33 Algorytmy zapewnienia jakości i niezawodności mikrosyst

background image

33. Algorytmy zapewnienia

jakości i niezawodności

mikrosystemów

.

Ireneusz Bylica

background image

Niezawodność

Niezawodność - jest to właściwość obiektu
mówiąca o tym, czy pracuje on poprawnie

(spełnia

wszystkie powierzone mu funkcje i czynności)
przez wymagany czas i w określonych

warunkach

eksploatacji (w danym zespole czynników
wymuszających).

background image

Niezawodność

( )

{

}

Pr

R t

t t

=

Niezawodność obiektu jest określona

przez prawdopodobieństwo

wystąpienia zdarzenia opisanego

definicją

Gdzie:

• R(t) – niezawodność
• t – czas pracy bez uszkodzenia
• – założony (wymagany) czas pracy bez

uszkodzenia

background image

Niezawodność

Jednym ze sposobów charakteryzowania

zdolności do spełnienia wymagań jest

podanie prawdopodobieństwa, że obiekt,

który spełnia wymagania przy danym t, np.

w danej chwili t, w następnym przedziale

Δt przestanie je spełniać.

background image

Niezawodność

Rozważa się, jaka część obiektów, które nie uległy

uszkodzeniu w przedziale (0, t), prawdopodobnie

stanie się niezdatna (niesprawna) w przedziale (t,

t+dt).

Tę niezdatną część obiektów oznacza się przez

λ(t)dt.

Zaś λ(t) nazywa się funkcją ryzyka, funkcją

intensywności ubywania lub funkcją intensywności

uszkodzeń.

background image

• Gdy λ(t) zwiększa się, intensywność uszkodzeń zwiększa się,

niezawodnościowe właściwości obiektów pogarszają się.

• Gdy λ(t) maleje, niezawodnościowe właściwości obiektów

polepszają się. W każdym następnym przedziale Δt ubywa

mniejszy procent obiektów niezdatnych ze zbioru zdatnych.

Niezawodność

background image

Naprawialność -

prawdopodobieństwo

przywrócenia prawności obiektowi w

określonym czasie (0, τ) jest miarą

naprawialności. W przypadku ogólnym

naprawialność zależy od właściwości samego

obiektu i od warunków w jakich przywraca mu

się sprawność.

Niezawodność

background image

Niezawodność

Kres życia obiektu przychodzi, gdy nie przywraca

się jego sprawności. Obiektowi nie przywraca się

sprawności ze względów ekonomicznych, a także

nieracjonalnych (np. ze względów na możliwości,

modę, gust, estetykę, obyczaje i inne).

Obiekty, którym nie przywraca się utraconej

sprawności, nazywa się obiektami

nienaprawialnymi (np. mikrosystemy, układy

scalone). Kres życia takiego obiektu nadchodzi z

chwilą zjawienia się pierwszej niesprawności.

background image

Niezawodność obiektu nienaprawialnego, zdefiniowana

jako prawdopodobieństwo przeżycia, określają funkcje

R(t), λ(t) lub f(t) lub parametry tych funkcji, przy czym:

• R(t) – funkcja niezawodności
• λ(t) – funkcja intensywności uszkodzeń
• f(t) – funkcja gęstości prawdopodobieństwa, która opisuje

rozkład trwałości obiektów

Niezawodność obiektu może być scharakteryzowana również

przez zbiór danych z obserwacji zbioru obiektów lub

otrzymanych z prób niezawodności obiektów.

Niezawodność

background image

W teorii i inżynierii niezawodności przyjmuje się, że

funkcją, która najlepiej charakteryzuje zmiany

niezawodności dowolnego obiektu technicznego

jest funkcja intensywności uszkodzeń λ(t). Z jej

przebiegu można wyciągnąć wiele wniosków

natury teoretycznej i praktycznej, a także

wyznaczyć:

funkcję niezawodności

Niezawodność

background image

funkcję zawodności (dystrybuantę)

funkcję gęstości prawdopodobieństwa

Niezawodność

background image

Niezawodność

background image

Znajomość przebiegu funkcji λ(t) umożliwia

producentowi i użytkownikowi, podejmowanie

ważnych decyzji praktycznych w zakresie:

• ustalania niezbędnych okresów starzenia wstępnego

produkowanych obiektów

• ustalenia wielkości i asortymentu części zamiennych
• planowania optymalnej pracy serwisu technicznego, służb

remontowych

• ustalenia optymalnych okresów wymian profilaktycznych

elementów i zespołów

• ustalania optymalnych okresów eksploatacji obiektów
• innych działań techniczno-ekonomicznych (okres gwarancji)

Niezawodność

background image

W wielu przypadkach eksperymentalne przebiegi

funkcji λ(t) można aproksymować funkcjami

analitycznymi (teoretycznymi rozkładami

prawdopodobieństwa jak np. rozkładem

wykładniczym, beta, Weibulla lub kompozycją tych

rozkładów).

