ELEK TTL 3 5

background image

Elektronika

Stosowana

Układy cyfrowe

background image

Klasyfikacja układów

cyfrowych

• ze względu na sposób przetwarzania

informacji

• ze względu na technologie w jakiej

wykonano bramki logiczne

• ze względu na stopień scalenia

background image

Ze względu na sposób

przetwarzania informacji rozróżnia

się dwie główne klasy układów

logicznych:

• układy sekwencyjne

• układy kombinacyjne

komentarz

background image

Ze względu na technologie w

jakiej wykonano bramki logiczne:

bipolarne

TTL (ang. Transistor-Transistor Logic)

ECL (ang. Emitter Coupled Logic)

I²L (ang. Integrated Injection Logic)

unipolarne

NMOS i PMOS

CMOS (ang. Complementary MOS)

background image

Ze względu na stopień

scalenia:

SSI- Mały stopień scalenia (bramki logiczne, przerzutniki)-

liczba bramek do 10, liczba elementów do 100

MSI- Średni stopień scalenia (multipleksery, dekodery,

liczniki, rejestry)- liczba bramek 10-100, liczba elementów
100-1000

LSI- Duży stopień scalenia (pamięci, mikroprocesory)-

liczba bramek 100-10000 , liczba elementów 1000-100000

VLSI- Bardzo duży stopień scalenia- liczba elementów

>100000

background image

ZASADNICZE PARAMETRY

CYFROWYCH UKŁADÓW

SCALONYCH

• szybkość działania

• moc strat

• odporność na zakłócenia

• zgodność łączeniowa i

obciążalność

background image

Szybkość działania

Podstawową miarą szybkości działania

układu cyfrowego jest czas propagacji tp,

natomiast w układach sekwencyjnych,

częstotliwość impulsów sterujących

komenta
rz

background image

UCC- napięcie zasilania, ICC- prąd zasilania, UI(UO)-

napięcie wejściowe (wyjściowe),

background image

UT- umowny poziom napięcia odpowiadający zmianie stanu logicznego

background image

Moc strat

• Moc strat P układu określa się jako P=UCCICC ,

gdzie UCC jest napięciem zasilającym i ICC jest

prądem pobieranym ze źródła zasilania. Moc strat

można określić dla dwóch stanów logicznych na

wyjściu, można określić moc PL= UCCICCL (przy

poziomie niskim na wyjściu) i PH= UCCICCH (przy

poziomie wysokim na wyjściu).

• Moc średnią przy danym okresie przełączeń T =

twOL + twOH można w przybliżeniu określić jako:

background image

Zależności średniej mocy strat P pojedynczej bramki od częstotliwości

background image

Odporność na zakłócenia

Wartość odporności na zakłócenia w określonym stanie na

wejściu to

maksymalna amplituda sygnału, która oddziałując na to

wejście nie

spowoduje niepożądanej zmiany stanu wyjściowego. Ze

względu na

czas trwania impulsów zakłócających, zakłócenia dzielimy na:

– dynamiczne- czas trwania impulsu jest mniejszy

od czasu propagacji

– statyczne- czas trwania impulsu jest dłuższy od

czasu propagacji

background image

Miarą odporności układu scalonego na działanie
zakłóceń jest margines zakłóceń statycznych i margines
zakłóceń dynamicznych.

Zależność amplitudy impulsu zakłócającego od czasu trwania
impulsu (margines zakłóceń dynamicznych):

background image

Zgodność łączeniowa i

obciążalność

Obciążalność Nmax jest to miara ilości wejść układów

tej samej serii, które mogą być jednocześnie

przyłączone do jednego wyjścia.

W układach scalonych TTL jest ona standardowo

równa 10

background image

Inwerter obciążony n
inwerterami

Opóźnienie propagacji

dla

różnych obciążalności n

background image

W dalszej części

prezentacji zajmiemy się

układami TTL, CMOS,

BiCMOS oraz starszymi

rodzinami układów

background image

Układ TTL- Standard

background image

Rodziny układów bipolarnych

TTL

komentar
z

Fast TTL

74F

Szybki TTL

Advanced Low Power

Schottky TTL

74ALS

Rozszerzony Scottky

TTL o niskim

poborze prądu

Low Power Schottky

TTL

74LS

Schottky TTL o

niskim poborze

prądu

Advanced Schottky

TTL

74AS

Rozszerzony

Schottky TTL

Schottky TTL

74S

Wersja Schottky TTL

Standard TTL Version

74

Wersja podstawowa

TTL

background image

Zasadnicze parametry układów

TTL

background image

Schemat bramki NAND z serii

standardowej TTL

background image

Układy logiczne CMOS

background image

Rodziny układów logicznych CMOS

• 4000 (najstarsza z rodzin CMOS)
• 74C
• 74HC, 74 HC4000
• 74HCT
• ACL (AC- poziom CMOS, ACT- poziom TTL)
• FCT
• AHC- Advanced High- Speed CMOS

