55097 skrypt187

194

Do najważniejszych parametrów głowicy należy rodzaj wzbudzanych fal, częstotliwość drgań własnych (0.5 -t- 12 Ml Iz) i średnica.

Oznaczenie głowicy zawiera podstawowe dane:

•    częstotliwość drgań,

•    rodzaj wzbudzanych fal (L. T. R),

•    wartość kąta załamania p w badanym materiale fdeg],

•    rzeczywiste wymiary przetwornika [mm].

Przykład oznaczenia: 1L0°20 lub II.N20 - głowica wytwarzająca fale podłużną o częstotliwości 1MHz . załamaną w stali pod kątem 0°, o średnicy przetwornika 20 mm.

Podczas wyznaczania długości pola bliskiego należy wprowadzić poprawkę średnicy według zależności:

D_sk ~ 0,97 D    (12.11)

gdzie:

D - rzeczywista średnica c [mm],

D_sk - skuteczna średnica HgTe).

2.3.3.Technika badań u 11 r a d ź w i ę k o w y c h

Wykonując pomiary defektoskopem ultradźwiękowym należy zwrócić szczególną uwagę na sposób sprzężenia głowicy ultradźwiękowej z badanym materiałem. W przypadku bardzo złego sprzężenia straty w przekazywaniu drgań na odcinku „głowica - badany materiał” i odwrotnie mogą okazać się tak znaczące, że sygnał echa nic zostanie odebrany przez przetwornik. Z tego względu podczas badań kontaktowych należy zastosować ośrodek sprzęgający akustycznie głowicę z badanym obiektem. Najczęściej stosowanymi ośrodkami sprzęgającymi są ciecze takie jak woda i różne oleje oraz niektóre materiały stałe - np.: smary' stałe.

Przedstawione sposoby wykonania pomiarów ultradźwiękowych dotyczą metody echa. wykorzystującą głowicę nadawczo-odbiorczą. W metodzie tej istotne jest uwzględnienie podwójnej odległości pomiędzy kolejnymi echami. Pomiary grubości materiału, prędkości fali i tłumienia w metodzie cienia wykonywane są w sposób analogiczny.

Przygotowanie defektoskopu polega na wyskalowaniu zakresu obserwacji oraz podziałki podstawy czasu.

Ustalenie zakresu obserwacji (ZO) ma na celu uzyskanie optymalnych parametrów defektoskopu, tak aby uzyskać wystarczającą jasność lampy oscyloskopowej oraz wyeliminować pojawienie się błędnych ech. Zakres obserwacji (ZO) należy wybrać o długości równej lub większej od grubości badanego materiału lub jej krotności w przypadku korzystania z obrazu kilku ech. W tym celu należy: