spektroskopia008

spektroskopia008



16


Rys. 3. Schemat standardowego układu do pomiarów widm transmisji i odbicia z monochromatorem pryzmatycznym. Z„ Z2> ZK, Zg, Z9, Z10 - zwierciadła sferyczne; Z3, Z5> Z6, Z7, Zj j — zwierciadła płaskie, S — źródło światła — lampa halogenowa, deuterowa lub ogrzewany do świecenia pręt węglika krzemu, co — mechaniczny modulator amplitudy, Ph — fotopowielacz lub detektor półprzewodnikowy, NV — miernik fazoczuły (nanowoltomierz homodynowy), PC — jednostka sterująca (komputer), SM — napęd monochromatora. Próbka jest mocowana w części oznaczonej A (może być w kriostacie niskotemperaturowym)

0


Rys. 4. Schemat dwuwiązkowego spektrometru wykorzystującego monochromator siatkowy. S — źródło światła, WE, WY — szczeliny wejściowa i wyjściowa, G — siatka monochromatora, D — detektor, P — próbka, MZ — monochromator zwierciadlany. Linią przerywaną oznaczono wiązkę odniesienia pokonującą tę samą drogę optyczną, którą pokonuje wiązka pomiarowa przewodnikowe, np. fotodiody krzemowe oraz fotopowielacze z fotokatodami wykonanymi z różnych materiałów.

Monochromatory mogą wykorzystywać pryzmaty lub siatki dyfrakcyjne — pojedyncze lub wielokrotne. Monochromatory siatkowe, zwłaszcza z siatkami wielokrotnymi, gwarantują najlepszą zdolność rozdzielczą (aż do ułamków cm-1).

W systemie prowadzenia wiązki światła można stosować soczewki lub lustra. Soczewki są achromatyczne tylko w ograniczonym dla danego materiału zakresie, dlatego układy z lustrami są bardziej uniwersalne. Rysunek 3 przedstawia schemat układu, w którym użyto zwierciadła i monochromator pryzmatyczny. Rysunek 4 ilustruje dwuwiązkowy układ pomiarowy, w którym zastosowano monochromator siatkowy.

Pomiary w ultrafiolecie dla fal krótszych niż 0,2 pm są możliwe tylko w warunkach próżni, ponieważ fale z tego zakresu są pochłaniane przez powietrze. Schemat układu do pomiarów odbicia w zakresie

Rys. 5. (a) Aparatura do pomiarów optycznych w nadfiolecie, monochromator próżniowy z siatką i komora pomiarowa [2]. 1 — siatka wklęsła obrotowa; 2 — regulacja odległości szczelina—siatka; 3 — regulacja szerokości szczeliny; 4 — uchwyt filtrów; 5,6 — fotokomórki; 7 — lampa; 8 — próbka, (b) Aparatura do pomiarów w nadfiolecie, źródło światła — wodór lub argon. 1 — wlot gazu; 2 — katoda BaAl; 3 — złącze szkło —kwarc; 4 — anoda; 5 — szczelina wejściowa; 6 — pierścień gumowy, 7 — kapila-ra kwarcowa (1 cm x 0,3 cm); 8 — złącze pierścieniowe [2]


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Rys. 16. Schemat ideowy układu do pomiaru parametrów ruchu drgającego. Przebieg czasowy drgań swobod
skrypt121 123 SCHEMAT BLOKOWY MIERNIKA REZYSTANCJI MRO-4C 6.14. Schemat blokowy układu do pomiaru re
skrypt121 123 SCHEMAT BLOKOWY MIERNIKA REZYSTANCJI MRO-4C 6.14. Schemat blokowy układu do pomiaru re
Ui i U2 przykładane napięcia o częstotliwościach odpowiednio równych Vi i V2 Rys. Schemat blokowy uk
067 2 Rys. 7,7. Schemat przystawki Hanemanna do pomiaru mikrotwardcści: 1-penetrator, 2-uklad optycz
Rys 3. Schemat blokowy układu do wyznaczenia dynamicznej charakterystyki przestrajania modulatora FM
skan3 (5) 18 Rys. 5* Schemat laboratoryjnego urządzenia do pomiaru redukcyjności i wytrzymałości spi
IMG050 50 Rys. 4.8. Schemat układu do pomiaru częstotliwości metody figur Liaaajoue i osi y. Pewna t
skanuj0011 (247) 67 Ćwiczenie 6 Rys. 6.1. Schemat układu do pomiaru prędkości dźwięku w powietrzu Zn
2 Rys. 9.1. Schemat układu do pomiarów przepływu cieczy 18.    Rura szklana 19.
4 (305) w Rys. 3.2 Schemat układu do pomiaru wartości maksymalnej metodą średniej pochodnej G -gener
Posługiwanie się miernikami elektrycznymi Rys. 8. Schemat układu do pomiaru napięcia prądu

więcej podobnych podstron