2013013017560

« —— — ^d,'“^otó" °“^rai'

które z nich są prawdziwe

,_hlBotei odtwarzają wartość długości poprzez określone

*• ',2Ł3K*J, «<-»»»«»“

, o,    .«*» «W« o pomocą «7«có« MowycP sta* W*«

przyrządy zwane interferometrami

_    ,.,ą.._M._/ama fal promieniowania elektromagnetycznego służących jako wzorce

Jugilci wykorzystujTsię promieniowanie takich pierwiastków, jak krypton (odmiana izotopowa ■ Ikr) czy nęć (odmiana izotopowa I Ig).

aj tylko drugie. h) tylko trzecie, c) tylko pierwsze i drugie, d) tylko pierwsze itr/ecie, cnylko drugie i tr/ecie^jT^s^aE^

_t i ja jjwkaia dopuszczalna wartość odchyłki długości dla płytki wzorcowej o wymia-r/x nominalnym L * 25 mm i klasie dokładności .,0 ⁰

a) kilkanaście mikrometrów.

O Witka dziesutych milimetra okilkanaAoe setnych mikrometra

h) kilkadziesiąt mikrometrów;

d) kilkanaście tysięcznych mikrometra; f) kilka dziesiątych mikrometra.

f> Jednym zefcmenUtw mkśdotynu obrotoweg* > )■. > tran .iormator Jest on zastosowany w celu:

a) zwiększana ro/d/iekziTŚęi przetwornika h) okicśictnakierunku obrotu rotora.

2

o4q*m\G&mciii dostosowania parametrów prądu zasilającego stator .

A

(knio%cf<^wua parametrów prądu zasilającego rotor.

S^^ceslykowe piztkazYwanic sygnału pOttńarOWCgO / ruchomego rotora; fi pj/ck. .nidc» .i pr^act o\gnału wyjściowego / sinusoidalnej na prostokątną,

Kttwt z podanych w/cj -śhicTTmłowań jest błędne'⁷

*1 r/ee/ratują ti . c pi yikt określa wzajemna odległość jej powierzchni pomiarowych;

ółuji    ^A ^ ^v ‘^mn‘^{ł 1} położenia powierzchni pomiarowych rzeczywista

w/atowtj jest w różnych miejscach płytki różna.

f^y^i wiąże się za\s ;/e / określonym punktem jej powierzchni <J> jako rztc/iowt .•    .    .

odk^uH hm pMkta <mI ~^P!" ^U' * ^,C| l’""^l"^:r/'^:hn' pominrowci przvimuje su;

^pUsk,c'^di’ ^k,,’^K' przywarta jest płytka swojt

^    m 11/ .Ty.w?i - ,'-_n #n «

'dtuęedgw    m ti__m. ^r/ct'^/'^,'^sr'^,cl płytki |csl )c| Utugosć śtodkow

" «W*»«*, l£T*^K'*....."*<“**

* f'■!>«»■, t*yVJą cicnkKb    ⁿ*“^{łl M< na} l'l powter/ctim hoc/nej.

"krcUmsm "»'>*»)*) powierzchni pomiarowej

R Zmienność długości płytki wzorcowej jest to.

„ niepewność wzorcowania płytki określona w prolokole wzorcownni. lob świadomie legalizacji

b)    największa różnica pomiędzy długościami płytki w różnych punktach jej powierzchni pomiarowej;

c)    różnica pomiędzy maksymalną, dopuszczalną dla danej klasy długością płytki, a jej dopuszczalną długością minimalną;

d)    zmiana długości odtwarzanej przez płytkę spowodowana jej zużyciem (ścieraniem się

powierzchni pomiarowych);    ^

0 rozstęp wyników pomiaru środkowej długości płytki uzyskanych

wzorcowania;

e)    największa dopuszczalna zmiana długości płytki w okresie ważności posiadanego przez tę płytkę certyfikatu zgodności (zwykłe ł rok);

ŁS

jej

’■    M_ł7^,M2,'^b *****    Mrnwych przywicralnych

’    powierzchnie p„_mi,_{r0TO ntó p},_y,_t,

•«”.—.«pjrrr" °^b,,“^a “•^{a    ;} 11

Z ;; * ^kw—-.

c-1.2.....n);    !■!

^C1 ^lylko drugie;

^{} trzccic} i czwarte;

^d> ‘ylko trzecie- * '^ylk° ^P'^crwsze;

^C’ fL‘y'ko czwarte;

^lu-Rysunek n.)„i> •    ,

¹ aki ipc..

„    ' ^Pra'^Vidl°Wy odczyi

^{a) 1} 2°2o'-    ^y

^b) 14°20'*

^^cs "oniusza ^JoJ^^edstaw'a fragment

^rysunkl'Przcds, *’^d*alki nac"_ęte^P°f'^ia,ki głównej r_{u e}•

^{ania n}«ni_{US2a ?}

iił. 14°4()>.

stopniach 30°

^d> IS"4o-.

^e> 12 2°

O 14

2°-

3