PÓŁPRZEWODNIKI
ρmet << ρpp << ρizol
Przewodniki Półprzewodniki Dielektryki
10-8 ......10-7 10-5...............10+1 10+14 ........ 10+18 Ω • m
Cu Ge Si Mika Bursztyn
Zjawiska decydujące o zróżnicowaniu rezystywności:
1. W przewodnikach elektrony walencyjne mogą swobodnie poruszać się pomiędzy węzłami sieci krystalicznej ⇒ ρmet ≈
2. W p.p. oraz izolatorach elektrony walencyjne są związane z atomami
3. Energia aktywacji atomu izolatora >> atomu p.p.
4. Kryterium energetyczne 2 eV
5. Silna zależność ρpp i ρizol od zanieczyszczeń atomami innych pierwiastków
6. Wpływ temperatury:
ρpp szybko maleje przy wzroście temperatury (-5 do -10%/K)
ρmet rośnie przy wzroście temperatury (+0.3 do +0.6%/K)
7. Mechanizm przewodzenia prądu (przenoszenia ładunku):
metale przewodzą dzięki ruchomym elektronom (nośnikom ładunku ujemnego)
w p.p. przewodzenie odbywa się wskutek przepływu ładunków ujemnych i dodatnich, co potwierdzić można za pomocą doświadczeń opartych o zjawisko Halla.
Przez płytkę półprzewodnika umieszczoną w polu magnetycznym o indukcji Bz pomiędzy elektrodami 1 i 2 płynie prąd Ix.
Na nośnki q tworzące prąd Ix działa siła Lorentza:
Siła ta przemieszcza nośniki i w rezultacie powstaje nadmiar nośników po stronie elektrody 3 lub 4 a niedobór po stronach przeciwnych (4 lub 3)
Taka nierównoga ładunku wywołuje różnicę potencjałów (napięcie Halla) pomiędzy elektrodami 3 i 4.
Zwrot napięcia Halla daje jednoznaczne potwierdzenie znaku nośników ładunku.
Umieszczając w polu magnetycznym p.p. różnych typów (z przewagą nośników ujemnych lub dodatnich) można zaobserwować przeciwne zwroty napięcia Halla, co potwierdza istnienie w p.p. dwóch rodzajów nośników ładunku.
MODEL PASMOWY PÓŁPRZEWODNIKA
Model atomu krzemu wg Bohra
Powłoka M
(4 elektrony)
Powłoka K
Powłoka L (2 elektrony)
(8 elektronów)
Jądro (+14)
W takim modelu dla zrównoważenia sił przyciągania elektrostatycznego elektronom potrzebna jest odpowiednia energia kinetyczna.
Ponieważ średnice orbit są skwantowane to również energie elektronów na tych orbitach są skwantowane. Uwzględniając ponadto zasadę Pauliego* otrzymujemy model energetyczny dla odosobnionego atomu Si
Energia elektronu
Zasadę Pauliego można rozszerzyć na zbiór bliskopołożonych atomów. Np. jeżeli dwa atomy łączą w cząsteczkę to każdy poziom energetyczny ulega rozszczepieniu na dwa nieco odległe.
W rezultacie oddziaływania wielu atomów powstają ciągłe pasma energetyczne odpowiadające poszczególnym powłokom.
Np. dla zbioru atomów krzemu otrzymujemy model pasmowy:
pasmo przewodnictwa
przerwa energetyczna - pasmo zabronione
M pasmo energ. odpow. powłoce M - walencyjne
przerwa energetyczna
L pasmo energ. odpow. powłoce L
przerwa energetyczna
K pasmo energ. odpow. powłoce K
O właściwościach elektrycznych materiału decydują elektrony walencyjne, dlatego wystarczająco dokładny model pasmowy p.p. może zaczynać się od tego pasma:
Energia
Pasmo przewodnictwa
Pasmo zabronione
Pasmo podstawowe - walencyjne
GENERACJA I REKOMBINACJA
W temperaturze 0K wszystkie elektrony w atomach p.p. zajmują najniższe z możliwych poziomy energetyczne → nie ma swobodnych elektronów w pasmie przewodnictwa → p.p. jest dielektrykiem.
Atomy w sieci krystalicznej są rozmieszczone w takich odległościach, że ich powłoki walencyjne zachodzą wzajemnie na siebie. Para elektronów walencyjnych sąsiadujących ze sobą dwu atomów staje się wspólna dla obu tych atomów, atom wewnętrzny uzyskuje trwałą strukturę ośmioelektronową.
Do wyrwania elektronu walencyjnego z takiego wiązania (kowalentnego) konieczne jest dostarczenie elektronom dostatecznie dużej energii.
Np. dla krzemu wynosi ona 1.12 eV.
W p.p. czystym chemicznie (samoistnym) po przejściu elektronu z pasma walencyjnego do pasma przewodnictwa powstaje po nim „dziura” w pasmie walencyjnym:
Energia
elektron
Pasmo przewodnictwa
Pasmo zabronione
Pasmo walencyjne
dziura po elektronie
Generacja pary: elektron-dziura
Z ostatniego rysunku ⇒
Generacja pary elektron-dziura może nastąpić gdy dostarczona energia > Ec - Ev
W p.p. samoistnym liczba elektronów równa jest liczbie dziur
Istnieją dwa rodzaje nośników ładunku:
elektrony w pasmie przewodnictwa oraz
dziury w pasmie podstawowym.
Zjawiskiem odwrotnym do generacji jest rekombinacja.
Przyczyną rekombinacji jest utrata energii elektronów np. w wyniku zderzeń z siecią krystaliczną.
Skutkiem rekombinacji jest zanikanie par elektron-dziura i wypromieniowanie pozostałej energii.
Przepływ prądu w p.p. jest wypadkowym efektem generacji i rekombinacji.
W stanie równowagi: szybkość generacji ≡ szybkości rekombinacji.
WPŁYW TEMPERATURY NA WŁAŚCIWOŚCI P.P.
Jeżeli w p.p. samoistnym koncentracja elektronów wynosi ni a koncentracja dziur pi to na podstawie definicji p.p. samoistnego słuszny jest zapis: ni ·pi= ni2.
