powered by
Laboratorium elementów elektronicznych ma za zadanie zapoznanie studentów z właściwościami przyrządów półprzewodnikowych poprzez samodzielne pomiary podstawowych parametrów technicznych oraz charakterystyk tych elementów. Niezwykle istotnym zagadnieniem jest nauka właściwej interpretacji uzyskanych wyników pomiarowych, co z jednej strony wiąże się z dogłębnym rozumieniem istoty fizycznych procesów zachodzących w badanych elementach i jest niezbędne do właściwego stosowania ich w praktyce, a z drugiej strony wymaga znajomości stosowania właściwych metod i przyrządów pomiarowych, tak aby pomiary były źródłem poszukiwanej, a nie fałszywej informacji.
Interesujące nas wyniki pomiarowe będą otrzymywane w laboratorium za pomocą pomiarów bezpośrednich, w przypadku gdy do pomiaru danego parametru istnieje gotowy specjalizowany przyrząd pomiarowy lub za pomocą pomiarów pośrednich, w sytuacji gdy do uzyskania poszukiwanej wielkości niezbędne będą pomiary wielkości pośrednich, które należy następnie odpowiednio przekształcać na drodze obliczeniowej lub graficznej.
Wynik każdego pomiaru obarczony jest błędami, których przyczynami mogą być: niedoskonałości ludzkich zmysłów oraz trudne do opanowania lub zmieniające się w czasie pomiaru wartości wielkości wpływających. