106 4

Wyposażenie stanowiska

-    Odbitka fotograficzna lub kserograficzna wybranej dyfrakcj elektronowej

-    Tablice odległości międzypłaszczyznowych wybranych faz

-    Komputer typu PC z zainstalowanym programem INDEX

Przebieg ćwiczenia

-    Dla wybranej dyfrakcji elektronowej ustalić położenia reflek sów pochodzących od poszczególnych kryształów tworzących od rębne sieci transłacyjne; dla jednego kryształu istnieje jed na sieć odwrotna na dyfraktogramie.

-    Wykreślić dla refleksów leżących w otoczeniu wiązki nieugię tej elementarną sieć translacyjną.

-    Dokonać pomiarów odległości refleksów (węzłów) sieci odwrot nej od refleksu centralnego oraz kątów pomiędzy refleksa wierzchołek kąta znajduje się w reflekcie centralnym).

-    Obliczyć odległości międzypłaszczyznowe odpowiadające wybra nym refleksom po ustaleniu stałej mikroskopu XI.

-    Na podstawie porównania wyliczonych odległości raiędzypłasz, czyznowych z odległościami dla wybranych analizowanych f dokonać identyfikacji fazowej oraz przyporządkować refleks odpowiednie rodziny płaczszyzn.

-    Dokonać sprawdzenia, czy dla zidentyfikowanej fazy oraz branych wskaźników płaszczyzn spełnione są również zależnoś kątowe.

-    Określić szczegółowe wskaźniki sieciowe na podstawie kryt rium zgodności rachunku wektorowego.

-    Określić wskaźniki osi pasa krystalograficznego dla zident fikowanej fazy.

-    Zapoznać się z metodyką rozwiązywania dyfrakcji przy wykorz staniu programu komputerowego INDEX. Pełną instrukcję zawis przewodnik użytkownika dostępny w pliku " index.hlp.

p_rzykład rozwiązywania dyfraktogramu: 2    3

^rl^+r3'^r2 '	co	odpowiada	^^hl^kl^il^^+*^h3^k3^13 ^"^^h2^k2^12
^?3^+?5^=F4 '	co	odpowiada	(^h3^k3^13^^h5^k5^15^^Jl4^k4^14
V ,	co	odpowiada	^(hl^kl^1l^)=_(h5^k5^15^)

Określenie osi pasa krystalograficznego:

^U = ^kl¹2“¹l^k2 v = l₁h₂-h₁l₂

^{V h}l^k2^-kl^h2

Wyniki pomiarów i wyliczeń oraz identyfikacji fazy zamieśció w tablicy:

205