Czynnik ni2 jest wykorzystywany do opisu zależności koncetracji nośników od temperatury:
ni2=A·T3exp[-(ΔE/k·T)]
gdzie: ΔE= Ec - Ev - szerokość pasma zabronionego
k - stała Boltzmanna (1,38·10-23 J/K)
T - temperatura bezwzględna w K
A - stały współczynnik
Dla T=300K
ASi=7,96·1021 ΔESi=1,12 eV niSi=?
AGe=1,83·1021 ΔEGe=0,67 eV niGe=?
POŁPRZEWODNIKI DOMIESZKOWANE
Domieszkowanie donorowe: wprowadzanie do p.p. samoistnego, niewielkiej, ściśle określonej ilości pierwiastka V grupy np. arsenu Ar, antymonu Sb, bizmutu Bi.
Model pasmowy półprzewodnika
domieszkowanego donorami
PÓŁPRZEWODNIKI DOMIESZKOWANE
Jonizacja domieszki: przeniesienie wszystkich piątych elektronów pochodzących z atomów donora do pasma przewodnictwa.
Wpływ temperatury na jonizację atomów domieszek
PÓŁPRZEWODNIKI DOMIESZKOWANE
Domieszkowanie akceptorowe: wprowdzenie do p.p. samoistnego, niewielkiej, ściśle określonej ilości pierwiastka III grupy np. glinu Al, galu Ga, indu In.
Model pasmowy półprzewodnika
domieszkowanego akceptorami
BEZZŁĄCZOWE ELEMENTY PÓŁPRZEWODNIKOWE
Warystory (VARIable resiSTOR) - są to rezystory wykonane z półprzewodnika, których rezystancja zależy od napięcia doprowadzonego do ich zacisków.
Symbol graficzny warystora
Warystory wytwarza się technologią spiekania mieszaniny sproszkowanych materiałów. Przy czym w największych ilościach z węglika krzemu SiC, nowsze zaś typy z tlenku cynku ZnO i bismutu BiO.
Zastosowania warystorów:
w układach ochrony urządzeń elektrycznych przed przepięciem;
w układach stabilizacji prądów i napięć;
w kształtowaniu przebiegów elektrycznych prądów i napięć.
Termistory - są to elementy półprzewodnikowe, bezzłączowe, których rezystancja jest funkcją temperatury.
Symbol graficzny termistora
Symbol graficzny termistora podgrzewanego pośrednio w bańce wypełnionej gazem
Ze względu na przebieg charakterystyki rezystancyjno-temperaturowej R=f(T) termistory dzieli się na 3 grupy:
a) NTC - Negative Temperature Coefficent, termistory o ujemnym współczynniku temperaturowym;
b) PTC - Positive Temperature Coefficent, termistory o dodatnim współczynniku temperaturowym;
c) CTR - Critical Temperature Resistor, rezystory o temperaturze krytycznej
Zastosowania termistorów:
a) do pomiarów: temperatury metodą oporową, mocy w zakresie mikrofal, ciśnienia gazów, poziomu cieczy;
b) w układach sygnalizacji, regulacji i stabilizacji temperatury;
c) do kompensacji temperaturowej układów elektronicznych.
Hallotrony są elementami półprzewodnikowymi wykorzystującymi zjawisko Halla. Nazywane również czujnikami lub generatorami Halla.
Zastosowanie hallotronów:
do pomiaru natężenia pola magnetycznego;
w układach współpracujących z magnesami trwałymi do pomiaru, regulacji i stabilizacji pola magnetycznego;
jako wyłączniki bezkontaktowe.
Gaussotrony - są to elementy półprzewodnikowe o rezystancji zależnej od pola magnetycznego (magnetorezystory).
W przebiegu zależności rezystancji gaussotronu od indukcji pola magnetycznego można wyróżnić:
zakres kwadratowy, w którym zmiany rezystancji są proporcjonalne do kwadratu indukcji;
zakres liniowy, w którym zmiany rezystancji są proporcjonalne do indukcji.
Właściwości temperaturowe gaussotronów charakteryzuje dopuszczalna temperatura pracy Tmax i temperaturowy współczynnik magnetorezystancji.
Temperaturowy współczynnik magnetorezystancji jest nieliniową funkcją temperatury i zależy również od indukcji pola magnetycznego.
ZŁĄCZE p-n
Złącze p-n powstaje w rezultacie połączenia (zbliżenia na odległość międzyatomową) dwóch półprzewodników typu „p” i typu „n”.
Rozkład koncentracji nośników przed połączeniem półprzewodników - linie ciągłe
oraz po ich połączeniu - linie przerywane
Wniosek: granica złącza wnika głębiej do p.p. słabiej domieszkowanego.
Wskutek różnych gęstości nośników w połączonych p.p. wystąpi ich dyfuzja (do obszarów o mniejszej gęstości):
Zwroty dyfuzji / odpływu nośników
W efekcie dyfuzyjnego odpływu nośników powstają w złączu nieruchome jony domieszek:
W obszarze <-xp, xn> nie ma ruchomych nośników ładunku, ma on więc dużą rezystywność i nazywany jest warstwą zaporową złącza.
Jony tworzą nieskompensowany lokalnie ładunek przestrzenny:
Z ładunkiem przestrzennym ρ związane jest prawem Gaussa pole elektryczne:
gdzie: S - oznacza powierzchnię obejmującą obszar o objętości V,
ε - stałą dielektryczną p.p.
W rozpatrywanym przypadku jednowymiarowym, pole elektryczne ma tylko składową wzdłuż x, więc można zapisać:
gdzie: x' - jest zmienną pomocniczą.
Granice całkowania
bo ρ na zewnątrz warstwy zaporowej jest = 0.
Przedstawiony na ostatnim rysunku rozkład gęstości ładunku można scałkować graficznie:
Obecność ładunku przestrzennego wywołuje różnicę potencjałów pomiędzy p.p. typu „p” i „n”, nazywaną napięciem dyfuzyjnym UB lub barierą potencjału, która jest równa:
Po przekształceniach:
Gdy T=300K ⇒ UBSi ≅ 0,8V, UBGe ≅ 0,2V.
