Image629

wadzane do separatorów, a stąd dwoma niezależnymi kanałami do wejść układu badanego i wzorcowego.

Identyczne odpowiedzi układu badanego i wzorcowego w trakcie testowania powodują zapalenie żarówki „sprawny” w układzie rejestracji świetlnej po zakończeniu cyklu testowania. W przypadku, gdy wystąpi błąd, testowanie jest automatycznie przerywane i zapala się żarówka „niesprawny”. Lokalizacja miejsca błędu odbywa się wówczas przez wyświetlanie stanów wyjść układu badanego, poza tym możliwe jest wyświetlenie stanów wyjść licznika, komparatora i układu wzorcowego. Wyświetlenia stanów tych układów dokonuje się za pomocą przycisków w układzie wybierającym odpowiednie wyjścia. Po automatycznym zatrzymaniu operacji testowania i zlokalizowaniu błędu, możliwe jest dalsze testowanie po naciśnięciu przycisku „Start”.

Dane wejściowe wprowadzane są z 16-bitowego licznika dwójkowego poprzez separatory lub z zespołu klawiszy ręcznego zadawania kombinacji 0 i 1, (słowo 16-bitowe, zadawane w sposób statyczny lub dynamiczny) oraz z układów dodatkowych np.: z generatora pojedynczego impulsu, układu formowania impulsu, generatora fali prostokątnej itp. Dane te wprowadzone są także na stałe do gniazda wtyku programującego.

Wtyk programujący (z elementem wzorcowym i typowymi obciążeniami dla badanego elementu) ma tak skonstruowany układ połączeń, że po wciśnięciu go w gniazdo, podawane są na wejścia elementu badanego i wzorcowego odpowiednie dane wejściowe, wyjścia zaś tych elementów podłączone są do komparatora.

Badanie układów z użyciem wtyku programującego wymaga niewielkiej liczby połączeń na pulpicie przyrządu. Układ generatora impulsów testujących powoduje wytwarzanie impulsów podawanych na wejścia wyzwalające układów sekwencyjnych (Z, X) i wejście licznika (7). Na wejście układu generowania impulsów testujących podawane są impulsy z generatora (G) lub generatora pojedynczych impulsów (GPI).

Metody testowania elementów i układów cyfrowych TTL z wykorzystaniem przyrządu Minitest 01

Metoda kontroli funkcjonalnej ■— przy sprawdzaniu elementów scalonych o małej i średniej skali integracji, jak również układów zmontowanych na pakietach — jest identyczna i polega na porównaniu odpowiedzi na wyjściach układu badanego i układu wzorcowego przy podaniu na ich wejścia wszystkich wymaganych dla danego typu układu kombinacji dwójkowych.

Elementy i układy cyfrowe można podzielić na dwie grupy:

—    układy kombinacyjne,

—    układy sekwencyjne.

Do pierwszej grupy układów zalicza się te, w których stany na wyjściach zależą od stanów na wejściach. Jest to grupa układów, poddająca się bardzo łatwo automatycznej kontroli. Do drugiej grupy układów zalicza się te układy, w których stan wyjść zależy nie tylko od stanów wejść, ale również od stanu we-