metrologia sprawka, laborka #1


AGH

Imię i nazwisko: Anna Stasiów

Rok szkolny 2008/09

Wydział: EiP

Automatyka i pomiar własności fizykochemicznych

Temat ćwiczenia:

Zastosowanie elektrycznych mierników analogowych oraz

własności statyczne przetworników pomiarowych

Rok studiów drugi

Semestr IV

Data wykonania ćwiczenia:

20.02.2009

Data zaliczenia sprawozdania:

Nr ćwiczenia:

1

CEL ĆWICZENIA.

Celem przeprowadzenia pomiarów jest nabycie umiejętności wykorzystywania możliwości metrologicznych mierników pomiarowych, wyznaczanie błędów pomiarowych bezpośrednich i pośrednich oraz poznanie zasadniczych rodzajów mierników elektrycznych.

1. Wyznaczanie stałej podziałki dla kilku zakresów amperomierza, woltomierza

i watomierza.

Wyznaczono stałą podziałki dla kilku zakresów przyrządów pomiarowych:

Tabela 1

Amperomierz

Zakres[A]

1

2,5

0,1

0,025

0,01

0,0025

 Klasa 0.5

Cp [A/dz]

0,02

0,05

0,002

0,00044

0,0002

0,00005

Woltomierz

Zakres[V]

1,5

3

7,5

-

-

-

 Klasa 0.5

Cp [V/dz]

0,02

0,04

0,1

-

-

-

Watomierz

Cewka prądowa

1

2

2

1

2

1

 Klasa 0.5

Cewka napięciowa

100

100

200

200

400

400

 

Cp [W/dz]

1

2

4

4

8

4

2. Pomiar napięcia stałego woltomierzem magnetoelektrycznym.

Pomiar napięcia wykonano w sposób następujący:

Pomiar wykonano za pomocą woltomierza magnetoelektrycznego podłączonego do zasilacza.

Schemat układu pomiarowego przedstawiono poniżej:

0x01 graphic

Wyniki przeprowadzonego pomiaru umieszczono w poniższej tabeli:

Klasa

Zakres pom. [V]

ΔUpmax [V]

U [V]

δp [%]

3

1,5

0,045

1,23

3,66

3

3

0,09

1,24

7,26

3

7,5

0,225

1,21

18,6

3

1,5

0,045

0,28

16,7

3

3

0,09

0,28

32,14

3

7,5

0,225

0,28

80,36

3

1,5

0,045

0,7

6,42

3

3

0,09

0,72

12,5

3

7,5

0,225

0,7

32,14

Wartości otrzymane w tabeli obliczono według następujących wzorów:

3. Pomiar pośredni rezystancji metodą techniczną.

Metoda techniczna pomiaru wartości rezystancji polega na wyznaczeniu jej wartości z praw Ohma. Celem przeprowadzenia połączono pośredniczące urządzenia pomiarowe w układ pomiarowy.

Schemat stanowiska pomiarowego przedstawia poniższy schemat.:

0x01 graphic

Wyniki przeprowadzonego pomiaru dla rezystancji zestawiono w poniższej tabeli:

L.p

U [V]

I [mA]

R [Ω]

RX [Ω]

|ΔRX| [Ω]

1

2

9

222,2

232,56

25,26

2

4

16

250

263,16

14,27

3

6

24

250

263,16

9,51

4

8

31

258,1

272,11

7,37

5

10

38

263,2

278,77

6,02

6

12

46

260,9

275,23

4,97

Wartości obliczone i zamieszczone w powyższej tabeli pomiarowej otrzymano według poniższych zależności:

Wzory użyte do obliczeń

δmv=0,5 zakres [V]=15V 0x01 graphic
[Ω]

δmA=0,5 zakres [A]=75mA

0x01 graphic
0x01 graphic

4. Wyznaczanie statycznej charakterystyki przetwornika potencjometrycznego

na drodze pomiarowej.

W celu wyznaczenia charakterystyki przetwornika zmontowano układ jak na schemacie poniżej:

0x01 graphic

Pomiarów dokonywaliśmy dla położeń ślizgacza co 10º najpierw zwiększając kąt a następnie go zmniejszając w zakresie od 0 do 270o. W drugim przypadku układ obciążyliśmy dodatkowo obciążeniem o wartości 10kΩ. Wyniki pomiarów umieszczone są w tabeli:

Układ bez obciążenia Układ z obciążeniem

Kąt

U rosn

U malej

Średnie

Kąt

U rosn

U malej

Średnie

0

0

0

0

0

0

0

0

10

0

0

0

10

0

0

0

20

1.1

1.8

1.45

20

2.8

2.1

2.45

30

3.3

3.9

3.6

30

5

3.9

4.45

40

5.24

6.1

5.67

40

6.8

5.8

6.3

50

7.6

8.4

8

50

8.9

7.6

8.25

60

9.6

10.5

10.05

60

10.9

9.5

10.2

70

11.8

12.7

12.25

70

12

11.2

11.6

80

13.7

14.7

14.2

80

13.7

12.8

13.25

90

15.7

16.7

16.2

90

15.4

14.4

14.9

100

18.2

18.7

18.45

100

17.1

15.9

16.5

110

20.3

20.6

20.45

110

18.5

17.5

18

120

22

22.8

22.4

120

20.3

19.1

19.7

130

24.1

24.7

24.4

130

21.9

20.9

21.4

140

26.2

26.8

26.5

140

23.5

22.4

22.95

150

28

28.6

28.3

150

25.5

24.4

24.95

160

30.3

30.9

30.6

160

27.4

26.2

26.8

170

32.4

33.1

32.75

170

29.3

28.1

28.7

180

34.5

35.1

34.8

180

31.1

29.9

30.5

190

36.4

37.1

36.75

190

33.2

31.9

32.55

200

38.5

39.2

38.85

200

35.3

34.2

34.75

210

40.3

41

40.65

210

37.8

36.2

37

220

42.7

43

42.85

220

40.2

38.6

39.4

230

44.7

45

44.85

230

43.2

41.3

42.25

240

47

47

47

240

46

44.2

45.1

250

49.3

49.5

49.4

250

49.5

47.6

48.55

260

51.3

51.5

51.4

260

53.4

50.7

52.05

270

53.4

53.4

53.4

270

53.4

53.4

53.4

6 Charakterystyka statyczna przetwornika :

0x01 graphic

Współczynniki a0 oraz a1 :