Pole elektryczne i bariera potencjału mają takie zwroty, że powstrzymują dalszy odpływ dyfuzyjny nośników większościowych:
Zwrot pola jest taki, że jednocześnie wspomaga ruch nośników mniejszościowych przez złącze:
Nośniki mniejszościowe, które przeszły przez złącze, obniżają wysokość bariery potencjału (częściowo neutralizują nieskompensowany ładunek przestrzenny), co umożliwia dalszy dyfuzyjny przepływ nośników większościowych.
Po pewnym czasie następuje równowaga i suma wszystkich prądów płynących przez złącze (dwóch dyfuzyjnych i dwóch unoszenia) wynosi zero.
Dokładniej: przy braku napięcia polaryzacji zewnętrznej, dyfuzja dziur z obszaru „p” do obszaru „n” jest równoważona unoszeniem dziur w stronę przeciwną.
Podobnie, dyfuzja elektronów z obszaru „n” do obszaru „p” jest równoważona przez unoszenie elektronów w stronę przeciwną.
ZAKŁÓCENIE RÓWNOWAGI W ZŁĄCZU p-n
Barierę potencjału można zmieniać np. za pomocą zewnętrznego źródła napięcia dołączonego do złącza p-n.
1. Napięcie zewnętrzne zgodnie dodaje się do napięcia bariery:
Zewnętrzne źródło U wspomaga barierę potencjału złącza ⇒
↑.
Wzrost
powoduje silne ograniczenie prądów dyfuzyjnych nośników większościowych i jednoczesny nieznaczny wzrost prądów unoszenia (dryftu) nośników mniejszościowych.
W rezultacie, przez złącze i w obwodzie zewnętrznym płynie niewielki prąd wypadkowy (rzędu μA) a ten sposób polaryzacji złącza nazywany jest polaryzacją zaporową lub wsteczną.
2. Polaryzacja przewodzenia
Zewnętrzne źródło U osłabia barierę potencjału złącza ⇒
↓.
Zmniejszenie
powoduje b. silny wzrost prądów dyfuzyjnych nośników większościowych i jednoczesne zmniejszenie prądów unoszenia nośników mniejszościowych.
Źródło zewnętrzne przeciwdziała napięciu dyfuzyjnemu, bariera potencjału maleje o wartość napięcia zewnętrznego i wynosi: UB-U.
Prąd dyfuzji nośników większościowych jest znacznie większy niż prąd unoszenia nośników mniejszościowych.
W efekcie przez złącze (i w obwodzie zewnętrznym) płynie znaczny prąd (dziesiątki mA - tysiące A) tzw. prąd przewodzenia.
Czy jest możliwa całkowita kompensacja napięcia bariery (np. za pomocą napięcia zewnętrzego)?
CHARAKTERYSTYKA PRĄDOWO-NAPIĘCIOWA ZŁĄCZA p-n
Wypadkowy prąd I płynący przez „teoretyczne” złącze p-n jest wykładniczą funkcją napięcia na złączu:
Prąd nasycenia złącza IS ma postać:
gdzie: Dn , Dp - współczynniki dyfuzji elektronów bądź dziur,
Ln , Lp - długości drogi dyfuzyjnej elektronów bądź dziur, definiowana jako odległość, na której koncentracja nośników maleje e-krotnie (około 63%), przy czym:
,
gdzie: τn , τp czas życia nośników mniejszościowych - elektronów bądź dziur.
Przykładowe wartości współczynników dyfuzji dla T=300K
|
Si |
Ge |
Dn[m2/s] |
33,8⋅10-4 |
98,8⋅10-4 |
Dp[m2/s] |
13⋅10-4 |
46,8⋅10-4 |
Z wzoru na prąd nasycenia złącza ⇒ że zależy on od koncentracji nośników mniejszościowych ⇒ IS jest bardzo silnie rosnącą funkcją temperatury.
W prostych zastosowaniach, przy ustalonej temperaturze T=300K, można skorzystać z przybliżenia:
Charakterystyka I=f(U) rzeczywistej diody p.p. różni się od charaktrystyki „teoretycznej” ponieważ
napięcie na przewodzącym złączu jest mniejsze od doprowadzonego do diody wskutek spadku napięcia na rezystancjach p.p.
prąd wsteczny jest większy od prądu nasycenia złącza IS wskutek skończonej rezystywności (upływności) warstwy zaporowej.
STATYCZNY SCHEMAT ZASTĘPCZY DIODY
Jeżeli wypadkową rezystancję szeregową obszarów „p” oraz „n” oznaczymy przez RS, natomiast rezystancję upływu warstwy zaporowej oznaczymy przez RU, wówczas rzeczywistą diodę p.p. można przedstawić:
RS waha się od setek omów w diodach małej mocy do ułamków oma w diodach dużej mocy ⇒ spadek napięcia UR nie przekracza pojedynczych mV. RS zależy również od rodzaju p.p.: RSSi < RSGe.
RU wynosi od kilkuset MΩ w diodach małej mocy do kilkudziesięciu kΩ w diodach dużej mocy. W takiej samej temperaturze RUSi >> RUGe.
PARAMETRY DIODY
Rezystancja statyczna
Rezystancja dynamiczna
Jeżeli napięcie na diodzie zmienia się wokół pewnej stałej wartości U0, to można mówić tylko o uśrednionej rezystancji tej diody:
Konduktancja dynamiczna: gd=1/rd
Moc admisyjna
- maksymalna moc Pa , która może być wydzielana w diodzie bez jej uszkodzenia:
Maksymalne napięcie polaryzacji wstecznej URMAX
Maksymalna temperatura złącza Tj
PARAMETRY DYNAMICZNE DIODY „TEORETYCZNEJ”
Przyjmując, że U=UD, I=ID otrzymujemy:
Różniczkując
można wyznaczyć konduktancję dynamiczną złącza:
I. Dla polaryzacji przewodzenia ID >> IS ⇒
lub
II. Przy polaryzacji zaporowej, dla napięć
otrzymujemy
DYNAMICZNY SCHEMAT ZASTĘPCZY DIODY
W dostatecznie małym otoczeniu punktu pracy U0 diodę „teoretyczną” można zastąpić dwójnikiem o konduktancji gd:
Aby schemat zastępczy był słuszny również w zakresie wyższych częstotliwości musi uwzględniać on elementy reaktancyjne.
POJEMNOŚCI W DIODZIE P.P.
Pojemność elektryczna warstwy zaporowej złącza Ct tzw. pojemność bariery związana jest z gromadzeniem ładunku jonów na granicy złącza:
W celu uzyskania dużego zakresu zmian Ct(U) stosuje się odpowiednie technologie budowy złącza. Otrzymane w taki sposób elementy p.p. nazywane są diodami pojemnościowymi.
Podział diod pojemnościowych:
warikapy - są to elementy o zmiennej pojemności stosowane głównie w układach automatycznego przestrajania obwodów rezonansowych,
waraktory - są diodami o zmiennej reaktancji spełniającymi funkcję elementów czynnych w układach parametrycznych, są nazywane diodami parametrycznymi. Są przeznaczone do pracy przy bardzo wielkich częstotliwościach.
Przy polaryzacji przewodzenia obserwowana pojemność złącza wiąże się z gromadzeniem nośników mniejszościowych na granicy obszarów „p” oraz „n” i nazywana jest pojemnością dyfuzyjną Cd.
Teraz można skonstruować schemat zastępczy złącza p-n słuszny również w zakresie dużych częstotliwości:
Znajomość elementów tego schematu pozwala na obliczenie granicznej pulsacji pracy diody:
Uwaga! Istnieje możliwość powstania rezonansu elektrycznego (LS,Cj,C0)
DIODA STABILIZACYJNA - ZENERA
Silne domieszkowanie prowadzi do postania bardzo cienkiego złącza (rzędu 10-8 m), w którym natężenie pola elektrycznego ma bardzo dużą wartość (np. 108 V/m).
Przy zaporowej polaryzacji takiego złącza, pasmo przewodnictwa obszaru „n” zachodzi na pasmo podstawowe obszaru „p”:
Z modelu pasmowego ⇒ możliwość przechodzenia nośników przez złącze bez dostarczania im dodatkowej energii (niezbędną energię dostarcza źródło polaryzacji zewnętrznej).
Takie przechodzenie nośników przez złącze nazywane jest przebiciem Zenera, a diodę w której ono występuje - diodą Zenera.
W wyniku zderzeń występujących w trakcie przebicia lawinowego powstają pary elektron-dziura, zwiększające (lawinowo) prąd wsteczny złącza.
PARAMETRY DIODY ZENERA
Napięcie Zenera UZ - wynosi od kilku do kilkudziesięciu voltów
Rezystancja dynamiczna DZ
Temperaturowa stabilność napięcia Zenera:
Współczynnik ten zależy od koncetracji domieszek i ma tym większą wartość im złącze jest silniej domieszkowane; typowo: [2÷10]⋅10-4 1/K.
DZ znajduje zastosowanie w układach stabilizacji napięcia jako źródło napięcia odniesienia:
Przy założeniu, że napięcie wejściowe zmienia się w zakresie od U1'do U1'', przeprowadzimy analizę graficzną obwodu:
Jaka charakterystyka diody stabilizacyjnej zapewni
, czyli idealną stabilizację napięcia? Ile wynosi wtedy rezystancja dynamiczna?
-----------------------------------------------------------------------------------------
Analiza stabilizatora napięcia z DZ może być prowadzona ze względu na wartość rezystancji obciążenia:
DIODA TUNELOWA - ESAKIEGO
W złączu utworzonym z obszarów „n” i „p” p.p. zdegenerowanego warstwa zaporowa jest tak cienka, że bez polaryzacji zewnętrznej E ≅ 108 V/m.
W takim złączu przebicie Zenera może wystąpić już przy bardzo małym napięciu polaryzacji zaporowej a nawet przy polaryzacji przewodzenia.
Przy zwiększaniu dodatniego napięcia polaryzacji zewnętrznej, przebicie Zenera zanika (bo E↓). Dla powstrzymania zjawiska Zenera wystarcza napięcie przewodzenia 0,1÷0,2 V.
Przy dalszym zwiększaniu napięcia przewodzenia pojawia się wstrzykiwanie do warstwy zaporowej nośników mniejszościowych (co obniża barierę potencjału) a wtedy prąd wzrasta ponownie:
Symbol graficzny DT
DIODY IMPULSOWE
DI stosowane są głównie w układach impulsowych gdzie pełnią funkcję elementów przełączających (kluczy).
Element przełączający powinien charakteryzować się:
bardzo małą rezystancją w stanie włączenia ron
bardzo dużą rezystancją w stanie wyłączenia roff
małą bezwładnością → krótkim czasem przełączania trr
Wymagania te spełniają:
- epitaksjalno-planarne (epiplanarne) złącza p-n domieszkowane złotem, dla których osiągalny czas przełączania wynosi około 0,1ns ⇒ fgr≅10 GHz
diody ze złączem metal-półprzewodnik np. złoto-german (m-s, nazywane diodami Schottky'ego), dla których fgr≅100 GHz
diody ostrzowe, dla których fgr≅2000 GHz
Schemat konstrukcyjny diody epitaksjalno-planarnej
Diody epitaksjalno-planarne (epiplanarne): na materiale wyjściowym typu n+ silnie domieszkowanym zwanym podłożem, osadza się cienką warstwę epitaksjalną o słabym domieszkowaniu, tego samego typu co podłoże. Warstwę epitaksjalną pokrywa się dwutlenkiem krzemu (SiO2), a następnie przez specjalnie przygotowane okno w SiO2 wprowadza się domieszkę donorową tworzącą obszar p. Na ten obszar nakłada się kontakt metalowy.
Schemat konstrukcyjny diody ostrzowej
Główną cechą diod ostrzowych jest bardzo mała powierzchnia złącza (rzędu od 10-3 do 10-4 mm2), związana w tym nieznaczna pojemność, dlatego diody ostrzowe można stosować w zakresie wielkich częstotliwości.
