26012013189

Zagadnienia na egzamin z „Podstaw metrologii" dla studentów ZiP niestacj. w sem zimowym 2012/2013

1.    Podstawowe pojęcia i definicja metrologiczna ( pomiar, wielkość , Jedhoslk miary, przyrząd pomiarowy)

2.    Budowa układu jednostek miar SI

3.    Spójność układu SI

4.    Definicje jednostek podstawowych układu SI

5.    Tworzenie jednostek pochodnych, wielokrotnych podwielokrolnyoh 6 Model pomiaru.

7. Ilość informacji w wyniku pomiaru

8    Metody pomiarowe Ich podział i Istota

9    Metoda różnicowa Charakterystyka i przykłady

10    Metoda pośrednio Charakterystyka i przykłady

11.    Błędy pomiaru Podział i charakterystyka

12,    Źródła błędów systematycznych

13 Obliczanie błędu pomiaru w metodzie bezpośredniej I pośledniej 14. Niepewność pomiaru Obliczanie niepewności standardowe) i lozs/erzonej 15 Metoda typu A i typu B wyznaczania niepewności pomiaru 16, Błędy technologiczne Odchyłki wymiaru I kształtu

17    Oznaczenia i podział odchyłek kształtu

18    Zasady wyznaczania błędów okrągłości ł waicowości

10 Definicje wymiaru nominalnego, tolerancji, wymiarów i odchyłek granicznych 20 Układ tolerancji i pasować ISO

21.    Pasowania w budowie maszyn

22.    Działania na wymiarach tolerowanych

23.    Wzorce miar Spójność pomiarowa Etalony

24.    Wzorce użytkowe długości.

25.    Użytkowe wzorce kąta

26.    Przyrządy do pomiarów wielkości geometrycznych (długość 11 kąte)

27.    Właściwości metrologiczne przyrządów pomiarowych

28.    Pomiary chropowatości powierzchni Metody

29.    Podstawowe parametry chropowatości powierzchni

30.    Przetwarzanie w procesie pomiarowym

31.    Przetwarzanie analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogcwe

32.    Charakterystyka przetwornika.

33.    Rozdzielczość przetworników.

34.Systemy pomiarowe. Zadania i struktura.

35.    Przetworniki pomiarowe, ich podział (klasyfikacja).

36.    Właściwości statyczne przetworników pomiarowych

37.    Właściwości dynamiczne przetworników pomiarowych.

38    Techniki pomiaru i metody zwiększania dokładności pomiarów

39    Noniusz, spirala Archimedesa.

40.    Rodzaje kontroli jakości i ich charakterystyka

41.    Nadzorowanie przyrządów pomiarowych.

42.    Orzekanie o zgodności lub niezgodności ze specyfikacją

Egzamin pisemny odbędzie się w sobotę 2.02.2013 roku o god*. 1Q;0Q & sali 216.    Dr Barbara Kamleóska-Kizowska