DSCF0765

DSCF0765



140


4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne

krzem o przewodnictwie typu N

elektron swobodny

nieruchomy jon o ładunku dodatnim


krzem o przewodnie

................ typu P

elektron

dziura nłep


Na zewnątrz półprzewodnik wykazuje obojętne właściwości elektryczne, ponieważ nie została w nim zachwiana równowaga pomiędzy ładunkami ujemnymi i dodatnimi.

Obce atomy wzbogacające liczbę elektronów swobodnych półprzewodnika nazywane są domieszkami donorowymi' W tym przypadku nośnikami prądu są swobodne elektrony, a taki półprzewodnik nazywa się półprzewodnikiem typu N (rys. 1).

Rys. 1. Ilustracja defektu struktury krystalicznej krzemu


Nośnikami ładunku elektrycznego w półprzewodnikach typu N są elektrony swobodne.

Półprzewodniki typu P

Jeśli w sieć krystaliczną półprzewodnika czterowarościowego, jakim jest krzem (Si), zostaną wprowadzone domieszki w postaci atomów trójwartościowego indu (In), to wszystkie trzy elektrony pasma walencyjnego atomu indu zostaną związane przez sąsiednie atomy krzemu, a w siatce krystalicznej powstaną nieobsadzo-ne obszary o ładunku dodatnim (dziury). Tak powstałe dziury mogą być wypełniane przez elektrony walencyjne z sąsiednich atomów. Wiąże się to jednak z tworzeniem następnych dziur w siatce krystalicznej krzemu. W ten sposób dziura „wędruje” przez strukturę krystaliczną półprzewodnika (rys. 1).

Na zewnątrz półprzewodnik wykazuje obojętne właściwości elektryczne, ponieważ nie została w nim zachwiana równowaga pomiędzy ładunkami ujemnymi dodatnimi.

Obce atomy absorbujące elektrony swobodne półprzewodnika nazywane są domieszkami akceptorowymi'

W tym przypadku zjawisko przewodzenia prądu polega głównie na przemieszczaniu się dziur, a taki półprzewodnik nosi nazwę półprzewodnika typu P (rys. 1).

Nośnikami ładunku elektrycznego w półprzewodnikach typu P są dziury.

Półprzewodniki słabo domieszkowane oznaczane się symbolami N~ i Po zaś półprzewodniki silnie domieszkowane oznaczane są symbolami N+ i P+. W istocie w półprzewodnikach zachodzi zarówno proces przewodnictwa samoistnego, jak i niesamoistnego. Nośniki ładunku elektrycznego występujące w przewadze (a więc elektrony w półprzewodnikach typu N i dziury w półprzewodnikach typu P) noszą nazwę nośników większościowych W odróżnieniu elektrony w półprzewodnikach typu P i dziury w półprzewodnikach typu N noszą nazwę nośników mniejszościowych.

Przewodnictwo niesamoistne (wywołane przez proces domieszkowania) wzrasta ze wzrostem koncentracji domieszek Nie jest ono zależne od temperatury.

Elementy półprzewodnikowe budowane są z warstw materiałów półprzewodnikowych o przewodnictwie typu N, Pil.

W elementach unipolarnych prąd przepływa wyłącznie przez warstwę półprzewodnika o jednym typie przewodnictwa. W elementach bipolarnych prąd przepływa przez co najmniej dwie warstwy półprzewodnika o różnych typach przewodności.

4.2.1.3 Właściwości złącza PN

Złącze PN

Złącze PN powstaje w obszarze fizycznego styku dwóch obszarów półprzewodnika o przewodnictwie typu P i przewodnictwie typu N. W miejscu styku elektrony swobodne z półprzewodnika typu N przenikają (dyfundu-ją oo strefy półprzewodnika typu P i odwrotnie, dziury z półprzewodnika typu P dyfundują w głąb pótprze-

dawać * tac. occipere ~ przyjmować


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
DSCF0764 139 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne lencyjnego) do pasma przewodzenia
DSCF0768 (2) 14; 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne nego wynika ze zjawiska przewo
DSCF0761 (2) 136 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczny Rozróżnienie układów o stałym
DSCF0762 (2) WĘ 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne nym wprowadzeniu (domieszkowani
DSCF0763 (2) 138 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektrony dla uproszczenia atomy przedstawio
DSCF0771 146 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Diody mocy Do konstrukcji diod
DSCF0772 147 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne niewielka zmiana napięcia polaryzu
DSCF0773 148 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne niem termicznym diody. Najprostszy
DSCF0774 149 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Janoda Si02 —.warstwa zaporowa Rys
DSCF0775 150 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Tab. 1. Półprzewodnikowe diody
DSCF0777 152 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczny4.2.3 Tranzystory4.2.3.1 Tranzystor
DSCF0779 154 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Charakterystyka wejściowa
DSCF0781 156 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Rys. 1. Obszar pracy tranzystora N
DSCF0783 158 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Rys. 1. Współczynniki korekcyjne p
DSCF0784 159 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne Fototranzystory Rys. 1. Charaktery
DSCF0785 160 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne 160 4.2 Półprzewodnikowe elementy
DSCF0787 (2) 162 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne 162 4.2 Półprzewodnikowe eleme
DSCF0789 (2) 164 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne pach kanałów sterowanych ze ws
DSCF0791 (2) 166 4.2 Półprzewodnikowe elementy i układy elektroniczne4.2.3.3 Obudowy tranzystorów i

więcej podobnych podstron