IMG050

50

Rys. 4.8. Schemat układu do pomiaru częstotliwości metody figur Liaaajoue

i osi y. Pewna trudność może spowodować nieznajomość kierunku ruchu plamki na ekranie, co prowadzi do dwuznaczności w określaniu kata <p • Dwuznaczność tę eliminuje się przez wprowadzenie dodatkowego przesunięcia A tę do jednego z napięć.

Jeśli na przykład duża oś elipsy pochylona jest pod katem 45°, to przesunięcie fazowe między u₁ i U2 noże wynosić 45° lub 315°. Przez dodatkowe zwiększenie kata fazowego napięcia Ug o A(f<45° łączne przesunięcie zbliży się do 90° lub do 360°, a obraz na ekranie zbliży się do okręgu bądź do linii prostej.

4.4.4. Pomiar częstotliwości

Pomiar ozęstotliwości polega na porównaniu częstotliwości badanego przebiegu z częstotliwością wzorcowa napięć podawanych z generatora wzorcowego w układzie przedstawionym na rysunku 4.8.

Nieruchomy* możliwy do odczytania obraz na ekranie oscyloskopu otrzymamy wtedy, gdy stosunek częstotliwości ohu przebiegów będzie stosunkiem liczb całkowitych. Z kształtu otrzymanych figur Lissajous określa się stosunek częstotliwości obydwu przebiegów, co przy znanej częstotliwości wzorcowej pozwala znaleźć częstotliwość mierzona. Stosunek częstotliwości odpowiadającej dar.ej figurze wyznacza się metoda siecznych. Otrzymany na ekranie obraz przecina się prostymi prostopadłymi, przy czym proste należy prowadzić tak, aby nie przechodziły one przez węzły figury. Stosunek częstotliwości jest rćwny stosunkowi liczby punktów przecięcia prostych z figurami Lissajous (rys. 4.9). Wtedy

(4.10)