sprawko mur

SPRAWOZDANIE TECHNICZNE

  1. Dane formalno – prawne

    1. Zleceniodawca: Akademia Górniczo – Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

    2. Wykonawca: Daria Gruszczyńska, Magdalena Gwardiak

    3. Termin wykonania zlecenia: 09.07 – 11.07.2014 r.

    4. Przedmiot zlecenia: Wykonanie fotoplanu malowidła ściennego (graffiti) z wykorzystaniem przekształcenia rzutowego

  2. Wykorzystane oprogramowanie:

  1. Sprzęt pomiarowy:

  1. Czynności pomiarowe:

Pierwszym etapem wykonania fotoplanu było wybranie malowidła ściennego znajdującego się przy szkole podstawowej nr 12, przy ulice Czarnowiejskiej w Krakowie. Następnie zasygnalizowano fotopunkty oraz punkty kontrolne na wybranym murze za pomocą papierowych sygnałów. Łącznie było 15 punktów (8 fotopunktów oraz 7 punktów kontrolnych).

Pomiar punktów wykonano metodą biegunową niezależnie z dwóch stanowisk. Współrzędne obliczono w układzie lokalnym.

Następnie wykonano zdjęcia ściany, tak aby na każdym zdjęciu odfotografowane było 9 punktów (5 fotopunktów oraz 4 punkty kontrolne).

Ustawienia aparatu:

  1. Czynności kameralne:

    1. Obliczenie osnowy fotogrametrycznej

W tym celu współrzędne punktów uzyskanych z pomiaru w układzie terenowym lokalnym (X,Y,Z) należało przetransformować do układu obiektu. W tym celu należało obliczyć kąt skręcenia układów (różnica azymutów, który po transformacji powinien wynosić 100g). Następnie przetransformowano współrzędne X, Y do układu obrazu. Wyniki transformacji z obu stanowisk uśredniono. Następnie przesunięto układ równań do fotopunktu położonego w lewym dolnym rogu malowidła ściennego. Na podstawie wartości współrzędnych X obliczono błąd niepłaskości ściany.

  1. Usunięcie błędu dystorsji
    W programie PTlens ustawiono parametry kamery odpowiednie dla danego zdjęcia, program automatycznie usunął wpływ błędu dystorsji.

  2. Wyznaczenie piksela obiektowego na zdjęciach pozbawionych dystorsji
    Wykorzystując program Gimp pomierzono na zdjęciach przekątne (w pikselach). Obliczono również długości przekątnych na podstawie współrzędnych uzyskanych z pomiaru. Następnie na podstawie danych długości wyznaczono wielkość piksela obiektowego.

  3. Przetworzenie zdjęć metodą transformacji rzutowej
    Przetworzenie zdjęć wykonano w programie Ilwis. W tym celu analogicznie dla obu zdjęć należało stworzyć georeferencję oraz wykonać transformację rzutową. Następnie wprowadzić współrzędne 5 odfotografowanych fotopunktów oraz obliczyć transformację. Program obliczył odchyłki na punktach oraz błąd średni.
    Następnie utworzono kolejną georeferencję, która służy do wprowadzenia parametrów resamplingu i podania zakresu fotomapy wynikowej. Końcowym etapem przetworzenia zdjęć był resampling.

  1. Analiza dokładności fotoplanów częściowych

W celu analizy w programie Gimp pomierzono współrzędne fotopunktów znajdujących się na fotoplanie (w pikselach). Następnie przeliczono współrzędne pikselowe na terenowe oraz obliczono różnice pomiędzy współrzędnymi.

  1. Mozaikowanie fotoplanów częściowych
    Mozaikowanie wykonano w programie Gimp. W tym celu stworzono nowy obraz, którego szerokość wynosiła ok. 2,5x szerokości jednej części fotoplanu oraz wysokość ok. 1,5x wysokość fotoplanu. Następnie wstawiono 2 zdjęcia oraz dopasowano je do siebie na podstawie fotopunktów. Ustawiono jasność oraz kontrast zdjęć tak, aby były tego samego koloru. Następnie wycięto i zapisano fotoplan jako jedną całość.
    Przygotowano także fotoplan do wydruku tak, aby zmieścić go na formacie A4.

  2. Wyniki:

Współrzędne w układzie terenowym:

Stanowisko 1.

nr X Y Z
1 106.943 95.055 201.738
2 107.023 96.189 201.732
3 107.094 97.163 201.735
4 107.160 98.118 201.737
5 107.247 99.679 201.746
6 106.932 95.038 200.524
7 107.005 96.123 200.528
8 107.076 97.154 200.515
9 107.146 98.145 200.520
10 107.247 99.682 200.517
11 106.914 95.031 199.070
12 106.996 96.102 199.081
13 107.068 97.143 199.080
14 107.135 98.157 199.088
15 107.243 99.691 199.072

Stanowisko 2.

nr X [m] Y [m] Z [m]
1 107.620 95.433 201.779
2 107.509 96.564 201.772
3 107.416 97.536 201.778
4 107.322 98.488 201.778
5 107.145 100.042 201.780
6 107.613 95.414 200.565
7 107.503 96.496 200.569
8 107.399 97.524 200.555
9 107.302 98.512 200.561
10 107.144 100.045 200.558
11 107.597 95.404 199.111
12 107.495 96.474 199.122
13 107.394 97.512 199.121
14 107.290 98.523 199.128
15 107.137 100.053 199.113

Parametry transformacji:

