Załącznik nr 1 do SIWZ z dnia 16.06.2010 r.

Opis przedmiotu zamówienia

(Wykonawca jest obowiązany wypełnić część dotyczącą parametrów oferowanego urządzenia

i załączyć dokument do oferty)

Spektrometr FTIR
(wraz z wyposażeniem do analizy białek)

Nazwa/typ/model oferowanego urządzenia: ……………...................................................................................

Producent: ………………………………………..................................................................................................

Lp.	Opis parametrów minimalnych	Opis oferowanych parametrów
Spektrometr FTIR na zakres podczerwieni i bliskiej podczerwieni
	Dwa źródła promieniowania wybierane i przełączane komputerowo: lampa wolframowa na zakres 27000 - 2000 cm^-1oraz trwałe źródło ceramiczne na zakres średniej i dalekiej podczerwieni 9600 - 20 cm^-1 o maksymalnej temp. pracy 1577K, nie wymagające chłodzenia wodą. Temperatura źródła kontrolowana elektronicznie, układ sterujący pozwalający na pracę w 3 trybach: oszczędnościowym, standardowym i maksymalnej energii (Gwarancja na źródło: min. 5 lat)
	Uniwersalny dzielnik wiązki (beamsplitter) IR/NIR: XT-KBr na zakres 11000 - 375 cm^-1. Automatyczne rozpoznawanie rodzaju beamsplittera przez system. System wymiany beamsplitterów umożliwiający rozbudowę o kolejne zakresy spektralne. Miejsce na przechowanie 2 zapasowych beamsplitterów wewnątrz aparatu w głównym przedziale optyki - osuszanym i przedmuchiwanym
	Detektor: DLaTGS na zakres 12500 - 350 cm^-1, w sferze integrującej InGaAs na zakres 12000 - 3800 cm^-1
	Pokrywa przedziału detektorów umożliwiająca łatwy dostęp i wymianę detektorów.
	Możliwość rozbudowy zakresu spektralnego do 27000 - 15 cm^-1
	Zdolność rozdzielcza lepsza niż 0.09 cm^-1 (pomiar szerokości połówkowej pasma CO)
	Interferometr Michelsona 90º, nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych, justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru. Gwarancja na interferometr: min. 5 lat.
	Automatyczne rozpoznawanie przez system opcjonalnych akcesoriów pomiarowych
	Detektory i beamsplittery rozpoznawane z poziomu oprogramowania.
	Możliwość rozbudowy do pracy z technikami łączonymi: TG/IR, GC/IR, Raman, mikroskopia IR, FT-SPR.
	Możliwość rozbudowy do technik step-scan oraz do zaawansowanych pomiarów dwukanałowych.
	Możliwość rozbudowy o drugą komorę pomiarową.
	Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym pokrywane złotem
	Maksymalna szybkość zbierania danych nie gorsza niż 65 skanów/s dla rozdzielczości 16cm^-1 (odstęp danych 8 cm^-1)
	Szybkość skanowania automatycznie regulowana w zakresie co najmniej 0.15 - 6.22 cm/s
	Komunikacja aparatu z jednostką sterującą przez szybki port USB 2.0.
	Układ optyczny szczelny i osuszany z okienkami oddzielającymi przedział próbek. Podłączenia do przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem wraz z regulatorem przepływu i ciśnienia.
Oprogramowanie
	Sterowanie przez zewnętrzny komputer PC pracujący w systemie Windows XP lub Vista Business, lub Windows 7 Professional. 32-bitowe oprogramowanie dostarczane przez producenta spektrometru kompatybilne z Windows XP Pro, Vista. Musi być w pełni kompatybilne z systemami operacyjnymi w języku polskim. Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows lub przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania Windows. Wymagana charakterystyka: logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu, funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału, podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office), funkcje przetwarzania widma: korekcja linii bazowej - automatyczna i manualna, wygładzanie, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell-McCormick, uzględniająca co najmniej następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt, przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca, tworzenie własnych bibliotek użytkownika, w zestawie biblioteki widm obejmujące co najmniej 1000 widm kompatybilność z formatem widm i bibliotek widm programu WinFIRST posiadanych przez IBA spektrometrów Mattson Genesis moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujacy algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej - co najmniej następujące: do analiz ilościowych Prawo Lamberta-Beera klasyczna metoda najmniejszych kwadratów do analiz klasyfikacyjnych przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm wektorowa analiza podobieństwa analiza korelacyjna widm uśrednionych analiza odległości Mahalanobisa widm znormalizowanych analiza dyskryminacyjna ze skalowaniem jednorodnym lub unikalnym dla każdej klasy moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji, moduł spektralnej interpretacji widm, automatyczna korekcja zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru), automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu, aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu, wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów, archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu możliwość rozbudowy o system ochrony danych zgodnie z wytycznymi FDA (CFR 21, rozdział 11).
