Ćwiczenie nr 42
BADANIE ZŁOŻENIA ELEKTRYCZNYCH DRGAŃ HARMONICZNYCH POPRZEZ OBSERWACJĘ KRZYWYCH LISSAJOUS
Przebieg ćwiczenia
Wyznaczanie częstotliwości sygnału pochodzącego z nieznanego generatora.
Zmontować układ pomiarowy według schematu.
Obniżone za pomocą transformatorka dzwonkowego napięcie sieciowe Ux dołączamy do płytek odchylania poziomego oscyloskopu. Do płytek odchylania pionowego dołączamy generator sygnałów o zmiennej częstotliwości νy, będący źródłem napięcia Uy.
Po włączeniu napięć zasilających dobrać odpowiednie wzmocnienie torów X i Y oscyloskopu (czyli wielkość obrazu na ekranie) oraz odpowiednią jasność i ostrość obrazu. Podstawa czasu oscyloskopu musi być wyłączona.
Odrysować z ekranu oscyloskopu 15 różnych krzywych Lissajous, odpowiadających różnym częstotliwościom sygnałów z generatora.
Uwaga. Ze względu na ewentualną niewystarczającą stabilność aparatury elektronicznej oraz niewielkie fluktuacje częstotliwości mierzonych napięć, obraz krzywych Lissajous może ustawicznie zmieniać się w doświadczeniu. Należy zobrazować najprostszą postać figury Lissajous i przerysować ją do karty pomiarowej.
Opracowanie wyników
Dla każdej z 15 krzywych Lissajous zarejestrowanych w punkcie 4 określić liczby przecięć Nx z prosta równoległą do osi X oraz liczbę przecięć Ny z prostą równoległą do osi Y. Proste równoległe do osi X i Y nie mogą być styczne do krzywej i nie mogą przechodzić przez punkty, w których krzywe Lissajous przecinają się.
Korzystając ze wzoru:
wyznaczyć częstotliwość sygnału generowanego przez generator dla każdej z krzywych Lissajous, zarejestrowanych w punkcie 4. Przyjmując, że napięcie w sieci, wykorzystywane w tym ćwiczeniu jako sygnał o znanej częstotliwości) posiada częstotliwość νx=50Hz.
Obliczyć niepewności wyznaczenia każdej z częstotliwości generowanej przez generator.
Zagadnienia
Drgania harmoniczne proste, składanie drgań, krzywe Lissajous, lampa oscyloskopowa-budowa i zasada działania.
Literatura
Szydłowski, Pracownia Fizyczna
R. Resnick, D. Halliday, Fizyka, t.2
Uniwersytet Śląski, Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach, Katedra Materiałoznawstwa