DIODA PROSTOWNICZA
DP stosuje się głównie w układach prostowniczych urządzeń zasilających, gdzie spełniają funkcję jednokierunkowego zaworu przekształcającego prąd przemienny w jednokierunkowy prąd pulsujący.
Charakterystyka diody prostowniczej
W projektowaniu układów prostowniczych należy uwzględnić wartości graniczne prądów i napięć:
Dopuszczalny średni prąd przewodzenia IF(AV), jaki może przepływać przez diodę w kierunku przewodzenia. Wartości prądu IF(AV) wynoszą od kilkudziesięciu mA do kilku kA.
Dopuszczalne średnie napięcie przewodzenia UF(AV).
Maksymalne straty mocy Pmax przy danej temperaturze otoczenia (zwykle 300K). Wynoszą one od kilkuset mW do kilku kW.
Dopuszczalna temperatura złącza Tjmax (dla diod germanowych 353K czyli 80°C, dla diod krzemowych 423K czyli 150°C).
Współczynnik prostowania kpr
Współczynnik ten jest równy stosunkowi prądu przewodzenia do prądu wstecznego lub stosunkowi rezystancji wstecznej RR do rezystancji przewodzenia RF - przy jednakowych wartościach napięć przewodzenia i wstecznego, czyli:
Połączenie równoległe diod
Stosuje się je w celu zwiększenia obciążalności prądowej. Tak łączone diody powinny mieć identyczne charakterystyki w kierunku przewodzenia. Aby przez każdą z nich płynął jednakowy prąd wymaga to uprzedniej selekcji diod lub też wyrównania rozpływu prądów np. rezystorami.
Połączenie szeregowe diod
Stosuje się w celu zwiększenia dopuszczalnego napięcia wstecznego. Rozrzut charakterystyk wstecznych może doprowadzić do znacznych różnic w rozkładach napięcia na poszczególnych diodach. Konieczne jest zatem stosowanie układów wyrównujących rozkład napięć, np. dzielników rezystancyjno - pojemnościowych.
DIODA ELEKTROLUMINESCENCYJNA -LED
LED emituje promieniowanie optyczne wytwarzane w procesie rekombinacji promienistej nośników. Potrzebną energię nośniki uzyskują ze źródła zewnętrznego, polaryzującego diodę w kierunku przewodzenia. Rekombinujące nośniki, tracąc energię równą szerokości pasma zabronionego emitują promieniowanie o długości fali hf.
Właściwości diody LED
UF - napięcie przewodzenia dla diody świecącej
na czerwono: ok. 1,6 V
na zielono: ok. 2,6 V
IF(AV) - średni prąd przewodzenia: 20÷100 mA
URRM - maksymalne napięcie wsteczne: 3÷5 V
IV - światłość jest proporcjonalna do prądu przewodzenia IF
FOTODIODA
Działanie fotodiody jest oparte o zjawisko fotoelektryczne wewnętrzne:
Czułość fotodiody zależy od długości fali padającego promieniowania i dla diod krzemowych jest największa dla fali około 0,7 μm.
W fotoogniwie, pod wpływem oświetlenia wytwarzana jest siła elektromotoryczna polaryzująca złącze w kierunku przewodzenia, a kierunek płynącego prądu jest przeciwny do kierunku przewodzenia diody.
TRANZYSTORY
TRANsfer reSISTOR - element transformujący rezystancję.
Tranzystory bipolarne (TB) - wykorzystują dwa rodzaje nośników (ze względu na ich polarność czyli znak przenoszonego ładunku elektrycznego).
Stawiamy hipotezę: TB jest sterowanym źródłem prądowym (tzn. źródłem o stałej wydajności prądowej czyli o nieskończenie dużej rezystancji wewnętrznej).
Żródłem prądowym ale o ustalonej wydajności (niesterowanym) jest złącze p-n spolaryzowane zaporowo:
Jak można wpływać na prąd wsteczny złącza? Jedną z możliwości przedstawiono na rysunku:
Nośniki można doprowadzać (wstrzykiwać) z zewnątrz, np. z sąsiedniego złącza n-p spolaryzowanego w kierunku przewodzenia:
Źródło prądu IR w postaci złącza (p-n) spolaryzowanego zaporowo sterowane prądem nośników większościowych IF z sąsiedniego złącza (n-p) spolaryzowanego w kierunku przewodzenia ma strukturę jak na rysunku:
TRANZYSTOR BIPOLARNY WARSTWOWY
Przestrzenny rozkład koncentracji domieszek w bazie może być równomierny (tranzystor z jednorodną bazą - dyfuzyjny) lub nierównomierny (tranzystor z niejednorodną bazą - dryftowy).
Symbole graficzne TB:
Tranzystor jest elementem trójkońcówkowym, gdy traktujemy go jako czwórnik (element czterokońcówkowy) jedną końcówkę ma wspólną dla wejścia i wyjścia ⇒ istnieje sześć kombinacji połączeń ale tylko trzy zapewniają wzmocnienie mocy sygnału (te, dla których baza jest jedną z końcówek wejściowych), są to:
Podane trzy układy różnią się właściwościami: wartością wzmocnienia, szerokością pasma przenoszenia, rezystancją wejściową i wyjściową.
Jeżeli TB wykorzystywany jest do liniowego wzmacniania sygnału (bez zniekształceń), to złącze E-B powinno być spolaryzowane w kierunku przewodzenia, a złącze B-C w kierunku zaporowym - jest to tzw. polaryzacja normalna.
Przy polaryzacji normalnej pomiędzy potencjałami elektrod zachodzą relacje:
dla tranzystora p-n-p ⇒ UE > UB > UC
dla tranzystora n-p-n ⇒ UC > UB > UE
Opis działania TB n-p-n w zakresie normalnym:
Elektrony są wstrzykiwane z emitera do bazy (prąd emitera) pod wpływem napięcia UBE doprowadzonego w kierunku przewodzenia.
Następnie nośniki wstrzykiwane do bazy przesuwają się w stronę kolektora przy czym znikoma ich część rekombinuje z dziurami tworząc prąd bazy.
