Obraz0042 2

84

rzutu w kierunku dodatnich odchyleń i «. jegrt ujemne przy przesunięciach v kierunku przeciwnym.

-fćwczas

ii„ 4

^A mam ^{+ A} min

(6.13)

[a_e - C.5 U

mln

)]

6.14)

rć zie:    - średnia zmierzonych wymiarów,

A. - nominalny wymiar A.

rcłczenie ocla tolerancji przedstawiono na rys, 6.4.

a';

leżenia pola rozrzutu i pola iole~ w układzie pionowym

".1. "cle;noś- etatystycznego opracowania wyników pomiarów

.'tEtysty csne opracowanie wyników pomiarów może być wykonane w celu oKresienia tolerancji , dokładności procesu technologicznego, dokładności przyrządu pomiarowego itp.

".clejnc-i i caki.egc opracowanie jest następująca:

ć. ."trzymane przy pomiarach partii n części wymiary I,, i_P, .

1,. zapisuje się w Kolejności wzrastającej lut malejącej, następnie grupuje się jednakowe wymiary, częstotliwości występowaniu

wymiarów l_1t 1₂,    oznacza się odpowiednio! przez nij, m₂, •••»

m^; k - liczba nie powtarzających się wielkości 1.

Ogólna ilość części wyniesie

k

n =

1

b)

Oblicza się średnią arytmetyczną

1

śr

m-j 1₁ + m₂ 1₂ + ... + m^ 1^

n

gdzie: m₄/n - częstotliwość względna.

o) Określa się rozstęp błędów lub wymiarów

min

lub R = 1

mar

- 1

min*

d)

Określa się odchylenie standardowe

i

k

m,

1 ^{1 x} n ej Wyklucza się z szeregu błędów x błędy grube.

Zaliczenie błędu do grubego wykonuje się posługując się kryterium Raita lub kryterium Schovenne. Zgodnie z kryterium Raita

błędy grube są to takie, dla których (6.15)

zgodnie zaś z kryterium Schovenne grubymi są błędy, dla których

] rj > zC,    (6.16)

gdzie: e - wielkość zależna od ilości błędów n (pomiarów), określana według wartości funkcji,