1972


Wydział Elektrotechniki i Elektroniki

Semestr III. Studia magisterskie.

Grupa dziekańska IX

Grupa na ćwiczeniach nr 66

SPRAWOZDANIE

Z ĆWICZEŃ W LABORATORIUM

ĆWICZENIE NR 10

TEMAT: Zastosowanie oscyloskopu w technice pomiarowej.

Data wykonania

ćwiczenia.

Podpis

Data oddania

sprawozdania

Podpis

15.I.1997

23.I.1997

Imię i nazwisko

Nr albumu

Ocena ustna

Ocena spraw.

Ocena

Uwagi

Jacek Budka

80837

Rafał Ptak

81113

I. Cel ćwiczenia.

Ćwiczenie ma na celu poznanie niektórych zastosowań oscyloskopu elektronicznego do pomiarów wielkości elektrycznych na przykładzie zdejmowania charakterystyk elementów półprzewodnikowych ( diod i tranzystorów ), wyznaczania charakterystyki amplitudowej i fazowej czwórnika.

II. Przebieg ćwiczenia.

Najszybszą metodą pomiaru statycznej charakterystyki napięciowo prądowej diod i tranzystorów jest zdjęcie ich za pomocą oscyloskopu.

II. Zdejmowanie charakterystyki diod.

0x01 graphic

Schemat układu do wyznaczania charakterystyk statycznych diod.

a) charakterystyka diody,

b) charakterystyka diody Zenera.


III. Zdejmowanie charakterystyki tranzystora.

Schemat układu do wyznaczania rodziny charakterystyk wyjściowych tranzystora

a)charakterystyka tranzystora.

IV. Badanie czwórnika.

Schemat blokowy do wyznaczania charakterystyk częstotliwościowych badanego czwórnika.

Tabela pomiarowa.

lp.

Pomiar K(ω)

Pomiar ϕ

ω

Uwe

Uwy

K(ω)

FG

EH

sin ϕ

ϕ

-

rad/s

V

V

-

mm

mm

-

°

1

628

5

5

1

12

68

0.18

10

2

1884

4

3.5

0.87

20

52

0.4

22.6

3

6280

3

1.5

0.5

36

46

0.8

51

4

62800

2.4

0.2

0.08

44

44

1

90

5

188400

2.4

0.05

0.02

30

30

1

90

Przykładowe obliczenia dla lp. 1.

FG i EH zostały oznaczone na charakterystykach.

sin ϕ =

ϕ = arcsin 0.18 = 10°

K(ω) =

V. Wnioski.

Za pomocą oscyloskopu można zmierzyć m.in. napięcie, częstotliwość, fazę oraz stosując odpowiednie przetworniki, różnorodne wielkości fizyczne dające przetworzyć się na wielkość elektryczną.

Charakterystyki, które obserwowaliśmy, tj. diody i diody Zenera oraz tranzystora obarczone mogą być błędem spowodowanym odczytem z lampy oscyloskopowej.

Badając czwórnik uzyskiwaliśmy różne elipsy w zależności od częstotliwości. I tak dla częstotliwości 100 Hz z wykresu widać, że amplitudy są jednakowe,ale są przesunięte w fazie. Gdyby były przesunięte o to otrzymalibyśmy okrąg. Dla częstotliwości 300 Hz i 1 kHz mamy to samo co dla częstotliwości 100 Hz lecz kąt przesunięcia fazowego jest większy. Dla częstotliwości 10 i 30 kHz otrzymaliśmy kąt przesunięcia fazowego 90°. Swoje pomiary zakończyliśmy przy częstotliwości 30 kHz, ponieważ dla wyższych częstotliwości obraz zmieniał swoje położenie i nie mogliśmy ustalić jego współrzędnych.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
1972
catalogue bsa 1972 franais
kro, ART 114(2) KRO, 1972
Księga 1. Proces, ART 394 KPC, 1972
Księga 1. Proces, ART 44 KPC, 1972
Księga 1. Proces, ART 44 KPC, 1972
[Papermodels@emule] [Maly Modelarz 1972 12] Fokker Dr I & SE 5a
Monachium 1972
[Papermodels@emule] [Maly Modelarz 1972 01] PZL 30, LWS 4 Zubr
1972
[Papermodels@emule] [Maly Modelarz 1972 06] Polish Galleon Smok
1972
(1972) Ancient Babylonian Algorithms (Knuth)id 891
[Papermodels@emule] [Maly Modelarz 1972 04] Tupolev Tu 144
[Papermodels@emule] [Maly Modelarz 1972 07] Detwoine D520
1972
Zobowiązania, ART 513 KC, 1972
kro, ART 52 KRO, Uchwała z dnia 27 marca 1972 r

więcej podobnych podstron