Badanie właściwości impulsowych tranzystora v4, POLITECHNIKA LUBELSKA w LUBLINIE


POLITECHNIKA LUBELSKA w LUBLINIE

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI

Ćwicz. nr 2

TEMAT:

BADANIE WŁAŚCIWOŚCI IMPULSOWYCH TRANZYSTORA

DATA:

1997.02.21

WYKONAŁ:

Bober Dariusz

GRUPA:

ED 4.1

OCENA:

Cel ćwiczenia.

W ćwiczeniu mamy zapoznać się z charakterem pracy tranzystora zastosowanego jako przełącznik. Mamy określić punktypracy tranzystora, odpowiadające granicy stanu zatkania i granicy stanu nasycenia. Badamy pracę tranzystora w układzie przełączającym, oraz wpływ stosowanych w praktyce układów, które mają na celu korekcję przebiegu wyjściowego.

Wykonanie ćwiczenia.

1. Wyznaczanie wartości prądu bazy na granicy nasycenia.

Po połączeniu układu jak na rys.1, przystąpiliśmy do pomiaru.

Rys.1 Układ pomiarowy do wyznaczania prądu bazy w funkcji współczynnika przesterowania.

dla napięcia, w zasilaczu Z1, U= 0V odczytaliśmy z oscyloskopu O napięcie kolektor-emiter:

    1. UCEodc=11,10 V

    2. zmieniliśmy wartość napięcia zasilacza tak, aby UCE=0,5V, następnie odczytaliśmy wartość prądu bazy:

Ibmin=118*10-3A

2.Wyznaczanie wartości napięć sterujących przy których współczynnik przesterowania osiąga założona wartości.

Korzystamy z układu pomiarowego jak w punkcie pierwszym. Regulując napięcie zasilacza dążyliśmy do takich wartości napięć przy których współczynnik przesterowania przyjmował podane w tabeli nr1 wartości:

Tabela nr1.

KF

IB

UZ

-

mA

V

1

118

0,50

2

236

0,88

4

572

1,91

8

1144

3,76

16

2288

7,20

3. Praca tranzystora w układzie przełącznika

Praca przy sterowaniu napięciem jednobiegunowym.

Po połączeniu układu jak na rys.2, przystąpiliśmy do pomiaru:

Rys.2 Układ pomiarowy do wyznaczania czasów charakteryzujący pracę dynamiczną tranzystora.

posługując się danymi z tabeli nr1 regulowaliśmy amplitudę napięcia z generatora impulsowego tak, aby uzyskać kolejno wartości współczynnika przesterowania podane w tabeli nr1. Dla każdej z tych wartości odczytaliśmy:

- czas opóźnienia td,

- czas narastania tn,

- czas przeciągania tp,

- czas opadania to,

wyniki zawiera tabela nr2:

Tabela nr2:

KF

UZ

td

tn

tp

to

-

V

ns

ns

ns

ns

1

0,50

0

16*104

0

12*104

2

0,88

0

4,2*104

1,2*104

9,2*104

4

1,91

0

1,6*104

3*104

9,6*104

8

3,76

0

0,08*104

4,4*104

10*104

16

7,20

0

0,04*104

6*104

10,4*104

na podstawie tabeli nr2 wykreśliliśmy zależności czasów jako f(K), wykres przedstawiony jest na rys.6.

3.2. Praca przy sterowaniu napięciem jednobiegunowym. Badanie wpływu pojemności przyśpieszającej na czasy przełączania tranzystora.

Po połączeniu układu przedstawionego na rys.3 przystąpiliśmy do przeprowadzenia pomiarów:

Rys.3 Układ pomiarowy do określania wpływu pojemności przyśpieszającej na czasy przełączania tranzystora.

dla pojemności kondensatora CB=100pF, zachowując warunki jak w punkcie 3.1 zmierzyliśmy:

- czas opóźnienia td,

- czas narastania tn,

- czas przeciągania tp,

- czas opadania to,

b) te same pomiary przeprowadziliśmy dla pojemności kondensatora CB=500pF

Wyniki pomiarów zawarte są w tabeli nr3:

Tabela nr3:

CB

KF

td

tn

tp

to

pF

-

ns

ns

ns

ns

1

0

12*104

0*104

5,2*104

2

0

2*104

0,4*104

4*104

100

4

0

0,6*104

1*104

1,4*104

8

0

0,4*104

1,2*104

0,8*104

16

0

0,2*104

1,2*104

0,4*104

1

0

3,2*104

0*104

2,4*104

2

0

1,6*104

0,4*104

1,6*104

500

4

0

1,2*104

0,6*104

1,2*104

8

0

0,6*104

0,8*104

0,8*104

16

0

0,2*104

0,8*104

0,2*104

na podstawie tabel nr2 i nr3, na rys.7 przedstawiliśmy wykres zależności: td=f(K), tn=f(K), tp=f(K), to=f(K), dla trzech wartości pojemności kondensatora CB

CB=0pF

CB=100pF

CB=500pF

Praca przy sterowaniu napięciem jedno biegunowym. Badanie wpływu polaryzacji zaporowej bazy.