Rzeczywiste przebiegi funkcji λ(t) konkretnego

obiektu, zależnie od przyjętej strategii

eksploatacji, mogą być bardzo różne i mogą być

celowo kształtowane.

Niezawodność

background image

Jednym z najprostszych modeli probabilistycznych

czasu zdatności obiektu nieodnawialnego jest

zmienna losowa T, której intensywność uszkodzeń

jest stała, tzn. niezależna od czasu

Rozkład wykładniczy

Niezawodność

background image

Charakterystyki funkcyjne rozkładu wykładniczego

Niezawodność

background image

Rozkład Weibulla jest bardziej ogólny niż

wykładniczy. Jest on stosowany, gdy intensywność

uszkodzeń jest zmienną o przebiegu

monotonicznym. Rozkładem tym opisuje się

między innymi trwałość zmęczeniową materiałów i

konstrukcji mechanicznych. Intensywność

uszkodzeń określa wzór

Niezawodność

background image

Rozkład Weibulla

Gdy

• 

 – otrzymuje się rozkład

wykładniczy

• 

 – otrzymuje się rozkład Reyleigha

Niezawodność

background image

Charakterystyki funkcyjne rozkładu:

•  – wykładniczego ( 

•  – Rayleigha (   

 

• 3 – o malejącej intensywności

uszkodzeń (

• 4 - o rosnącej intensywności
uszkodzeń (    

3 

 3

Niezawodność

background image

Rozkład normalny

Niezawodność

background image

Charakterystyki funkcyjne rozkładu normalnego

Niezawodność

background image

Niezawodność w IC

PowerPC 970

 miliony

tranzystorów

background image

Procesor

Ilość

tranzystorów

Rok produkcji

Intel 44

3

97

Intel 88



97

Intel 88

4

974

Intel 888

9 

979

Intel 886

34 

98

Intel 8386

7 

98

Intel 8486

  

989

Pentium

3  

993

AMD K

4 3 

996

Pentium II

7  

997

AMD K6

8 8 

997

Pentium III

9  

999

AMD K6-II

 3 

999

Niezawodność w IC

background image

Procesor

Ilość

tranzystorów

Rok produkcji

AMD K7

  

999

Pentium 4

4  



Itanium

  



Barton

4 3 

3

AMD K8

 9 

3

Itanium 

  

3

Itanium  z 9MB cache

9  

4

Cell

4  

6

Core  Duo

9  

6

Core  Quad

8  

6

Dual-Core Itanium 

 7  

6

Niezawodność w IC

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

background image

Z jednego podłoża krzemowego

można uzyskać nawet kilkaset

mikrostruktur

Niezawodność w
mikrosystemach

background image

Technologie stosowane w produkcji mikrosystemów

korzystają z wielu technik znanych z produkcji

układów scalonych. Z tego powodu algorytmy

stosowane do zapewnienia ich niezawodności są

podobne. Algorytmy te obejmują:

• pomiary międzyoperacyjne
• wytwarzanie struktur próbnych i testowych
• pomiary ostrzowe
• pomiary końcowe

Niezawodność w
mikrosystemach

background image

Pomiary międzyoperacyjne

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiędzy

ważniejszymi

etapami

technologicznymi przeprowadza się pomiary
dostarczające

informacji

o

wynikach

bieżących

procesów

technologicznych.

Pozwala to np. ocenić głębokość wnikania
domieszki po procesie implantacji i na tej
podstawie poprawiać parametry danego
procesu (a co za tym idzie – gotowych
struktur) w przyszłości.

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

W skład każdej struktury próbnej wchodzą
elementy składowe umożliwiające ocenę
poszczególnych procesów technologicznych
oraz zależności między tymi procesami.
Umożliwiają one określenie m.in.. napięcia
przebicia

złącza

p-n,

upływności,

rezystywności powierzchniowej, itp.

Struktury próbne

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiary ostrzowe

Przeprowadza się je przed podziałem płytki na
poszczególne struktury. Elementy wadliwe
oznaczane są kroplą barwnego tuszu. Po
operacji podziału są usuwane w trakcie
selekcji

optycznej.