Zestaw komputerowy
	PC o parametrach nie gorszych niż: procesor: do komputera PC, ilość rdzeni 4, częstotliwość procesora minimum 2600 MHz, Wydzielana moc 95 W, Cache 3 poziomu, 4 wątki, kompatybilny z systemami Windows, RAM: min. 4 GB z możliwością rozbudowy do 8 GB; DDR3-1333, dysk twardy: min. 320 GB, SATA II, napęd: DVD +/- RW z oprogramowaniem do nagrywania, karta sieciowa 10/100/1000 Mbit/s, min. 8 portów USB 2.0, z tego min. 2 na panelu przednim, klawiatura; mysz optyczna, monitor LCD min. 22”, Win XP Pro lub Vista Business, lub Windows 7 Professional. Gwarancja na komputer min. 36 miesięcy.
Wyposażenie
	Wysokociśnieniowa przystawka ATR do szybkiego pomiaru próbek z monolitycznym kryształem diamentowym typu IIa na zakres 10 000 - 55 cm^-1 do szybkich analiz bez konieczności przygotowania próbek. Wyposażona w odchylane urządzenie dociskowe o regulowanej sile docisku, automatycznie rozpoznawana przez spektrometr z automatycznym ładowaniem optymalnych parametrów analizy. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru - po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu
	Sfera integrująca o wydajności zbierania promieniowania > 95% ze zintegrowanym detektorem InGaAs, okienkiem szafirowym i wbudowanym poniżej okienka zmotoryzowanym wzorcem do automatycznego pomiaru tła. Sfera automatycznie rozpoznawana i sprawdzana przez system
	Przystawka do pomiarów transmisyjnych w kontrolowanej atmosferze do szybkich badań jakościowych białek i określenia ich struktury drugorzędowej. Kontrola temperatury z termoelektrycznym grzaniem i chłodzeniem w zakresie co najmniej od 5 do 80°C. W zestawie cyfrowy kontroler temperatury ze złączem USB, moduł oprogramowania do analizy białek, podręcznik analizy białek metodą spektroskopii w podczerwieni. Kuweta z okienkami CaF2 z obudową zapewniającą szczelne skręcanie kuwety przy pomocy śrub i dostarczanego klucza dynamometrycznego. Zestaw po co najmniej 10 przekładek o grubości 15 oraz 6 mikrometrów. 2 strzykawki szklane 1cm^3 ze szklanym tłokiem bez uszczelek do napełniania kuwety
	Zestaw certyfikowanych wzorców obejmujący co najmniej następujące wzorce: folia polistyrenowa o grubości ok. 35µm filtr szklany typu NG11
	Zestaw walidacyjny obejmujący pełną dokumentację DQ/IQ/OQ wraz z formularzami testów, oprogramowanie ze zautomatyzowanymi testami spektrometru współpracujące z przystawką walidacyjną, wykresy trendu z historii walidacji, testy kwalifikacji algorytmów oprogramowania
	Adapter umożliwiający zastosowanie przystawki HATR PIKE do spektrometru Mattson Genesis w oferowanym aparacie
	Płytka pomiarowa z kryształem ZnSe 45° w oprawce z wgłębieniem do przystawki HATR PIKE
Pozostałe wymagania
	Instrukcje obsługi w języku polskim i angielskim w formie drukowanej i elektronicznej.
	Gwarancja minimum 12 miesiące od uruchomienia, przy czym na źródło promieniowania i interferometr co najmniej 5 lat.. Serwis w okresie gwarancji i pogwarancyjny w Polsce, czas reakcji w przypadku zgłoszenia awarii do 2 dni roboczych (zgłoszenie telefoniczne, faxem lub e-mailem). Termin usunięcia awarii do 7 dni roboczych.
	Przegląd serwisowy i ponowne wykonanie testów OQ zamawianych urządzeń w siedzibie zamawiającego w 12-tym miesiącu od uruchomienia, bez dodatkowych opłat.
	Części zamienne do zamawianych urządzeń dostępne minimum 10 lat od daty zakupu, w okresie gwarancji bezpłatnie.
	Instalacja i uruchomienie urządzeń wraz ze sprawdzeniem poprawności działania.
	Instruktaż z obsługi urządzenia i oprogramowania.
	Deklaracja oferenta, że urządzenia są fabrycznie nowe - załączyć do oferty. Wyklucza się urządzenia używane lub składane z używanych części.
	Oświadczenie oferenta, że urządzenia są kompletne i po zainstalowaniu będą gotowe do pracy bez konieczności dodatkowych zakupów - załączyć do oferty.
	Deklaracja zgodności CE - załączyć do oferty.
	Termin wykonania zamówienia: do 12 tygodni od daty udzielenia zamówienia, tj. podpisania umowy.

Niespełnienie choćby jednego z powyższych parametrów skutkować będzie odrzuceniem oferty.

…………………….. ……………………………..

(miejscowość, data) ( podpis i pieczęć)

4

---