Większość elektronów jest odbierana przez silne pole elektryczne w warstwie zaporowej złącza baza-kolektor tworząc prąd kolektora.
W ogólnym przypadku istnieją cztery sposoby polaryzacji złączy TB:
ROZPŁYW PRĄDÓW W TB
Z ostatniego rysunku ⇒
całkowity prąd kolektora:
natomiast prąd bazy:
po zsumowaniu IC i IB:
a stąd suma prądów: IE=IC+IB ⇒ prawo rozpływu prądów w TB
CHARAKTERYSTYKI STATYCZNE TB
W stanie statycznym (w ustalonym punkcie pracy) tranzystor można opisać za pomocą czterech wielkości:
Dla takiego czwórnika definjuje się cztery rodziny charakterystyk:
Charakterystyki statyczne można sporządzić dla każdego układu połączeń tranzystora. Rozważmy układ OB:
Z charakterystyki wejściowej
można np. metodą graficzną
wyznaczyć dynamiczną
rezystancję wejściową tranzystora:
Charakterystyka przejściowa w OB:
Z powyższego rysunku ⇒ silniejsza polaryzacja zaporowa złącza B-C powodując zmniejszenie szerokości bazy (głębsze wnikanie do bazy warstwy zaporowej złącza B-C czyli tzw. modulację szerokości bazy), skutkuje zmniejszeniem rekombinacji w cieńszej bazie, zatem współczynnik wzmocnienia prądowego α↑ gdy
↑.
Charakterystyka wyjściowa w OB:
W praktyce rwy jest większa, np. > 1 MΩ ⇒ obwód wyjściowy tranzystora w OB posiada właściwości źródła prądowego ⇒ prąd IC jest niezależny od rezystancji obciążenia a jedynie od IE.
Rozważmy teraz tranzystor w układzie OE:
Podstawiając prawą stonę ostatniego równania do prawa rozpływu prądów w TB otrzymujemy:
co zwykle zapisuje się:
Charakterystyka wejściowa w OE:
⇒ rweOE >> rweOB
Charakterystyka przejściowa w OE:
Uwaga!
Prąd zerowy ICE0 w OE jest (β+1) razy większy niż ICB0 w OB.
Charakterystyka wyjściowa w OE:
Uwaga!
Wszystkie charakterystyki tranzystora podawane są dla określonej temperatury.
METODY OPISU WŁAŚCIWOŚCI TRANZYSTORÓW
Znajomość pełnych charakterystyk statycznych tranzystora (elementu nieliniowego) nie zawsze jest konieczna. Często wystarcza znajomość parametrów tego elementu w otoczeniu wybranego punktu pracy:
W ogólnym przypadku tranzystor może być opisany za pomocą modelu:
statycznego (niskoczęstotliwościowego) bądź dynamicznego (w.cz.)
małosygnałowego (liniowego) bądź wielkosygałowego (nieliniowego)
Istnieją dwa rodzaje modeli liniowych tranzystora:
czwórnikowy, który umożliwia łatwą analizę zależności pomiędzy prądami i napięciami w końcówkach tranzystora,
fizyczny, to schemat zastępczy zbudowany z elementów reprezentujących zjawiska fizyczne w tranzystorze.
Parametry liniowego modelu statycznego mogą być wyznaczone w otoczeniu punktu pracy z charakterystyk statycznych tranzystora.
Ponieważ TB składa się z dwu złączy przeciwstawnie (n-p, p-n) połączonych szeregowo, zatem najprostszy nieliniowy model statyczny może być przedstawiony jako połączenie dwu diod:
IdE, IdC - prądy złączy emiterowego i kolektorowego, traktowanych jako niezależne diody:
Jeżeli TB pracuje w zakresie normalnym, to przez złącze B-C oprócz prądu wstecznego IdC płynie również prąd nośników wstrzykiwanych ze złącza E-B, czyli prąd αN ⋅IdE pokazany w schemacie zastępczym jako źródło prądowe włączone równolegle do diody B-C:
W przypadku pracy TB w zakresie nasycenia oraz inwersyjnym to przez złącze E-B oprócz prądu wstecznego IdE płynie również prąd nośników wstrzykiwanych ze złącza C-B, czyli prąd αI ⋅IdC pokazany w schemacie zastępczym jako źródło prądowe włączone równolegle do diody E-B:
αN - wzmocnienie prądowe w kierunku normalnym (od emitera do kolektora)
αI - wzmocnienie prądowe w kierunku inwersyjnym (od kolektora do emitera)
W rzeczywistych TB: αN >>αI ⇒ TB nie działa symetrycznie ⇒ kolektor i emiter nie są końcówkami w pełni zamienialnymi.
Model Ebersa-Molla może być również wykorzystany do opisu TB w warunkach dynamicznych. W tym celu statyczny model Ebersa-Molla uzupełniany jest pojemnościami złączowymi:
CZWÓRNIKOWE MODELE TB
Jeżeli linearyzowany TB zostanie pobudzony sygnałem harmonicznym
to stosując zapis wskazowy otrzymujemy:
Do opisu tak powstałego czwórnika liniowego można wykorzystać różne zależności pomiędzy napięciami i prądami na wejściu i wyjściu i otrzymać odpowiednie układy równań opisujące ten czwórnik, np.:
W praktyce najczęściej stosowany jest opis TB za pomocą równań hybrydowych:
Synteza modelu TB opisanego równaniami hybrydowymi:
Z równań czwórnikowych wynikają definicje poszczególnych elementów macierzy [h]:
Z definicji współczynników hij widać, że łatwo jest zrealizować układy do ich pomiaru. Ćw.: Narysować odpowiednie układy pomiarowe, np.:
W ogólnym przypadku współczynniki hij są liczbami zespolonymi. W zakresie małych częstotliwości współczynniki hij można przybliżyć za pomocą Re[hij].
Uwaga! Współczynniki hij wyznaczone z ch-k statycznych są zawsze pozbawione części urojonej i dlatego są niesłuszne w zakresie wielkich częstotliwości.
Wartości elementów powyższego schematu zastępczego zależą od konfiguracji tranzystora.
