II PRZEBIEG DOŚWIADCZENIA

Celem doświadczenia było zapoznanie się z możliwościami i praktycznym wykorzystaniem magistrali danych oznaczonej kodem IEC 625-1. W tym celu, za pomocą ww. cyfrowego systemu interfejsowego, wykonałem serię pomiarów charakterystyki prądowo-napięciowej
diody półprzewodnikowej w kierunku przewodzenia i zaporowym.

PRZEBIEG DOŚWIADCZNENIA:

• odczytanie adresów (umieszczonych na tylnej ściance) poszczególnych urządzeń w kodzie binarnym i przetransponowanie ich na kod dziesiętny;

urządzenie	adres w kodzie binarnym	adres w kodzie dziesiętnym
zasilacz BS 575	11011	19
woltomierz V1	10010	18
woltomierz V2	10001	17

• wpisanie danych (adres, prąd, napięcie, funkcja) do komputera;

BS 575		V1		V2
adres	19	adres	18	adres	17
prąd	0,5	funkcja	4	funkcja	4
napięcie	10	zakres	1	zakres	10

POMIAR 1:

• zmontowanie układu wg schematu 1 załączonego do instrukcji doświadczenia, charakterystyka
  w kierunku przewodzenia;

Schemat 1.

• skonfigurowanie przebiegu pomiaru;

napięcie początkowe	napięcie końcowe	skok	opornik
0	10	0,1	1000

• wydrukowanie wykresu
  oraz danych pomiarowych;

-	WYKRES 1	przedstawia charakterystykę prądowo-napięciową diody półprzewodnikowej w kierunku przewodzenia	strona 1
-	Dane do WYKRESU 1	wartości prądu i napięcia podane przez zasilacz	strona 2, 3

POMIAR 2:

• zmontowanie układu wg schematu 2, charakterystyka
  w kierunku zaporowym;

Schemat 2.

• skonfigurowanie przebiegu pomiaru;

napięcie początkowe	napięcie końcowe	skok	opornik
0	10	1	1000

• wydrukowanie wykresu
  oraz danych pomiarowych

-	WYKRES 2	przedstawia charakterystykę prądowo-napięciową diody półprzewodnikowej w kierunku zaporowym	strona 4
-	Dane do WYKRESU 2	wartości prądu i napięcia podane przez zasilacz	strona 5

POMIAR 3:

• zmontowanie układu wg schematu 2, charakterystyka
  w kierunku zaporowym;

• skonfigurowanie przebiegu pomiaru;

napięcie początkowe	napięcie końcowe	skok	opornik
0	10	0,1	100000

• wydrukowanie wykresu
  oraz danych pomiarowych;

-	WYKRES 3	przedstawia charakterystykę prądowo-napięciową diody półprzewodnikowej w kierunku zaporowym	strona 6
-	Dane do WYKRESU 3	wartości prądu i napięcia podane przez zasilacz	strona 7, 8

POMIAR 4:

• zmontowanie układu wg schematu 2, charakterystyka
  w kierunku zaporowym;

• skonfigurowanie przebiegu pomiaru;

napięcie początkowe	napięcie końcowe	skok	opornik
0	10	0,1	1000

• wydrukowanie wykresu
  oraz danych pomiarowych;

-	WYKRES 4	przedstawia charakterystykę prądowo-napięciową diody półprzewodnikowej w kierunku zaporowym	strona 9
-	Dane do WYKRESU 4	wartości prądu i napięcia podane przez zasilacz	strona 10

III WNIOSKI

• WYKRES 1: uzyskane wyniki pomiarów zamieszczone na wydruku zgodne są z oczekiwaniami teoretycznymi. Na wykresie bardzo dobrze pokazany jest próg napięcia, powyżej którego silnie wzrasta prąd przewodzenia diody, reprezentowany przez napięcie progowe U_T, które przyjmujemy w granicach 0,6 do 0,7 V dla diody krzemowej.

• WYKRES 2: jest to przykład pomiaru wykonanego ze zbyt małą dokładnością (skok 1V). Przy tak małej rozpiętości napięć: od 0V do 10V, w celu wykonania prawidłowego, wyraźnego do odczytania wykresu należy stosować skok napięcia nie mniejszy niż 0,1V.

• WYKRES 4: charakterystyka uzyskana w tym pomiarze odpowiada naszym oczekiwaniom lecz wykres zależności nie jest zbyt dokładny. Spowodowane jest to zbyt małą rezystancją oporu R w układzie.

• WYKRES 3: wyniki uzyskane w tym pomiarze, jak i wykres zależności natężenia prądu od napięcia, są o wiele dokładniejsze od wykresu 4. Jest to przykład prawidłowego działania diody półprzewodnikowej w rozumieniu charakterystyki prądowo-napięciowej w kierunku zaporowym.

Przeprowadzając powyższe ćwiczenie mieliśmy możliwość zapoznania się z możliwościami systemów pomiarowych wykorzystujących urządzenia w pełni sterowane komputerem. Zastosowanie magistrali danych IEC 625-1, czyli interfejsu przetwarzającego dane wysyłane i odbierane przez komputer, znacznie ułatwia wykonywanie długich i żmudnych pomiarów z jednoczesnym uzyskaniem bardzo precyzyjnych wyników. Inną zaletą zastosowania ww. magistrali jest łatwość dalszego przetwarzania danych.

---