gdzie M jest liczbą badanych obiektów, oraz zbiór cech:
Z = [Z[% Z2.....ZN)
gdzie N jest liczbą rozpatrywanych mierzalnych cech. Zakłada się, że zbiór cech Z charakteryzuje każdy obiekt ze zbioru obiektów /.
Proces badawczy nie jest oczywiście prowadzony bezpośrednio na obiektach lub cechach, lecz na realizacjach cech. Rezultat pomiaru k-tej cechy obiektu /, oznacza się jako xik, zatem wektor
(10.1)
odpowiada pomiarowi wszystkich cech /-tego obiektu.
Odpowiednikiem zbioru wektorów pomiarów:
X ={XUX2,
opisujących obiekty ze zbioru / jest macierz danych X zdefiniowana jak poniżej:
X = (*,*), i — 1,2.....M *=1.2.....N (10.2)
W wierszach macierzy X występują obiekty Xh które traktuje się jak punkty lub wektory usytuowane w N-wymiarowej przestrzeni nazywanej przestrzenią obiektów. W przestrzeni tej każdą z N cech opisujących obiekty X{ przedstawia się w postaci osi współrzędnych; każdy obiekt X, jest wtedy punktem lub zaczepionym w początku układu wektorem tej przestrzeni o współrzędnych określonych wzorem (10.1).
Należy zauważyć, że w ogólnym przypadku układ N współrzędnych nie musi być układem prostokątnym (z uwagi na współzależność cech), nie należy również utożsamiać odległości między punktami z odległością euklidesową.
Analogicznie kolumny macierzy danych X są realizacjami cech które również traktuje się odpowiednio jako punkty lub wektory:
(10.3)
Yj = (xirXy>
gdzie Yj jest wektorem realizacji cechy Zr j = 1, 2.....N. Punkty te są usytuowane
w Af-wymiarowej przestrzeni cech. W przestrzeni tej każda cecha Yj jest zatem traktowana jako punkt, albo jako wektor skierowany od początku układu współrzędnych do danego punktu; współrzędne tego punktu określone są wzorem (10.3). Osiami układu współrzędnych tej przestrzeni są obiekty, liczba osi wynosi zatem M.
196