe [V]

Iwe [mA]

Uwyj [V]

Iz [mA]

Uwe [V]

Iwe [mA]

Uwyj [V]

Iz [mA]

0

0

2,99

0

3

0

0

0

0,5

0

2,99

0

2,5

0

0

0

1

0

2,99

0

2

0

0

0

1,5

0

2,99

0,2

1,5

0

0

0,1

1,73

0

0

0

1,1

0

2,99

0

2

0

0

0

1

0

2,99

0

2,5

0

0

0

0,5

0

2,99

0

3

0

0

0

0

0

2,99

0

Pomiar powrotny do wyznaczenia hiperboli

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

Ze względu na dokładność miernika, który przy pomiarach nie wykazywał tak małych wartości, wyniki pomiarów nie pozwoliły na wykreślenie wykresu.

0x01 graphic

6. Wnioski

Poprzez wykonanie powyższego ćwiczenia zapoznaliśmy się z budowa i działaniem bramek cyfrowych produkowanych w strukturach typu TTL i CMOS. Zakres naszego ćwiczenia obejmował układy scalone których struktura zbudowana jest z sześciu inwerterów . Są to układy:

Na podstawie serii pomiarów wykreśliliśmy charakterystyki obrazujące nam właściwości badanych bramek oraz ich wzajemne porównanie. Charakterystyka IZ=f(UWE) najlepiej pokazuje różnice działania pomiędzy strukturą TTL a CMOS.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Badanie wlasciwosci statycznych
Badanie charakterystyk statycznych przetworników cyfrowych, Metrologia - laboratorium
BADANIE WŁAŚCIWOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH REGULATORÓW PID, SGGW Technika Rolnicza i Leśna, Auto
BADANIE WŁAŚCIWOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH REGULATORÓW PID 2, SGGW Technika Rolnicza i Leśna, Au
5 Badanie właściwości układów cyfrowych TTL i CMOS
Cw 07 E 01 Badanie właściwości elektrycznych kondensatora pł
Cw 02 M 04A Badanie wlasciwos Nieznany
Badanie właściwości minerałów i skał
Badanie właściwości aplikacyjnych i eksploatacyjnych powłok polimerowych - sprawozdanie, metody bada
ćw.10.Badanie właściwości łuku prądu stałego, Elektrotechnika - notatki, sprawozdania, Urządzenia el
BADANIE WŁAŚCIWOŚCI UKŁADU NERWOWEGO, dietetyka umed, fizjologia
Badanie właściwości materiałów magnetycznych –?rromagnetyki
Właściwości statyczne przetworników pomiarowych
Badanie właściwości przetworników prędkości liniowej
Doswiadczalne badanie właściwości optycznych teleskopu

więcej podobnych podstron