Podczas projektowania układów (urządzeń) cyfrowych projektant często musi sprawdzić wybrane fragmenty układów celem praktycznej weryfikacji otrzymanych rozwiązań. Na tym etapie projektowania bardzo pomocne są uniwersalne płyty (przyrządy) do modelowania oraz urządzenia do kontroli funkcjonalnej stosowanych elementów.
Uniwersalne płyty do modelowania zawierają szereg listew z gniazdami kontaktowymi ułożonymi w rastrze wyprowadzeń końcówek z różnych typów obudów układów scalonych. Gniazda te mają kilka równoległych gniazd dodatkowych, umożliwiających łączenie układów scalonych w układy funkcjonalne, o dowolnej konfiguracji logicznej, za pośrednictwem giętkich przewodów.
Często przyrządy do modelowania zawierają, obok uniwersalnych listew tworzących płytę krosową, dodatkowe układy, pomocne w badaniu układów funkcjonalnych, takie jak:
— układy wyświetlania informacji (diody świecące lub wskaźniki cyfrowe z diod świecących),
— układy zadawania informacji (przełączniki dwustanowe, nastawniki dziesiętne itp.),
— przestrajane generatory fali impulsów prostokątnych,
— generatory pojedynczych impulsów,
— układy rejestrujące pojedyncze impulsy,
— zasilacze.
Przykładem prostego przyrządu do modelowania układów funkcjonalnych jest przyrząd firmy Hewlett Packard typ 5035A Logic Lab. zawierający uniwersalną płytę krosową, przełączniki dwustanowe oraz wskaźniki diodowe.
Przyrządy do testowania funkcjonalnego
Przyrządy do testowania układów scalonych można sklasyfikować na podstawie ich przeznaczenia na:
a) testery do zastosowań u producentów układów scalonych, o dużych możliwościach pomiarowych, włączone najczęściej w komputerowy system sterowania i kontroli.
Testery tego typu to: System 5000 Fairchild, System J253 Teradyne, Sentury 2000 i inne;
b) testery przeznaczone dla szerokiego grona użytkowników układów scalonych, wykorzystywane do sprawdzania i kontroli pojedynczych elementów oraz do sprawdzania pakietów zawierających układy złożone z tych elementów.
Z punktu widzenia rodzaju pomiarów jakie wykonują, można wyróżnić testery do pomiarów parametrów (statycznych i dynamicznych) oraz do pomiarów funkcjonalnych, przy czym niektóre testery funkcjonalne wykonują również wybrane pomiary parametrów, zaś testery uproszczone nie mają takich możliwości.