Usuwane

także

struktury o wadliwej geometrii (np. pęknięte
przy podziale).

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiary ostrzowe

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiary końcowe

Po montażu i hermetyzacji w ramach pomiarów końcowych
przeprowadza się testy mechaniczno-klimatyczne. Stosuje się
następujące wymuszenia:

• wysoka temperatura

• niska temperatura

• duża wilgotność względna

• niskie ciśnienie

• cykle temperaturowe

• mgła solna

• wibracje

• udary

• stałe przyspieszenie

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiary końcowe

Rodzaje prób zależą od przeznaczenia elementów i
wymaganego poziomu jakości:

• elementy standardowe

• elementy profesjonalne

• elementy o podwyższonej niezawodności

• elementy do zastosowań specjalnych

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiary końcowe

Pomiary w grupie A obejmują sprawdzenie:

• wymiarów

• oznakowań

• podstawowych parametrów elektrycznych

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiary końcowe

Pomiary w grupie B dodatkowo obejmują:

testy

mechaniczno-klimatyczne

(wytrzymałość

mechaniczna wyprowadzeń, szczelność, lutowność, udary
wielokrotne, spadki temperatury, itp.)

sprawdzenie odporności na narażenia elektryczne
(polaryzacja wsteczna, obciążenie większą mocą itp.)

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiary końcowe

Pomiary w grupie C to dodatkowe testy selekcyjne:

• cykle temperaturowe
• krótkotrwałe udary i wibracje
•kontrola szczelności
•praca w warunkach granicznych
•wygrzewanie

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiary końcowe

Pomiary w grupie D pozwalają określić niezawodność
przy pracy w warunkach specjalnych. Ich rodzaj
zależy od narażeń środowiskowych jakim będzie
poddany mikrosystem. Testy te mogą badać np.
odporność na pleśń, mgłę solną, itp.

background image

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiary końcowe

W pomiarach końcowych stosuje się także:

mikroskopię w podczerwieni (lokalizacja
naprężeń)
radiometrię w podczerwieni (otrzymana mapa
rozkładu temperatury na powierzchni płytki pozwala
ocenić jakość połączeń, kontaktów, zlokalizować rysy
i pęknięcia)

mikroskopię elektronową
metody rentgenograficzne

background image

Dla losowej próbki obiektów przeprowadza się badania
statystyczne. Na ich podstawie wnioskować można o słuszności
określonych hipotez statystycznych (np. prawdopodobieństwa
wystąpienia zdarzenia losowego) oraz estymacji nieznanych
wartości chwilowych rozkładu funkcji niezawodności.

Wyróżnia się dwie grupy badań statystycznych:

metody

nieparametryczne

o

charakterystyce

probabilistycznej

zdarzenia

losowego

wnioskuje

się

bezpośrednio

metody parametryczne – charakterystyki probabilistyczne

wyznacza się pośrednio przez wyznaczenie z doświadczalnych

charakterystyk probabilistycznych określonych parametrów

Niezawodność w
mikrosystemach

Pomiary statystyczne

background image

Jakość

pewien stopień doskonałości”

Platon

Cyceron tworząc łaciński termin filozoficzny dla

określenia greckiego pojęcia, wprowadził słowo

qualitas , które przeszło do niektórych języków

romańskich i germańskich, np. quality w języku

angielskim.

background image

Jakość

•Zgodność z celem.

•Zgodność ze specyfikacją czyli zero braków.

•Stopień doskonałości wyrobu lub usługi.

•Zespół cech i charakterystyk wyrobu lub usługi,
które noszą w sobie zdolność zaspokojenia
określonej potrzeby.

•Właściwość jednostki odnosząca się do jej
zdolności zaspokojenia wymagań jakościowych.

background image

Jakość

•Strata jaką produkt wyekspediowany na rynek powoduje
w

społeczeństwie,

różna

od

jakiejkolwiek

straty

spowodowanej przez funkcję wewnętrzną wyroby (wg.
Genichi Tahuchiego)

•Wielkość odwrotnie proporcjonalna do zmienności pewnej
charakterystyki liczbowej / mierzalnej przedmiotu (wg.
Douglasa C. Montgomerego)

Współcześnie definicje kładą większy nacisk na

społeczne aspekty jakości, a konkretnie odnoszą się

do jakości produktu i jego wartości użytkowej.

background image

Cechy jakości produktu

Funkcjonalność:

Funkcjonalność:

użyteczność – stopień realizacji oczekiwanych

funkcji

praktyczność – komfort użytkowania, łatwość

obsługi

niezawodność - zdolność do pracy

bezusterkowej

trwałość – okres zachowania cech użytkowych
bezpieczeństwo użytkowania

background image

Cechy jakości produktu

Satysfakcjonowanie:

Satysfakcjonowanie:

ekskluzywność – prestiż nabywcy związany z

posiadaniem produktu lub jego marką

estetyczność pozytywne odczucia osobiste

prezentacja – forma zaoferowania (warunki

sprzedaży: otoczenie, obsługa, sposób dostawy,
opakowanie, certyfikaty, referencje)

Koszt nabycia

Koszt nabycia

background image

Metody i techniki sterowania
jakością

Diagram przyczynowo skutkowy Ishikawy –

graficzna reprezentacja analizy wzajemnych
powiązań przyczyn wywołujących problem.

background image

Metody i techniki sterowania
jakością

Przyczyny 5M:

Przyczyny 5M:

człowiek (Man)

materiał (Material)

sprzęt/maszyna (Machine)

stosowana metoda (Method)

kierownictwo (Management)

background image

Metoda ABCD Suzuki

Metoda ABCD Suzuki – jest stosowana w

sytuacji,

gdy nie wiadomo, które z przyczyn mają

większy, a

które mniejszy, a nawet minimalny wpływ na
rozpatrywaną kwestię.

Metody i techniki sterowania
jakością

background image

Etapy metody:

Etapy metody:

uporządkowanie przyczyn
sporządzenie

oraz

wypełnienie

tabeli

indywidualnych wyborów rangi

sporządzenie oraz wypełnienie tabeli zbiorczej
uszeregowanie przyczyn według rangi

Metody i techniki sterowania
jakością

background image

Diagram Pareto – jest narzędziem umożliwiającym
hierarchizację czynników wpływających na badane

zjawisko

Tryb postępowania:

Tryb postępowania:

Określenie liczy przyczyn
Wybranie kategorii wpływającej na analizowane zjawisko
Określenie przedziały czasowego analizy
Zgromadzenie danych
Tworzenie tabel, skalowanie osi
Tworzenie wykresów słupkowych w porządku malejącym
Obliczenie i naniesienie na wykres wartości skumulowanych
Dokonanie analizy wykresu

Metody i techniki sterowania
jakością

background image

Metody i techniki sterowania
jakością

Diagram Pareto

Diagram Pareto

background image

Metody i techniki sterowania
jakością

FMEA – analiza skutków i przyczyn potencjalnych

błędów.

Pozwala na

Pozwala na

:

:

Rozpoznanie i ocenę potencjalnych błędów,

mogących wystąpić w wyrobie lub procesie oraz
skutków ich wystąpienia

Identyfikacje działań, które mogłyby wyeliminować

lub przynajmniej ograniczyć szansę wystąpienia
potencjalnych błędów

Dokumentacje procesu

background image

Etapy:

Etapy:

Identyfikacja wszystkich elementów wyrobu lub

funkcji rozpatrywanego procesu w kolejności
technologicznej

Sporządzenie listy możliwych błędów
Przygotowanie listy prawdopodobnych skutków tych

błędów

Opracowanie listy przyczyn możliwych błędów i

prawdopodobieństwa ich wykrycia

Przyporządkowanie możliwym błędom wartości

ryzyka

Metody i techniki sterowania
jakością

background image

Metody statystyczne:

Metody statystyczne:

SPC (Statistical Process Control)
Karta kontrolna
Arkusze analityczne
Histogramy
Analiza wariancji (ANOVA)

Metody i techniki sterowania

Metody i techniki sterowania

jakością

jakością


Document Outline


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
33 Algorytmy zapewnienia jakości i niezawodności mikrosystem
33 Algorytmy zapewnienia jakości i niezawodności mikrosystem
Sytemy zapewnienia jakości`, Systemy Zapewnienia Jakości, Systemy Zapewnienia Bezpieczeństwa Zdrowot
Metody zapewniania jakości opieki zdrowotnej
4 Zapewnienie jakości i DPL
22(45) Zapewnienie jakości oprogramowaniaid 29565 ppt
Projekt plan zapewnienia jakości (2)
rozwój norm dotyczących systemów zapewnienia jakosci, Marketing
Systemy Zapewnienia Jakosci Wyklady

więcej podobnych podstron