nazwisko i imię	Temat	Data wykonywania ćwiczenia:
Kamil Broll	Badania materiałów inżynierskich metodami mikroskopii świetlnej
Semestr:__ I Grupa: ___ 6 Sekcja:___ I	Uwagi	Zaliczenie

Notatka:

Badania metalograficzne mikroskopowe stosowane są do oceny struktury metali i stopów oraz pozwalają ujawnić wady wewnętrzne, których nie można dostrzec w wizualnych obserwacjach makroskopowych.

Mikroskopy optyczne (świetlne) są podstawowymi przyrządami wykorzystywanym w badaniach metalograficznych. Zakres ich powiększenia wynosi od 50 do 3500x. Ważne jest, aby materiał badany (próbka) był odpowiednio przygotowany. Próbki do badań nazywane są zgładami lub szlifami. Próbki do badań powinny być tak pobierane, aby było możliwe ujawnienie struktury tworzywa metalicznego z uwagi na jego skład oraz technologie przetwórstwa.

Przygotowanie próbki: -pobranie próbki, -inkludowanie, -szlifowanie (tarcza, papier ścierny), -polerowanie (mechaniczne lub elektrolityczne), -trawienie.

Próbka powinna uwzględniać: - rodzaj wyrobu,- warunki wytwarzania,- warunki eksploatacji

Ze względu na kierunek wycinania próbek wyróżnia się zgłady poprzeczne, wzdłużne oraz skośne.

Najprostszy układ optyczny typowego mikroskopu świetlnego składa się z dwóch podstawowych zespołów soczewek: -obiektyw, -okular. Soczewki te umieszczone są współosiowo na przeciwległych końcach tubusu i stanowią zazwyczaj zespoły wielosoczewkowe.

Obiektyw mikroskopu daje powiększony, rzeczywisty, i odwrócony obraz przedmiotu, który jest powtórnie powiększony przez okular który daje nam obraz pozorny i prosty w stosunku do pośredniego ale odwrócony względem obserwowanego przedmiotu.

Powiększenie całkowite mikroskopu określane jest zależnością:

Gdzie: G m - powiększenie mikroskopu,

Δ - długość optyczna tubusu

D - odległość dobrego widzenia (250mm)

F ob. - ogniskowa obiektywu

F ok. - ogniskowa okularu

(powiększenie zależne jest od zdolności rozdzielczej oraz dł. fali świetlnej)

Zdolność rozdzielcza - dwa szczegóły możliwe do rozdzielenia

Gdzie: d - zdolność rozdzielcza

Λ - dł. fali świetlnej

α - kąt obiektywu

n - współczynnik załamania światła ośrodka pomiędzy obiektywem a obiektem badanym.

Techniki obserwacji mikroskopowej:

- obserwacje w polu jasnym, w polu ciemnym

- obserwacje w świetle ukośnym oraz w świetle spolaryzowanym

- metoda kontrastu fazowego oraz interferencyjnego,

- mikroskopię fluorescencyjną oraz wysoko i niskotemperaturową.

---