Komputerowy system


Komputerowy system zbierania i przetwarzania danych pomiarowych

1.Cel doświadczenia

W układzie pomiarowym wykonać serię 1000 pomiarów:

-napięcia (sygnał przemienny sinusoidalny o częstotliwości 100Hz i amplitudzie ok. 3V)

-częstotliwości (częstotliwość sygnału wyjściowego 1000Hz)

-temperatury.

2.Aparatura pomiarowa

Schemat układu pomiarowego:

0x01 graphic

Generator- nr inwentarzowy l12-PN-7/1-3587

Miernik laboratoryjny typu APPA 207 nr inwentarzowy 011-T8-607

Komputer IBM PC

3.Wyniki pomiarów

Napięcie- wyniki dla pierwszych dziesięciu pomiarów

LP

czas

Wartość [V]

Kwadrat odchylenia*

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

0:00:00.0

0:00:00,5

0:00:01,0

0:00:01,5

0:00:02,0

0:00:02,5

0:00:03,0

0:00:03,5

0:00:04,0

0:00:04,5

0,0002

0,0108

-0,0092

0,0044

-0,0044

0,0007

0,008

-0,014

0,0028

0,0083

0,00001

0,00017

0,00005

0,00004

0,00001

0,00001

0,00011

0,00016

0,00002

0,00011

*kwadrat odchylenia pomiaru od wartości średniej

Nastepnie liczymy wartość średnia:

0x08 graphic

= -0,00207 V

Odchylenie

0x08 graphic

= 0,00607

Wariancja

0x08 graphic

= 0,00004

Wykres dla 1000 pomiarów

0x01 graphic

Częstotliwość

LP

czas

Wartość [kHz]

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

0:00:00.0

0:00:00,5

0:00:01,0

0:00:01,5

0:00:02,0

0:00:02,5

0:00:03,0

0:00:03,5

0:00:04,0

0:00:04,5

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9975

Wartość średnia:

0x08 graphic

= 0,997513 kHz

0x08 graphic
Odchylenie

= 0,68 ∙ 10-4

Wariancja:

0x08 graphic

= 0,46 ∙ 10-8

Wykres:

0x01 graphic

Temperatura

LP

czas

Wartość [kHz]

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

0:00:00.0

0:00:00,5

0:00:01,0

0:00:01,5

0:00:02,0

0:00:02,5

0:00:03,0

0:00:03,5

0:00:04,0

0:00:04,5

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9974

0,9975

Wartość średnia:

0x08 graphic

= 22,9529 `C

Odchylenie:

0x08 graphic

= 0,25600

0x08 graphic
Wariancja:

= 0,06554

Wykres:

0x01 graphic

4.Wnioski

Komputerowy system zbierania i przetwarzania danych pomiarowych otwiera przed nami nowe możliwości, jesteśmy wstanie w krótkim czasie zebrać tysiące próbek, co pozwala na zminimalizowanie błędu. Przygotowane formuły matematyczne natychmiast dokonują za nas obliczeń, a powstałe wykresy są dokładniejsze od tych narysowanych ręcznie.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Komputerowe systemy zarządzania produkcją
format[1], Szkoła, Systemy Operacyjnie i sieci komputerowe, systemy, semestr I
KOMPUTEROWE SYSTEMY STEROWANIA Nieznany
Program Laboratorium Komputerowe systemy pomiarowe Gawędzki KSP
Komputerowe systemy automatyki przemysłowej
ksa4, Edukacja, studia, Semestr VIII, Komputerowe Systemy Automatyki, KSA-lab
Dyski twarde-woluminy, Szkoła, Systemy Operacyjnie i sieci komputerowe, systemy, semestr II
raczynski 2, Edukacja, studia, Semestr VII, Komputerowe Systemy Automatyki
Komputerowy system do?dań?ektywności metaheurystyki ''System Mrówek'' w zakresie optymalizacji dyskr
Komputerowy system rejestracji?nych pomiarowych PC Link Plus
EEG komputerowy system
Etapy uruchamiania komputera, systemu
INF II stopien Grafika komputerowa i systemy multimedialne
Normy prawne dotyczące rozpowszechniania programów komputerowych, 1.Systemy operacyjne i sieci kompu
Labolatorium komputerowych systemów automatyki, Systemy wizualizacji i sterowania, Politechnika Lube
Labolatorium komputerowych systemów automatyki, Systemy wizualizacji i sterowania, Politechnika Lube
Komputerowy system DAMB analizy dynamicznej budynków wysokich usztywnionych konstrukcjami ścianowymi
Architektura komputerów i systemy operacyjne
Konsola odzyskiwania systemu, Szkoła, Systemy Operacyjnie i sieci komputerowe, systemy, semestr II
Komputerowy system analizy wytrzymałościowej ścianowych konstrukcji usztywniających budynki wysokie

więcej podobnych podstron