M4


Zespół nr 1

Nogaj Kamil

WM

Ćwiczenie nr M4

Temat: Tablica Galtona. Mechaniczny model rozkładu normalnego.

Mechanika i Budowa Maszyn

15.03.2000 r.

Teoria

Ocena:

Podpis:

Wykonanie

  1. Opis teoretyczny:

Ze względu na źródła, błędy możemy podzielić na błędy przyrządu pomiarowego, błędy metody pomiarowej (wynikające z przybliżonego charakteru wzoru), błędy spowodowane niedokładnością zmysłów eksperymentatora lub statystycznym charakterem zjawiska.

Błędy systematyczne: Zawsze w ten sam sposób wpływają na wyniki pomiarów wykonanych za pomocą tej samej metody i aparatury pomiarowej. Przy zmianie warunków pomiaru według określonej prawidłowości, błąd systematyczny zachowuje stałą wartość lub zmienia się w sposób prawidłowy. Wiele różnorodnych przyczyn może spowodować powstanie błędu systematycznego. Minimalna wartość błędu systematycznego określona dokładnością stosowanego przyrządu. Przyrządy skonstruowane są w ten sposób, by wyniki prawidłowo wykonywanych pomiarów różniły się od wartości najmniejszej działki skali lub ułamek tej działki określony klasą przyrządu. Wartość najmniejszej działki, czyli odległość między sąsiednimi kreskami na skali przyrządu lub ułamek tej odległości określony klasą przyrządu nazywamy dokładnością odczytu i oznaczamy symbolem Δx. Wartość prawdziwa x0 może być większa albo mniejsza od wartości odczytanej x, stąd dokładność odczytu może być dodatnia lub ujemna. Innym źródłem błędu systematycznego jest błąd skali przyrządu, spowodowany trwałym jego uszkodzeniem lub wadliwym wykonaniem. Do tej grupy zaliczamy również błędy wynikające z niewłaściwego sposobu wykorzystania przyrządów. Przyczyną błędu systematycznego może być zła metoda pomiaru. Pewna grupa błędów systematycznych wynika z przybliżonego charakteru wzorów stosowanych do obliczenia wielkości złożonej. Błąd systematyczny może być wprowadzony również przez samego eksperymentatora. Błędy systematyczne można zmniejszać nieograniczenie udoskonalając metodę pomiaru, stosowne przyrządy, wreszcie przez wyeliminowanie błędów poprzednich przez eksperymentatora.

Błędy przypadkowe : Załóżmy, że pomiar wykonujemy wielokrotnie, za pomocą przyrządu, którego dokładność jest bardzo duża, a więc błąd systematyczny mały. W takim przypadku może się zdarzyć, że różnice między wynikami kolejnych pomiarów będą znacznie przewyższać błąd systematyczny. Błąd, który obarczony jest każdy z pomiarów nazywamy błędem przypadkowym. Wiele różnorodnych przyczyn może spowodować powstanie błędu przypadkowego. Może on wynikać z własności przedmiotu mierzonego, np. przy pomiarze średnicy drutu wynikać może z wahań średnicy. Innym jego źródłem są własności samego przyrządu pomiarowego, którego wskazania zależą od przypadkowych drgań budynku, ruchów powietrza, tarcia w łożyskach, docisku. Błędy przypadkowe mogą mieć za przyczynę również podłoże fizjologiczne np. zjawisko spostrzeżenia chwili włączenia sekundomierza, usłyszenia ekstremum natężenia dźwięku itp. Błędów przypadkowych nie można wyeliminować, lecz ich wpływ na wynik ostateczny można ściśle określić.

Błędy grube lub pomyłki najczęściej wynikają z niestaranności eksperymentatora.
W większości przypadków są one łatwe do zauważenia i aby je wyeliminować należy powtórzyć pomiary.

  1. Opracowanie wyników:

  1. 0x08 graphic
    Tabelę 1 sporządzam z wyników pomiaru oraz posługując się wzorem:

0x08 graphic
0x08 graphic
gdzie:

xi - kolejne przegrody,

ni - ilość wszystkich kulek w i-tej przegrodzie.

0x08 graphic
x=8,655

Tabela 1.