W celu zaznaczenia do jakiej konfiguracji odnoszą się one, stosuje się dodatkowe indeksy literowe b, e oraz c:
hijb lub [h]b ⇒ OB hije lub [h]e ⇒ OE hijc lub [h]c ⇒ OC
W literaturze anglojęzycznej i katalogach firm zagranicznych często indeks dwucyfrowy zastępuje się jedną literą według klucza:
h11→hi (input - wejście), h12→hr (reverse - oddziaływanie zwrotne), h21→hf (forward - przenoszenie w przód), h22→ho (output - wyjście).
Zatem: hib ≡ h11b, hfe ≡ h21e, itp.
Istnieją wzory, które pozwalają na obliczenie współczynników hij dla wybranej konfiguracji, jeżeli znane są dla innej konfiguracji.
Bardziej uniwersalny jest schemat zastępczy fizyczny typu T, którego elementy nie zależą od konfiguracji tranzystora:
Powyższy schemat jest słuszny dla konfiguracji OB i dla sygnałów m.cz. o niewielkich amplitudach (założono liniowość w otoczeniu punktu pracy).
Znając elementy re, rb, rc, α łatwo można skonstruować schemat zastępczy typu T dla dowolnej konfiguracji.
W celu otrzymania schematu T dla konfiguracji OE należy zauważyć, że w schemacie dla OB prąd Ic ma dwie składowe:
otrzymujemy:
często współczynnik
oznacza się symbolem
Korzystając z ostatniego równania można narysować schemat zastępczy typu T dla OE:
Zależności pomiędzy parametrami schematu typu T oraz parametrami hybrydowymi dla różnych konfiguracji przedstawiono w tabeli:
|
Konfiguracja |
||
|
OB |
OE |
OC |
h11 |
|
|
|
h12 |
|
|
|
h21 |
|
|
|
h22 |
|
|
|
Ćw.: Sporządzić tabelę wartości współczynników [h]b, [h]e, [h]c, jeżeli dla tranzytora małej mocy parametry schematu T mają wartości: re=25Ω, rb=300Ω, rc=1MΩ, α=0,99.
PODSTAWY ELEKTRONIKI Jacek Zientkiewicz
__________________________________________
POLITECHNIKA LUBELSKA 86
Tak połączone dwa złącza mogą być wykorzystane jako sterowane źródło prądowe, którego typowe charakterystyki przedstawia rysunek:
Przytoczone rozumowanie potwierdza hipotezę ⇒ TB można traktować jak sterowane źródło prądowe:
Elektrony nn po przejściu z obszaru „n” do obszaru „p” stają się nośnikami mniejszościowymi np.
W ten sposób otrzymujemy żródło prądowe sterowane za pomocą temperatury.
Taka metoda sterowania prądem ma niewielkie znaczenie praktyczne.
Jak można zrealizować to w praktyce?
Zmieniając temperaturę złącza:
Z rysunku ⇒ na prąd wsteczny IR można wpływać zmieniając liczbę nośników mniejszościowych po obu stronach złącza.
Symbol graficzny fotodiody
Symbol graficzny diody elektroluminescencyjnej - LED.
Barwa promieniowania zależy od rodzaju p.p. i domieszek. Diody IR wytwarzane są z GaAs domieszkowanego cynkiem Zn i krzemem Si. Diody z fosforku galu GaP emitują promieniowanie o barwie zielonej, a diody z arsenofosforku galu GaAsP o barwie czerwonej, pomarańczowej i żółtej.
Diody ostrzowe wykonuje się poprzez elektryczne wtopienie ostrza metalowego do półprzewodnika typu n. W procesie zgrzewania pod ostrzem tworzy się mikroobszar typu p. Na granicy obszaru z półprzewodnikiem powstaje złącze p-n.
Fotodiodę polaryzuje się zaporowo zewnętrznym źródłem napięcia. Padające na złącze kwanty energii jonizują atomy p.p. i w ten sposób zwiekszają liczbę swobodnych nośników w złączu p-n. Zatem przez fotodiodę płynie prąd wsteczny, który zwiększa się ze wzrostem strumienia świetlnego.
Dioda Schottky'ego spolaryzowana wstępnie w kierunku przewodzenia jest znacznie lepszym kluczem niż dioda ostrzowa ponieważ ma mniejszą rezystancję w kierunku przewodzenia ron, większą rezystancję w kierunku zaporowym roff, a także ma współczynnik szumów własnych oraz dużą stabilność pracy.
Poza wymienionymi zastosowaniami DT mogą być wykorzystywane w układach przełączających, do kształtowania impulsów o stromych zboczach.
Diody tunelowe są najczęściej wytwarzane z germanu i arsenku galu.
W pewnym zakresie napięć DT wykazuje ujemną konduktancję dynamiczną → zastosowanie DT do wzmacniania i generacji przebiegów elektrycznych, zwłaszcza w pasmie mikrofalowym (do kilkuset GHz).
W przypadku ogólnym, zarówno napięcie wejściowe jak i RO są jednocześnie zminne.
Synteza (projektowanie) tego typu stabilizatorów znajdzie się w programie ćwiczeń audytoryjnych.
Ponieważ
układ stabilizuje zmiany napięcia wejściowego.
⇒
Przebicie Zenera nie niszczy złącza w odróżnieniu od przebicia lawinowego w zwykłym złączu bo złącze Zenera ma szerokość < długości średniej drogi swobodnej nośników (pomiędzy zderzeniami) → nie ma zderzeń nośników z siecią pp.
Charakterystyka diody Zenera
Pojemność dyfuzyjna zależy od wartości natężenia prądu płynącego przez złącze:
Cd ≈ I ≈ exp(U)
Należy zauważyć, że dla U < 0, Cd = 0.
Symbol graficzny diody pojemnościowej
RS - szeregowa rezystancja p.p. i połączeń elektrycznych
LS - szeregowa indukcyjność doprowadzeń diody
C0 - pojemność „oprawki” diody
Ponieważ grubość warstwy zaporowej d zależy od napięcia polaryzacji zewnętrznej U, to pojemność bariery Ct jest funkcją U:
gdzie: K - współczynnik zależny od powierzchni przekroju złącza (okładek) i koncentracji domieszek.
bo ID=-IS
skąd dla T=300K
b) różniczkowej:
a) przyrostowej:
U=U0
U=U0
Rst zależy od warunków pomiaru czyli od usytuowania punktu pracy, co nie zachodzi w przypadku biernych rezystorów liniowych.
