Mechatronika ćw 3, I,II, I, MET, geometryczna, LAB, INSTR


0x08 graphic
0x08 graphic

KIERUNEK Mechatronika

Realizowany w ramach projektu „Politechnika XXI wieku” współfinansowanego ze środków Unii Europejskiej
w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

ĆWICZENIE NR 3

Podstawy pomiarów wielkości geometrycznych technika współrzędnościową

0x08 graphic

0x01 graphic

Projekt Politechnika XXI wieku współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego;

Nr umowy UDA-POKL.04.01.01-00-121/09

Podstawy pomiarów wielkości geometrycznych technika współrzędnościową

Technika współrzędnościowa polega na wyznaczeniu elementów skojarzonych na podstawie współrzędnych zmierzonych punktów leżących na powierzchni przedmiotu. Matematycznie element skojarzony jest standardowym elementem geometrycznym (prosta, okrąg, płaszczyzna, walec) najlepiej dopasowanym do wartości pomiarowych. Element skojarzony jest podstawą do wyznaczenia cech geometrycznych przedmiotu (wymiary, odchyłki kształtu i położenia). W programach obliczeniowych stosuje się następujące metody najlepszego dopasowania:

Metoda Gaussa polega obliczeniu elementu średniego. Podczas obliczeń wykorzystywana jest zasada, by suma kwadratów odległości punktów rzeczywistych od obliczonego elementu była najmniejsza.

Do pomiarów techniką współrzędnościową wykorzystywane są współrzędnościowe maszyny pomiarowe stanowiące skomplikowany układ pomiarowy, w skład którego wchodzą konstrukcja nośna, system lokalizacji punktów, systemy pomiarowe, system sterowania, komputer z oprogramowaniem sterująco- pomiarowym. Pomiary techniką współrzędnościową w przestrzeni 2D można wykonywać mikroskopem pomiarowym umożliwiającym pomiar współrzędnych punktu przedmiotu.

0x01 graphic

Rys. 1. Schemat pomiaru wałka techniką współrzędnościową; 1- tworząca rzeczywista, 2- tworząca wyznaczona (prosta skojarzona)

Przebieg ćwiczenia

0x01 graphic
(1)

0x01 graphic
(2)

0x01 graphic
(3)

0x01 graphic
(4)

0x01 graphic
(5)

0x01 graphic
(6)

0x01 graphic
(7)

 poziom istotności. Przyjąć  0,05;

r= n-1 - liczba stopni swobody

t;r - wartość statystyki t-Studenta odczytana z tablic

Literatura podstawowa

1. Kujan K.; Techniki i systemy pomiarowe w budowie maszyn: laboratorium. Wyd. Politechniki Lubelskiej, Lublin 2004

Literatura uzupełniająca

2. Instrukcja obsługi mikroskopu uniwersalnego

3. Malinowski J.; Jakubiec W. Metrologia wielkości geometrycznych. WNT W-wa 2004

0x01 graphic

1



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Mechatronika ćw 5, I,II, I, MET, geometryczna, LAB, INSTR
Mechatronika ćw 8, I,II, I, MET, geometryczna, LAB, INSTR
Mechatronika ćw 1, I,II, I, MET, geometryczna, LAB, INSTR
Mechatronika ćw 6, I,II, I, MET, geometryczna, LAB, INSTR
Mechatronika ćw 7, I,II, I, MET, geometryczna, LAB, INSTR
Wyka z ćwicz. BHP i reg.2012, I,II, I, MET, geometryczna, LAB, INSTR
druk, I,II, I, MET, geometryczna, LAB, INSTR
cw.2, II Rok, Elektrotechnika-lab
Wnioskicw4, Mechatronika, Rok II, Semestr III, Elektronika, Lab
Opracowanie koducw4 (1), Mechatronika, Rok II, Semestr III, Elektronika, Lab
open colector, Mechatronika, Rok II, Semestr III, Elektronika, Lab
cw.16, II Rok, Elektrotechnika-lab
Ćw 6 El, PW Transport, II rok, Elektrotechnika 3 lab, Cykl 2 opracowane zagadnienia
elektro7, Mechatronika, Rok II, Semestr III, Elektronika, Lab
APT LAB instr 5
Sprawko - ćw 6a, Politechnika Poznańska, Lab. Pomiary Wielkości Mechanicznych
instrukcja cw 1, II rok, II semestr, Chemia wody i powietrza
Przetwórstwo opracowane pytania MZ 2B DZ (1), Mechatronika, Rok II, Semestr III, PTS i skrawanie
ćw II

więcej podobnych podstron