Próbkujące pomiary parametrów sygnałów napięciowych, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, sem IV


Politechnika Lubelska

w Lublinie

Laboratorium Metrologii

Ćwiczenie nr LV1

Imię i Nazwisko:

Jakub Machometa

Marcin Łupina

Michał Kryszczuk

Semestr: IV

Grupa: 4.3

Rok akademicki:

2009/2010

Temat: Próbkujące pomiary parametrów sygnałów napięciowych.

Data wyk.:

19.04.2010r

Ocena:

  1. Cel ćwiczenia:

Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z problematyką wyznaczania parametrów sygnałów napięciowych próbkujących układach pomiarowych, a w szczególności zbadanie wpływu sposobu próbkowania na błędy pomiaru.

  1. Schemat:

0x01 graphic

Rys.1. Schemat blokowy próbkującego układu pomiarowego.

  1. Wyniki pomiarów:

    1. Badanie szybkości próbkowania na błędy przetwarzania:

Parametry sygnału:

Asyg=

325,27V

fsyg=

50Hz

φsyg=

0°

Parametry próbkowania:

SR=

zmienne

Tp=

200ms

n=

zmienne

Lp.

SR

n

Umax

URSM

Usr

δ Umax

δ URSM

δ Usr

współ.

szczytu

ks

współ.

kształtu

kk

-

SPS

-

V

V

V

%

%

%

-

-

1

500

100

308,142

230,001

200,216

-5,2659

0

-3,3117

1,33974

1,414214

2

600

120

280,799

230,001

202,321

-13,6719

0

-2,2951

1,22086

1,13681

3

700

140

315,876

230,001

203,586

-2,888

0

-1,6842

1,37337

1,12975

4

800

160

301,129

230,001

204,405

-7,4219

0

-1,2884

1,30925

1,12522

5

900

180

319,077

230,001

204,966

-1,9039

0

-1,0175

1,38729

1,12214

6

1000

200

308,752

230,001

205,367

-5,0781

0

-0,8238

1,3424

1,11995

7

2000

400

325,27

230,001

206,647

0

0

-0,2057

1,41421

1,11301

8

3000

600

325,27

230,001

206,884

0

0

-0,0914

1,41421

1,11174

9

4000

800

325,27

230,001

206,967

0

0

-0,0514

1,41421

1,11129

10

5000

1000

325,27

230,001

207,005

0

0

-0,0329

1,41421

1,11109

11

6000

1200

325,27

230,001

207,026

0

0

-0,0228

1,41421

1,11097

12

7000

1400

325,27

230,001

207,039

0

0

-0,0168

1,41421

1,11091

13

8000

1600

325,27

230,001

207,047

0

0

-0,0129

1,41421

1,11086

14

9000

1800

325,27

230,001

207,052

0

0

-0,0102

1,41421

1,11083

15

10000

2000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

Tab.1. Wpływ szybkości próbkowania na błędy przetwarzania.

0x01 graphic

Wyk.1. Wykres zależności błędów δ Umax, δ URSM, δ Usr, w funkcji szybkości próbkowania SR.

    1. Badanie wpływu długości okna pomiarowego na błędy przetwarzania:

Parametry sygnału:

Asyg=

325,27V

fsyg=

50Hz

φsyg=

0°

Parametry próbkowania:

SR=

1000

Tp=

zmienne

n=

zmienne

Lp.

Tp

Nokr

Umax

URSM

Usr

δ Umax

δ URSM

δ Usr

współ.

szczytu

ks

współ.

kształtu

kk

-

ms

-

V

V

V

%

%

%

-

-

1

200

10000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

2

180

9000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

3

160

8000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

4

140

7000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

5

120

6000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

6

100

5000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

7

80

4000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

8

60

3000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

9

40

2000

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

10

39

1950

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

11

38

1900

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

12

37

1850

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

13

36

1800

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

14

35

1750

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

15

34

1700

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

16

33

1650

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

17

32

1600

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

18

31

1550

325,27

230,001

207,056

0

0

-0,0082

1,41421

1,11081

Tab.2. wpływ szybkości próbkowania na błędy przetwarzania.

0x01 graphic

Wyk.2. Wykres zależności błędów δ Umax, δ URSM, δ Usr, w funkcji długości okna pomiarowego.

    1. Badanie wpływu częstotliwości sygnału na błędy przetwarzania:

Parametry sygnału:

Asyg=

325,27V

fsyg=

zmienne

φsyg=

0°

Parametry próbkowania:

SR=

1000

Tp=

50ms

n=

50

Lp.

Tp

Nokr

Umax

URSM

Usr

δ Umax

δ URSM

δ Usr

współ.

szczytu

ks

współ.

kształtu

kk

-

ms

-

V

V

V

%

%

%

-

-

1

48

20,83

322,952

229,187

206,848

0,7127

-0,3535

-0,87

1,40912

1,108

2

48,2

20,75

323,901

228,732

206,86

-0,421

-0,5514

-0,1031

1,41607

1,10574

3

48,4

20,66

324,879

228,263

206,908

-0,1201

-0,7555

-0,0797

1,42327

1,10321

4

48,6

20,58

324,4

232,337

209,063

-0,2675

1,016

0,9607

1,4245

1,08656

5

48,8

20,49

324,477

227,783

209,637

-0,2437

-0,9642

1,2382

1,39625

1,11133

6

49

20,41

324,59

222,008

208,476

-0,2091

0,8727

0,6775

1,39905

1,11287

7

49,2

20,33

324,122

231,65

207,878

-0,3528

0,7171

0,3885

1,39919

1,1436

8

49,4

20,24

324,981

231,267

207,268

-0,0888

0,5506

0,0939

1,40522

1,11579

9

49,6

20,16

324,507

230,862

206,646

-0,2347

0,3746

-0,2064

1,40563

1,11719

10

49,8

20,08

324,603

230,439

206,012

-0,2052

0,1906

-0,5123

1,40863

1,11857

11

50

20,00

308,752

230,001

205,367

-5,0781

0

-0,8238

1,3424

1,11995

12

50,2

19,92

324,603

229,551

205,528

-0,2052

-0,1956

-0,7461

1,41408

1,11688

13

50,4

19,84

324,507

229,093

205,678

-0,3247

-0,3948

-0,6739

1,41649

1,11384

14

50,6

19,76

324,981

228,63

205,816

-0,0888

-0,5958

-0,6074

1,42143

1,11085

15

50,8

19,69

324,122

228,167

205,942

-0,3528

-0,7972

-0,5465

1,42055

1,10792

16

51

19,61

324,468

227,707

206,056

-0,2466

-0,9973

-0,4912

1,42494

1,10507

17

51,2

19,53

324,973

227,253

206,159

-0,0913

-1,1947

-0,4417

1,43001

1,10232

18

51,4

19,46

324,459

232,659

206,25

-0,2492

1,1559

-0,3978

1,39457

1,12805

19

51,6

19,38

324,368

232,253

207,265

-0,2774

0,9793

0,0924

1,39661

1,12056

20

51,8

19,31

324,719

231,833

208,76

-0,1694

0,965

0,8145

1,40066

1,11052

21

52

19,23

323,585

231,401

208,308

-0,5181

0,6088

0,596

1,39837

1,11086

Tab.3. wpływ częstotliwości na błędy przetwarzania.

Parametry sygnału:

Asyg=

325,27V

fsyg=

51,29Hz

φsyg=

0°

Parametry próbkowania:

SR=

zmienne

Tp=

50ms

n=

zmienne

Lp.

SR

n

Nokr

Umax

URSM

Usr

δ Umax

δ URSM

δ Usr

-

SPS

-

-

V

V

V

%

%

%

0

1000

50

19,49698

324,381

227,052

206,201

-0,2734

-1,2822

-0,4212

1

975

48,75

19,00955

323,586

230,06

206,681

-0,5177

0,0256

-0,1894

2

923

46,15

17,99571

319,242

229,974

204,983

-1,8533

-0,0114

-1,0097

3

872

43,6

17,00136

323,261

230,02

207,622

-0,6175

0,0041

0,2648

4

821

41,05

16,00702

301,129

230,048

204,525

-7,422

0,0207

-1,2305

5

769

38,45

14,99318

322,294

229,964

206,314

-0,9151

-0,0158

-0,3667

Tab.4. wpływ szybkości próbkowania w stosunku do częstotliwości sygnału.

0x01 graphic

Wyk.3. Wykres zależności błędów δ Umax, δ URSM, δ Usr, w funkcji częstotliwości sygnału.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
SPRAWOZDANIE LV1 METRO ELEK Próbkujące pomiary parametrów sygnałów napięciowych
próbkujące pomiary parametrów sygnałów napięciowych
Pomiary napięć, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, sem IV
Badanie instalacji niskiego napięcia, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, sem VI, VI-semestr, 03l
stany nieustalone w obwodach RLC zasilanych ze źródła napięcia stałego, Politechnika Lubelska, Studi
Pomiar i ocena hałasu v4, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Sprawozdania, Ergonomia
Pomiary sprawdzianów dwugraicznych poprawka, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, Nowy folder1
Urządzenia 2 - pomiar prędkosci łuku protokół, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, sem VI, z kser
Stacje - budowa rozdzielnicy niskiego napięcia, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Now
Czwórniki, Politechnika Lubelska, Studia, sem III, pen
BUEE alfabetycznie, Politechnika Lubelska, Studia, sem III, Bezpieczeństwo użytkowania urządzeń elek
Autentyczne dialogi pilotów, Politechnika Lubelska, Studia, sem III
Metoda prądów oczkowych, Politechnika Lubelska, Studia, sem III, materiały, Teoria Obwodów1, kabelki
bezpieczenstwo calosc 2, Politechnika Lubelska, Studia, sem III, Bezpieczeństwo użytkowania urządzeń
strona piotrka, Politechnika Lubelska, Studia, sem III, pen, METODY NUMERYCZNE, metody numeryczbe st

więcej podobnych podstron