komentarz

background image

Zasadnicze parametry

układów logicznych CMOS

background image

Rodziny układów logicznych

BiCMOS

• BCT
• ABT

komentarz

background image

Starsze rodziny układów

logicznych

• ECL Emiter Coupled Logic

• RTL Resistor Transistor Logic

komentarz

background image

Porównanie układów TTL i

CMOS

• Układy TTL wymagają zasilania 5V, podczas gdy CMOS

pracują poprawnie w szerszym zakresie: od +2V do +6V

(AC, HC), a od +3V do +18V układy serii 4000B 74C.

Niskonapięciowe układy CMOS mogą być zasilane

napięciem 0,8V- 2,6V.

• Wejście bramki TTL utrzymywane w stanie niskim

zachowuje się jak źródło prądowe, zatem aby utrzymać stan

niski należy ten prąd odebrać. Nie sprawia to problemów

gdy mamy do czynienia z samymi układami TTL, ponieważ

wyjścia (nasycony tranzystor n-p-n) są w stanie wchłonąć

dużo prądu. Sprawa się komplikuje gdy bramka TTL jest

sterowana sygnałem z wyjścia układu innej rodziny. W

układach CMOS wartość prądu wejściowego jest równa

zeru.

background image

Porównanie układów TTL i

CMOS

• Próg przełączania TTL odpowiada dwóm spadkom napięcia

na diodzie (ok. 1,3V) podczas gdy próg przełączania bramki
CMOS równy jest połowie wartości napięcia zasilania.

• Układy TTL pobierają w stanie statycznym dość dużo prądu.
• Zakres szybkości układów TTL rozciąga się od 33MHz do

150 MHz. CMOS- od 4MHz do 160MHz

• Margines zakłóceń CMOS bliski jest 30% UCC, natomiast dla

TTL (oraz szybkich CMOS) to ok. 8% UCC.

background image

Porównanie charakterystyk

układów TTL i CMOS

Charakterystyki wejściowe

background image

Porównanie charakterystyk

układów TTL i CMOS

Charakterystyki przejściowe

background image

Porównanie charakterystyk

układów TTL i CMOS

Charakterystyki wyjściowe

background image

Porównanie częstotliwości

pracy różnych układów

logicznych

background image

Ewolucja układów logicznych

background image

Dla osób zainteresowanych

polecam prezentacje

zamieszczoną pod adresem

http://www.im.pwr.wroc.pl/~me
d/mkas/ukladycyfrowe.pdf

background image

Literatura

P. Horowitz, W.Hill „Sztuka Elektroniki t.2”
S. Kuta „Elementy i układy elektroniczne t.2”

Strony internetowe:

http://layer.uci.agh.edu.pl/~maglay/wrona/pl/podstrony/dydak

tyka/Technika_Cyfrowa/Bramki/Bramki_teor.pdf

http://adam.dunat.freehost.pl/data/se/uklady_cyfrowe.pdf


Document Outline


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Program zajęć ED, aaa, studia 22.10.2014, Materiały od Piotra cukrownika, materialy Kamil, Szkoła, L
EDi4 2-lista 2004, aaa, studia 22.10.2014, Materiały od Piotra cukrownika, materialy Kamil, Szkoła,
122 3,124 ttl i cmos
Bramki TTL
SPRAWOZDANIE METRO ELEK Pomiary techniczne rezystancji przy prądzie stałym
Ochrona przed hałasem, Ucho, Ucho- przetwornik mechano- elektryczny ( na wejściu do ucha en mechanic
12.Badanie generatorów TTL
LABORATORIUM-NAPĘDÓW ELEK, Naped, UK˙AD DO REGULACJI PR˙DKO˙CI OBROTOWEJ
LABORATORIUM-NAPĘDÓW ELEK, aut nap 1, Politechnika Wrocławska
PROTOKOL3 METRO ELEK Pomiary parametrów dwójników metodą trzech woltomierzy
EDi4 2-lista 2003, aaa, studia 22.10.2014, Materiały od Piotra cukrownika, materialy Kamil, Szkoła,
Układy kombinacyjne oparte na elektronicznych układach TTL
lab elek 9
LABORATORIUM-NAPĘDÓW ELEK, Hamowanie, POLITECHNIKA
elek, 21+, Ćwiczenie 21
Ćw. 11-Liczniki asynchroniczne TTL, Politechnika Lubelska
elek, 25+, Ćwiczenie 25

więcej podobnych podstron