Pomiar charakterystyk ziarna płaskiego, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Metalografia


Z a k ł a d M e t a l o z n a w s t w a i M e t a l u r g i i P r o s z k ó w W M i I M AGH

0x08 graphic

L A B O R A T O R I U M Z M E T A L O G R A F I I

Imię i Nazwisko

Sobczak Paweł

WMiIM

III MOC

DATA

12.I.2004

OCENA

NR./TEMAT:

Pomiar charakterystyk ziarna płaskiego.

0x08 graphic

Szczegółowa charakterystyka ćwiczenia (zadania, metoda, wyposażenie,...)

Program ćwiczenia:

  1. Wyznaczenie NA metodą Jeffreisa na podstawie zdjęcia struktury polikrystalicznej tytanu.

n1=86, liczba ziaren należących całkowicie do obszaru pomiarowego;

n2=37, liczba ziaren częściowo należących do obszaru pomiarowego;

0x01 graphic

g=400, powiększenie;

a=100 mm, długość boku kwadratu - obszaru pomiarowego A;

Arz=0,0625 mm2, rzeczywiste pole obszaru pomiarowego

0x01 graphic

  1. Tabela nr 1 (zbiorcze wyniki całej grupy).

i

1

2

3

4

5

6

7

(NA)i

1028

1688

1488

1552

1504

1456

1480

(NL)i

31

41

35

33

38

25

36

  1. Statystyczne opracowanie wyników pomiarów.

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

  1. Wyznaczenie:

0x01 graphic

0x01 graphic

      1. Ocena NL≈PL.

wg. następujących założeń;

0x01 graphic

NL≈PLNL=41;

      1. Wyniki zbiorcze - całej grupy. (patrz. tabela pkt. 2);

      1. Wyznaczyć;

        1. średnią cięciwę ziarna płaskiego 0x01 graphic
          [mm],

0x01 graphic

        1. średnią długość właściwą 0x01 graphic
          [1/mm2],

0x01 graphic

          1. Pomiary charakterystyk ziarna płaskiego.

i

metoda pomiaru

oznaczenie

nazwa

jednostka

1.

Porównawcza

G

nr wzorca

-

2.

Zliczanie ziaren wewnątrz obszaru pomiarowego

NA

liczność względna

-

a

średnia powierzchnia

mm2

d

średnia średnica

mm

3.

Zliczanie ziaren przeciętych przez obiekt geometryczny

NL

liczność względna

-

l

średnia cięciwa

mm

LA

średnia długość właściwa

mm-1

0x08 graphic

Załączniki: (rysunki, tabele, programy komputerowe, itd.)



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Bezpośrednie pomiary mikroskopowe, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Metalografia
Mikroskopia I, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Metalografia
Ocena mikrostruktury za pomoca skal wzorców, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Metalograf
PWTC C2, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab moje
Termoanemometr, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab wynik
Rotametr, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab wynik zajac
PWTC C1-C2, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab maciejko
PWTC B2, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab maciejko
PRZYRZĄDY POMIAROWE, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej
PWTC A1, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab moje
PWTC A2, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab moje
PWTC C1, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab moje
PWTC B2, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab moje
PWTC B1, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab moje
PWTC B1, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab maciejko
PWTC A2 02, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab moje
PWTC C2, UCZELNIA ARCHIWUM, UCZELNIA ARCHIWUM WIMiIP, Pomiary w Technice Cieplnej, lab moje

więcej podobnych podstron