U=U0
Symbol graficzny diody Zenera
Dla złącza p-n rozważmy: I = f(U)
Z rysunku ⇒ że aby otrzymać zgodne sumowanie napięć do półprzewodnika typu „p” należy dołączyć elektrodę ujemną zewnętrznego źródła napięcia, a do półprzewodnika typu „n” dodatnią. Napięcie dyfuzyjne (bariera potencjału) powiększa się o wartość napięcia zewnętrznego i wynosi UB+U.
pn
Wspomaganie dryftu
za pomocą pola elektrycznego
np
dryft nośników mniejszościowych w polu elektrycznym
typ „p”
typ „n”
Hamowanie dyfuzji
dziur za pomocą pola elektrycznego
dyfuzja dziur z części „p”
nn
pp
typ „p”
typ „n”
Emax = E(0)
Warunek obojętności wymaga aby: ρ(-) → Q-+ ρ(+) → Q+ = 0
typ „n”
typ „p”
nn
pp
|pp| > |nn| ⇒
|xn| > |xp|
Symbol graficzny gaussotronu
Symbol graficzny hallotronu
+
EC
EV
*W odosobnionym atomie nie ma dwu elektronów o jednakowej energii / czterech liczbach kwantowych.
EC
EV
EM
EL
EK
Charakterystyki prądowo-napięciowa i rezystancyjno-napięciowa warystora
ΔEa = Ec - Ea << ΔE
W p.p. typu „p” koncentracja dziur pp jest znacznie większa niż koncentracja elektronów np
W p.p. tym również zachodzi związek: pp·np = ni2
Charakterystyki rezystancyjno-temperaturowe termistorów
ΔEd = Ec - Ed << ΔE
W p.p. typu „n” koncentracja elektronów nn jest znacznie większa niż koncentracja dziur pn
W p.p. domieszkowanym również zachodzi związek: nn·pn = ni2
Warstwowy TB jest utworzony przez trzy różne (na przemian) domieszkowane warstwy p.p.
Warstwa wewnętrzna (baza) B powinna być dostatecznie cienka, tak aby
W<<LP
gdzie: LP - długość drogi dyfuzyjnej dziur w bazie (p.p. typu „p”)
Ćw.: Poszczególnym zakresom polaryzacji przyporządkować poniższe układy
Napięcie progowe U(TO) wynosi 0,2 ÷ 0,3 V dla diod Ge, 0,6 ÷ 0,8 V a dla diod Si.
Napięcie przebicia U(BR) i powtarzalne napięcie wsteczne URRM, przyjmowane jako 80% wartości napięcia przebicia. Wartości napięcia URRM wynoszą od kilku V do kilku kV.
charakterystyka wejściowa
charakterystyka wyjściowa
charakterystyka przejściowa
charakterystyka zwrotna
Charakterystyka wejściowa w OB:
Jaki p.p. wykorzystano do budowy tego tranzystora?
Z tej ch-ki można wyznaczyć
Z tej ch-ki można wyznaczyć dynamiczną rezystancję wyjściową tranzystora:
Zgodnie z definicją:
stąd
gdzie: β - współczynnik wzmocnienia prądowego w OE
ICE0 - prąd zerowy kolektora w OE
Uwaga!
Prąd bazy ↓ dla silniejszej polaryzacji zaporowej, ponieważ w cieńszej bazie jest mniejsza rekombinacja.
Z ch-ki przejścowej można wyznaczyć współczynnik wzmocnienia prądowego:
Rezystancja wyjściowa w OE
jest rzędu kilkudziesięciu kΩ
Jeżeli „otoczenie” jest dostatecznie małe to charakterystykę można lokalnie aproksymować odcinkami liniowymi.
Takie założenie jest uzasadnione gdy zmiany napięcia UEB są na tyle małe, że można pominąć nieliniowość pomiędzy prądami i napięciami w tranzystorze.
W takim otoczeniu tranzystor można zastąpić jego liniowym modelem (układem zastępczym).
Model taki ma sens tylko wtedy, gdy wzajemne oddziaływanie złączy jest pomijalnie małe, co w przybliżeniu zachodzi dla zaporowej polaryzacji obu złączy czyli w zakresie zatkania TB (odcięcia).
IES, ICS - prądy nasycenia złączy E-B, B-C
UEB, UCB - napięcia na złączach E-B, B-C
Model słuszny zarówno dla zakresu zatkania jak i normalnego.
Model Ebersa-Molla słuszny dla wszystkich zakresów pracy TB.
Gdy składowa zmienna sygnału ma dostatecznie małą amplitudę wówczas w schemacie zastępczym TB złącza E-B i B-C mogą być zastąpione ich modelami liniowymi (np. jako rezystancje dynamiczne w ustalonym punkcie pracy).
Gdy składowa zmienna sygnału ma dostatecznie małą częstotliwość wówczas w schemacie zastępczym TB można pominąć elementy reaktancyjne (pojemności złączy i indukcyjności przewodników).
⇒
- równania impedancyjne ⇒ [z]
- równania admitancyjne ⇒ [y]
- równania hybrydowe (mieszane) ⇒ [h]
impedancja wejściowa przy zwarciu (dla składowej zmiennej) na wyjściu czwórnika
współczynnik przenoszenia wstecznego (wewnętrznego sprzężenia zwrotnego) przy rozwarciu na wejściu czwórnika
współczynnik wzmocnienia prądowego przy zwarciu na wyjściu (przekładnia prądowa w stanie zwarcia)
admitancja wyjściowa przy rozwarciu na wejściu czwórnika
re - rezystancja dynamiczna złącza E-B
rb - rezystancja rozproszona bazy
rc - rezystancja dynamiczna złącza B-C
α - współczynnik wzmocnienia prądowego tranzystora
podstawiając
Parametr
1