- bez obciążenia a0 = -2,0506 ; a1 = 0,2044

- z obciążeniem a0 = -2,344 ; a1 = 0,1935

Czułość: Bez obciążenia: 0,189 V/o , z obciążeniem 0,176 V/ o

Charakterystyka Ui ; Ur :

Bez obciążenia Z Obciążeniem

Ui= S * kąt

Ur

Kąt

Ui= S * kąt

Ur

0.00

-2.1

0

0.0

-2.344

1.91

0.0

10

1.8

-0.409

3.82

2.0

20

3.5

1.526

5.74

4.1

30

5.3

3.461

7.65

6.1

40

7.0

5.396

9.56

8.2

50

8.8

7.331

11.47

10.2

60

10.6

9.266

13.39

12.3

70

12.3

11.201

15.30

14.3

80

14.1

13.136

17.21

16.3

90

15.9

15.071

19.12

18.4

100

17.6

17.006

21.03

20.4

110

19.4

18.941

22.95

22.5

120

21.1

20.876

24.86

24.5

130

22.9

22.811

26.77

26.6

140

24.7

24.746

28.68

28.6

150

26.4

26.681

30.59

30.7

160

28.2

28.616

32.51

32.7

170

30.0

30.551

34.42

34.7

180

31.7

32.486

36.33

36.8

190

33.5

34.421

38.24

38.8

200

35.2

36.356

40.16

40.9

210

37.0

38.291

42.07

42.9

220

38.8

40.226

43.98

45.0

230

40.5

42.161

45.89

47.0

240

42.3

44.096

47.80

49.0

250

44.0

46.031

49.72

51.1

260

45.8

47.966

51.63

53.1

270

47.6

49.901

0x01 graphic

0x01 graphic

7. Wyznaczanie błędów granicznych i klas dokładności pomiaru:

Kąt

Bląd

Klasa

r=Umax/Uz

k=α/αmax

б

0

4.39

5

0

0.00

0.000

10

4.07

5

27.00

0.04

0.018

20

3.74

5

13.50

0.07

0.036

30

3.42

5

9.00

0.11

0.052

40

3.09

5

6.75

0.15

0.068

50

2.77

5

5.40

0.19

0.083

60

2.44

2.5

4.50

0.22

0.097

70

2.12

2.5

3.86

0.26

0.110

80

1.79

2.5

3.38

0.30

0.122

90

1.47

1.5

3.00

0.33

0.133

100

1.15

1.5

2.70

0.37

0.143

110

0.82

1

2.45

0.41

0.152

120

0.50

0.5

2.25

0.44

0.159

130

0.17

0.2

2.08

0.48

0.164

140

0.15

0.2

1.93

0.52

0.169

150

0.48

0.5

1.80

0.56

0.171

160

0.80

1

1.69

0.59

0.172

170

1.13

1.5

1.59

0.63

0.170

180

1.45

1.5

1.50

0.67

0.167

190

1.77

2.5

1.42

0.70

0.161

200

2.10

2.5

1.35

0.74

0.153

210

2.42

2.5

1.29

0.78

0.141

220

2.75

5

1.23

0.81

0.127

230

3.07

5

1.17

0.85

0.110

240

3.40

5

1.13

0.89

0.089

250

3.72

5

1.08

0.93

0.064

260

4.04

5

1.04

0.96

0.034

270

4.37

5

1.00

1.00

0.000

Obliczamy maksymalny błąd podstawowy ze wzoru:

0x08 graphic

= (2 - 3,82 )*100% / 53,4 = 3,4% klasa 5

Wyznaczanie kąta dla którego błąd względny б jest największy:

0x08 graphic
Dla naszych danych największą wartość występuje dla kąta 160 o



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
10.6 poprawione, semestr 4, chemia fizyczna, sprawka laborki, 10.6
Pomiary chropowatości powierzchni - sprawko 3, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
spr 8.5 obliczenia1, semestr 4, chemia fizyczna, sprawka laborki, 8.5
Labora~3, Rok I, semestr II, Rok II, Semestr I, Wytrzymałość materiałów I, laborki - materiały + spr
Pomiary średnic i odległości otworów z zastosowaniem metod numerycznych - sprawko 4, Uczelnia, Metro
metrologia sprawko
Interferencyjne pomiary długości i kąta - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
6, semestr 4, chemia fizyczna, sprawka laborki, 6.11
metrologia sprawka, AGH
sprawko z laborki
Statystyczna kontrola jakości geometrycznej wyrobów - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Pro
cw1, Semestr II, Podstawy metrologii, Sprawka
Podstawy doboru przyrządów pomiarowych - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
cw6 metrologia Sprawko cw 6
2 sprawko laborki gleba
sprawko laborki
Projektowanie i nadzorowanie sprawdzianów - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty

więcej podobnych podstron