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
Xi

ni

nixi

0x08 graphic
│xi-x│

0x08 graphic
│xi-x│2

0x08 graphic
n│xi-x│2

1

2

2

7,655

58,599

117,198

2

0

0

6,655

44,289

0,000

3

3

9

5,655

31,979

95,937

4

1

4

4,655

21,669

21,669

5

20

100

3,655

13,359

267,181

6

57

342

2,655

7,049

401,794

7

116

812

1,655

2,739

317,727

8

176

1408

0,655

0,429

75,508

9

195

1755

0,345

0,119

23,210

10

101

1010

1,345

1,809

182,712

11

81

891

2,345

5,499

445,421

12

36

432

3,345

11,189

402,805

13

9

117

4,345

18,879

169,911

14

3

42

5,345

28,569

85,707

15

0

0

6,345

40,259

0,000

16

0

0

7,345

53,949

0,000

17

0

0

8,345

69,639

0,000

Suma

800

6924

2606,78

  1. Na podstawie Tabeli 1 oraz wzorów sporządzamy Tabelę 2.

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

gdzie:

Ui - parametr rozkładu,

ni0 - teoretyczne częstości w poszczególnychgrupach,

p(ui) - prawdopodobienistwo wystąpienia danego wyniku odczytane z Tablicy 1 z dodatku,

Sx - średni błąd kwadratowy pojedynczego pomiaru.

Średni błąd pomiarowy pojedynczego pomiaru wynosi: Sx = 1,806

Tabela 2.

0x08 graphic
xi

ni

Ui

p(ui)

ni0

│ni-nio

│ni-nio2

│ni-nio2

ni

1

2

6

4,24

0,00005

0,022

7,887

1,887

3,560

0,451

2

0

3,68

0,00046

0,203

3

3

3,13

0,00300

1,329

4

1

2,58

0,01430

6,334

5

20

2,02

0,05170

22,898

2,898

8,400

0,367

6

57

1,47

0,13540

59,969

2,969

8,817

0,147

7

116

0,92

0,26130

115,731

0,269

0,072

0,001

8

176

0,36

0,37390

165,602

10,398

108,110

0,653

9

195

0,19

0,39180

173,530

21,470

460,943

2,656

10

101

0,74

0,30340

134,378

33,378

1 114,062

8,291

11

81

1,30

0,17140

75,914

5,086

25,867

0,341

12

36

1,85

0,07210

31,933

4,067

16,536

0,518

13

9

12

2,41

0,02190

9,700

12,00

0,000

0,000

0,000

14

3

2,96

0,00500

2,215

15

0

2,51

0,00008

0,037

16

0

4,07

0,00010

0,045

17

0

4,62

0,00001

0,004

Suma

13,424

  1. Histogram wyników

Według załącznika nr 1.

  1. Odczytuję z Tablicy 5 umieszczonej w dodatku czy dla danej liczby stopni swobody prawdopodobieństwo przewyższa 0,01.

Liczba stopni swobody wyraża się wzorem :

k = m-3

gdzie :

m - liczba grup rozkładu doświadczalnego, ilość elementów w każdej grupie powinna spełniać nierówność :

ni > 5

Liczba grup rozkładu w naszym ćwiczeniu wynosi : m = 10.

W związku z powyższym liczba stopni swobody wynosi : k =7.

Odczytane z Tablicy 5 prawdopodobieństwo wynosi : P = 0,05.

W związku z tym, iż obliczone prawdopodobieństwo przewyższa 0,01 wynika, że rozkład doświadczalny jest prawdopodobnie Rozkładem normalnym.

1

2

Politechnika Świętokrzyska w Kielcach

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Podklad przyklad M4
ECCC Sylabus IT M4 B
ARKUSZ DIAGNOSTYCZNY GM M4 125 Nieznany (2)
elektra M4, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
KNOCHE GRUBER SG M4
M4 Struktura i wielkosc kapitalow, finanse i rachunkowość przedsiębiorstw
Multitest M4 2009
sprawko M4, AGH Imir materiały mix, Studia
sprawko M4 (1), AGH Imir materiały mix, Studia
elektra M4 obr
pi11-m4, ╔══════════════════════════════════════════════════════════════════════════════╗
M4
Zadania płyny M4 M6
M4 as
089 multitest M4 2007
biofizyka od KACPRA, BIOFIZYKA-M4, UNIWERSYTET MEDYCZNY W ŁODZI
sr13, sr13-m4
ECCC Sylabus IT M4 A
CCNA M4 CCNA Skills Assessment Student Training Exam
Test ECDL V5 M4 3

więcej podobnych podstron