α1 = 4,3333g

α2 = -6,2787g

Obliczenie azymutów odcinków poziomych w płaszczyźnie malowidła ściennego

Stanowisko I [g] Stanowisko II [g] Azymut średni [g]
95.6667 106.2787 100.9727

Współrzędne po transformacji

  Stanowisko 1 Stanowisko 2
nr X [m] Y [m]
1 100.230 102.109
2 100.233 103.245
3 100.238 104.222
4 100.238 105.179
5 100.219 106.742
6 100.220 102.091
7 100.219 103.178
8 100.220 104.212
9 100.223 105.205
10 100.219 106.745
11 100.203 102.083
12 100.212 103.157
13 100.213 104.200
14 100.211 105.216
15 100.214 106.754

Współrzędne uśrednione

nr X [m] Y [m] Z [m]
1 108.4478 93.1218 201.7585
2 108.4508 94.2584 201.7520
3 108.4556 95.2349 201.7565
4 108.4572 96.1919 201.7575
5 108.4375 97.7555 201.7630
6 108.4385 93.1038 200.5445
7 108.4376 94.1914 200.5485
8 108.4379 95.2247 200.5350
9 108.4405 96.2178 200.5405
10 108.4371 97.7585 200.5375
11 108.4213 93.0956 199.0905
12 108.4288 94.1700 199.1015
13 108.4312 95.2132 199.1005
14 108.4292 96.2295 199.1080
15 108.4317 97.7672 199.0925

Współrzędne po przesunięciu układu do lewego dolnego fotopunktu

nr X [m] Y [m] Z [m]
1 108.4478 0.0262 2.6680
2 108.4508 1.1629 2.6615
3 108.4556 2.1394 2.6660
4 108.4572 3.0963 2.6670
5 108.4375 4.6599 2.6725
6 108.4385 0.0083 1.4540
7 108.4376 1.0958 1.4580
8 108.4379 2.1291 1.4445
9 108.4405 3.1222 1.4500
10 108.4371 4.6630 1.4470
11 108.4213 0.0000 0.0000
12 108.4288 1.0745 0.0110
13 108.4312 2.1177 0.0100
14 108.4292 3.1339 0.0175
15 108.4317 4.6716 0.0020

Wyznaczenie niepłaskości ściany

v=X-Xsr [m]
0.009
0.012
0.017
0.018
-0.001
0.000
-0.001
-0.001
0.002
-0.002
-0.018
-0.010
-0.008
-0.010
-0.007

Suma odchyłek wynosi 0, co oznacza, że ścianę można uznać za płaską

Odchyłki na fotopunktach:

zdjęcie lewe zdjęcie prawe
nr Y [px]
1 0.13
3 0.06
7 -0.36
11 0.04
13 0.12

Sigma:

Dla zdjęcia lewego = 0,37 px

Dla zdjęcia prawego = 0,77 px

Analiza dokładności fotopunktów

Zdjęcie lewe

zdjęcie mur
nr x [px] y [px] x [mm] y[mm] x [mm] y [mm] x [mm] y[mm] vx
1 30.8 3553.6 22.2 2566.7 -1049.6 1307.6 -909.0 1257.7 -140.6
3 2564.6 3552.3 1852.4 2565.8 1063.5 1305.6 921.1 1256.8 142.4
7 1313.5 1942.8 948.7 1403.3 20.0 97.6 17.5 94.3 2.5
11 0.0 0.0 0.0 0.0 -1075.8 -1360.4 -931.3 -1309.0 -144.5
13 2537.7 12.8 1832.9 9.2 1041.9 -1350.4 901.7 -1299.8 140.2

Zdjęcie prawe

zdjęcie mur
nr x [px] y [px] x [mm] y[mm] x [mm] y [mm] x [mm] y[mm] vx
3 212.3 122.6 24.3 2804.6 -1202.8 1305.9 -1315.6 1379.2 112.7
5 4030.4 113.5 2782.0 2811.1 1317.8 1312.4 1442.2 1385.8 -124.4
9 1698.6 1901.4 1097.8 1519.8 -219.9 89.9 -242.0 94.4 22.1
13 178.7 4005.5 0.0 0.0 -1224.5 -1350.1 -1339.8 -1425.4 115.3
15 4048.4 4017.5 2795.0 -8.7 1329.5 -1358.1 1455.2 -1434.0 -125.7

Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
El sprawko 5 id 157337 Nieznany
LabMN1 sprawko
Obrobka cieplna laborka sprawko
Ściskanie sprawko 05 12 2014
01 OBRÓBKA GÓRNA OKNA UKŁAD POZIOMY MUR
1 Sprawko, Raport wytrzymałość 1b stal sila
02 OŚCIEŻE OKNA UKŁAD POZIOMY MUR
stale, Elektrotechnika, dc pobierane, Podstawy Nauk o materialach, Przydatne, Sprawka
2LAB, 1 STUDIA - Informatyka Politechnika Koszalińska, Labki, Fizyka, sprawka od Mateusza, Fizyka -
10.6 poprawione, semestr 4, chemia fizyczna, sprawka laborki, 10.6
PIII - teoria, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektro
grunty sprawko, Studia, Sem 4, Semestr 4 RŁ, gleba, sprawka i inne
SPRAWKO STANY NIEUSTALONE, Elektrotechnika, Elektrotechnika
SPRAWOZDANIE Z farmako, Farmacja, II rok farmacji, I semstr, fizyczna, Fizyczna, Sprawozdania z fizy
mmgg, Studia PŁ, Ochrona Środowiska, Chemia, fizyczna, laborki, wszy, chemia fizyczna cz II sprawka
Zadanie koncowe, Studia PŁ, Ochrona Środowiska, Biochemia, laborki, sprawka
Piperyna sprawko PŁ, chemia produktów naturalnych, ćw. 5 PIPERYNA
03 - Pomiar twardości sposobem Brinella, MiBM Politechnika Poznanska, IV semestr, labolatorium wydym

więcej podobnych podstron