POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA	Wydział MECHATRONIKI I BUDOWY MASZYN
Laboratorium Metrologii	Temat ćwiczenia: Analiza błędów przypadkowych w pomiarach bezpośrednich.
Robert Grzybowski	Grupa 32A Zespół II	Data: 28-09-1999

Opis stanowiska

Stanowisko pomiarowe wyposażone jest mikrometr zewnętrzny MMZc 0025/0.01 zamocowany na podstawce MMZn, na którym dokonywaliśmy serii pomiarów,- czujnika indukcyjnego ze wskazaniem odczytowo-sygnalizacyjnym MOWf zamocowanego na pionowej podstawce pomiarowej,- oraz z kompletu płytek wzorcowych. Za pomocą stosu płytek wzorcowych został ustawiony czujnik na określony wymiar15,5^-06.

Wyniki pomiarów

Lp	Ws. mikrometru	Ws. czujnika	Lp	Ws. mikrometru	Ws. czujnika
1	15,48	-20	26	15,50	-70
2	15,49	+10	27	15,49	-40
3	15,50	+18	28	15,52	-60
4	15,50	-5	29	15,51	-55
5	15,49	-5	30	15,49	-67
6	15,485	+3	31	15,49	-68
7	15,485	+15	32	15,49	-40
8	15,49	-1	33	15,49	-50
9	15,49	-60	34	15,49	-48
10	15,49	-50	35	15,50	-78
11	15,505	-5	36	15,49	-47
12	15,49	-10	37	15,50	-60
13	15,49	-15	38	15,50	-60
14	15,52	+10	39	15,48	-83
15	15,495	-55	40	15,50	-56
16	15,49	-50	41	15,48	-83
17	15,49	-65	42	15,49	-84
18	15,49	-70	43	15,48	-60
19	15,49	-47	44	15,48	-50
20	15,49	-70	45	15,50	-60
21	15,50	-45	46	15,505	-56
22	15,49	-62	47	15,50	-62
23	15,50	-58	48	15,485	-66
24	15,495	-80	49	15,49	-73
25	15,49	-49	50	15,50	-82

Błąd mikrometru -0,1mm

Odchyłki płytek wzorcowych 9mm^-0,4, 6mm^-0,4, 0,5mm^-0,2

Obliczenia

− Zakres zmienności W=max{15,52}-min{14,48}=1,04

− Wartość średnia x=15,4935

− Błąd średni kwadratowy pojedynczego pomiaru

=0,00193

− Błąd średni kwadratowy średniej arytmetycznej
=2,435•10^-7

− Współczynnik zmienności k= s/x =1,2457•10^-4

− Ostateczny wynik pojedynczego pomiaru x=x±t•s

Histogram

Wnioski

????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????

1

- 2 -

---