Image514

Image514



woduje zmiany stanu układu. Podczas zmniejszania napięcia wejściowego, tranzystor Tl zostaje w pewnej chwili wyprowadzony z obszaru nasycenia, jego napięcie kolektor-emiter zwiększa się powodując rozpoczęcie przełączania układu scalonego, a sprzężenie zwrotne przyspiesza zatkanie tranzystora TL War-

a) schemat ideowy, b) przebiegi napięć


tość napięć progowych można wyliczyć z następujących równań:

U_ = U„+R1^-


gdzie:

UBE — napięcie baza-emiter tranzystora Tl,

/ci — prąd kolektora tranzystora Tl wyliczony z zależności:

UCc~ 1>3 UCc-~2

-5-+-A-’


0—wzmocnienie stałoprądowe tranzystora Tl,

UOL — napięcie wyjściowe układu scalonego w stanie 0 na wyjściu,

UD — spadek napięcia na diodzie D (dioda germanowa).

Napięcie wejściowe może przyjmować wartość do kilkuset woltów, co stanowi dużą zaletę układu. Czas narastania sygnału wyjściowego wynosi około 20 ns, a opadania około 120 ns. Niestabilność temperaturowa napięć progowych wynosi około 6 mV/°C.

Dla: Rr = 10 kfi; R2 = 500 Q; 0 = 50 wartości napięć progowych: U+ = 6 V i U_ = 1 V.

Włączenie dodatkowego rezystora i kondensatora na wejściu (zaznaczone linią przerywaną) powoduje filtrację przebiegu wejściowego oraz zmniejsza za-

mtS4i

KBCf07


Rys. 4.652. Układ formowania przebiegu prostokątnego z przebiegu sinusoidalnego


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
DSC00185 (11) Zależność prądu wyjściowego tranzystora fc od napięcia wejściowego tranzystora Ua
image 5 Załącznik 4 Wyniki pomiarów uzyskane podczas badania układu filtru aktywnegoPomiar napięcia
b)Urabianie materiałem wybuchowym. Wybuch jest to zjawisko gwałtownej zmiany stanu równowagi układu,
rezystancja. W przypadku wykorzystania przycisków przed wykrywaniem drgań jego styków podczas zmiany
Image162 Informacja zostaje wpisana pod wskazanym adresem w momencie zmiany stanu z 0 na 1 na wejści
Image509 silnych zakłóceń. Z tych powodów podczas projektowania układów sprzęgających wejściowych na
Image515 leżność napięć progowych od wzmocnienia tranzystora TL W układzie można zastosować diodę kr
skanuj0067 (4) —SIŁA NAPĘDOWA PROCESU SPIEKANIA Zmniejszenie entalpii swobodnej całego układu z powo
SL275441 Zmiany strukturalne Skrócenie sarkomeru. zmniejszenie średnicy włókien - 40-50°C Zanik podw
skanuj0067 (4) —SIŁA NAPĘDOWA PROCESU SPIEKANIA Zmniejszenie entalpii swobodnej całego układu z powo
SL275441 Zmiany strukturalne Skrócenie sarkomeru. zmniejszenie średnicy włókien - 40-50°C Zanik podw
Image550 wykorzystywana do zaprojektowania układu wyjściowego, który może być zrealizowany m.in. tak
IMG425 Najleps ze warunki do wypoczynku daje zieleń Działa ona uspokajająco na system nerwowy - zmni
Zmiany wielkości ziarna podczas nagrzewania siali eulekloidalnej grubo-i drobnoziarnistej frunek 4.4
SA400086 Zmiany w treści jaj podczas przechowywania świeże    przechowywane 1. Utrata
SA400087 (3) Zmiany w treści jaj podczas przechowywania c.d. 6.    Maleje udział biał

więcej podobnych podstron