Wyznaczanie wartości prądu wejściowego obwodu sterującego na granicy nasycenia tranzystora.

Po połączeniu układu jak na rys.4 przystąpiliśmy do pobrania pomiarów:

Rys.4 Układ pomiarowy do wyznaczania prądu wejściowego w funkcji współczynnika przesterowania.

do rezystora służącego do dodatkowej polaryzacji dołączyliśmy zasilanie zewnętrzne o napięciu dodatnim EB=5V

dla wartości napięcia na zasilaczu Z1, U=0V, odczytaliśmy z oscyloskopu napięcie :

UCEodc=10,9V

zmieniając wartość napięcia zasilacza tak, aby UCE=0.5V, odczytaliśmy wartość prądu wejściowego obwodu sterującego:

IWEmin=0,109mA

Wyznaczanie wartości napięć sterujących przy których współczynnik przesterowania osiąga założone wartości.

Wykorzystując powyższy układ, dobieramy napięcie zasilacza tak, aby prąd wejściowy obwodu osiągał podaną w tabeli nr5 wielokrotność IWEmin, jednocześnie otrzymane wartości prądów i napięć notując w tabeli nr4:

Tabela nr4:

KF

IWE

UZ

-

mA

V

1

0,109

0,61

2

0,218

0,87

4

0,436

2,09

8

0,872

3,1

16

1,744

6,07

Wyznaczanie wartości czasów przełączania.

Po połączeniu układu jak na rys.5, przystąpiliśmy do przeprowadzenia pomiarów:

Rys.5 Układ pomiarowy do określania wpływu dodatkowej polaryzacji na czasy przełączania tranzystora.

posługując się danymi z tabeli nr4 regulowaliśmy amplitudę napięcia z generatora impulsowego tak, aby uzyskiwać kolejno wartości współczynnika przesterowania, dla każdej z tych wartości odczytaliśmy czasy przełączania tranzystora. Wyniki zawarte są w tabeli nr5:

Tabela nr5:

KF

UZ

td

tn

tp

to

-

V

ns

ns

ns

ns

1

0,61

0

12*104

0,4*104

6,4*104

2

0,87

0

7,2*104

0,8*104

6*104

4

2,09

0

2,4*104

0,8*104

3,6*104

8

3,1

0

1,4*104

2*104

2,8*104

16

6,07

0

0,6*104

3*104

1,6*104

na podstawie tabel nr2 i nr5 wykreśliliśmy zależności czasów przełączania tranzystora w funkcji f(K) współczynnika przesterowania. Wykresy przedstawione są na rys.8.

0x01 graphic

4. Wnioski.

* przesterowanie tranzystora poprawia czas narastania, odbywa się to kosztem czasu przeciągania.

* rys.6 ; przebieg czasu opadania nie przedstawia faktycznej zależności od współczynnika przesterowania, powinna być linia przerywana. Jest to wynikiem błędnego odczytu z skali oscyloskopu. Podobne przebiegi powinny być zaznaczone na pozostałych wykresach.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Materiałoznawstwo, Badanie właściwości materiałów i przyrządów półprzewodnikowych, POLITECHNIKA LUBE
Badanie charakterystyk statycznych tranzystora v4, Politechnika Lubelska
Laborki z elektroniki, ED 4 - Badanie właściwości impulsowych tranzystora, Politechnika Lubelska
Badanie właściwości impulsowych tranzystora11, Politechnika Lubelska_
Ćw. 2 - Badanie właściwości impulsowych tranzystora, Politechnika Lubelska
Badanie właściwości impulsowych tranzystora 2, Politechnika Lubelska
Badanie właściwości impulsowych tranzystora 1, Politechnika Lubelska
Ćw. 2 - Badanie właściwości impulsowych tranzystora, POLITECHNIKA LUBELSKA
Ćw. 2 -Badanie właściwości impulsowych tranzystora, Politechnika Lubelska
Laborki z elektroniki, ED 4 - Badanie scalonego wzmacniacza prądu stałego(3), POLITECHNIKA LUBELS
Badanie charakterystyk statycznych tanzystora v2, POLITECHNIKA LUBELSKA w LUBLINIE
Badanie kabla wysokiego napięcia v4, POLITECHNIKA LUBELSKA
Badanie kabla wysokiego napięcia v4, POLITECHNIKA LUBELSKA
Badanie właściwości mostków czterogałęźnych v3, POLITECHNIKA LUBELSKA
Badanie właściwości mostków czterogałęźnych v2, POLITECHNIKA LUBELSKA
Badanie instalacji niskiego napięcia.DOC, POLITECHNIKA LUBELSKA w Lublinie
Badanie właściwości impulsowych tranzystora v2, SPRAWOZDANIA czyjeś
Badanie właściwości impulsowych Tranzystora, SPRAWOZDANIA czyjeś
Laborki z elektroniki, ED 4 - Badanie scalonego wzmacniacza prądu stałego(2), POLITECHNIKA LUBELS

więcej podobnych podstron