Image514
woduje zmiany stanu układu. Podczas zmniejszania napięcia wejściowego, tranzystor Tl zostaje w pewnej chwili wyprowadzony z obszaru nasycenia, jego napięcie kolektor-emiter zwiększa się powodując rozpoczęcie przełączania układu scalonego, a sprzężenie zwrotne przyspiesza zatkanie tranzystora TL War-
a) schemat ideowy, b) przebiegi napięć
tość napięć progowych można wyliczyć z następujących równań:
U_ = U„+R1^-
gdzie:
UBE — napięcie baza-emiter tranzystora Tl,
/ci — prąd kolektora tranzystora Tl wyliczony z zależności:
UCc~ 1>3 UCc-~2
-5-+-A-’
0—wzmocnienie stałoprądowe tranzystora Tl,
UOL — napięcie wyjściowe układu scalonego w stanie 0 na wyjściu,
UD — spadek napięcia na diodzie D (dioda germanowa).
Napięcie wejściowe może przyjmować wartość do kilkuset woltów, co stanowi dużą zaletę układu. Czas narastania sygnału wyjściowego wynosi około 20 ns, a opadania około 120 ns. Niestabilność temperaturowa napięć progowych wynosi około 6 mV/°C.
Dla: Rr = 10 kfi; R2 = 500 Q; 0 = 50 wartości napięć progowych: U+ = 6 V i U_ = 1 V.
Włączenie dodatkowego rezystora i kondensatora na wejściu (zaznaczone linią przerywaną) powoduje filtrację przebiegu wejściowego oraz zmniejsza za-
mtS4i
KBCf07
Rys. 4.652. Układ formowania przebiegu prostokątnego z przebiegu sinusoidalnego
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
DSC00185 (11) Zależność prądu wyjściowego tranzystora fc od napięcia wejściowego tranzystora Uaimage 5 Załącznik 4 Wyniki pomiarów uzyskane podczas badania układu filtru aktywnegoPomiar napięciab)Urabianie materiałem wybuchowym. Wybuch jest to zjawisko gwałtownej zmiany stanu równowagi układu,rezystancja. W przypadku wykorzystania przycisków przed wykrywaniem drgań jego styków podczas zmianyImage162 Informacja zostaje wpisana pod wskazanym adresem w momencie zmiany stanu z 0 na 1 na wejściImage509 silnych zakłóceń. Z tych powodów podczas projektowania układów sprzęgających wejściowych naImage515 leżność napięć progowych od wzmocnienia tranzystora TL W układzie można zastosować diodę krskanuj0067 (4) —SIŁA NAPĘDOWA PROCESU SPIEKANIA Zmniejszenie entalpii swobodnej całego układu z powoSL275441 Zmiany strukturalne Skrócenie sarkomeru. zmniejszenie średnicy włókien - 40-50°C Zanik podwskanuj0067 (4) —SIŁA NAPĘDOWA PROCESU SPIEKANIA Zmniejszenie entalpii swobodnej całego układu z powoSL275441 Zmiany strukturalne Skrócenie sarkomeru. zmniejszenie średnicy włókien - 40-50°C Zanik podwImage550 wykorzystywana do zaprojektowania układu wyjściowego, który może być zrealizowany m.in. takIMG425 Najleps ze warunki do wypoczynku daje zieleń Działa ona uspokajająco na system nerwowy - zmniZmiany wielkości ziarna podczas nagrzewania siali eulekloidalnej grubo-i drobnoziarnistej frunek 4.4SA400086 Zmiany w treści jaj podczas przechowywania świeże przechowywane 1. UtrataSA400087 (3) Zmiany w treści jaj podczas przechowywania c.d. 6. Maleje udział białwięcej podobnych podstron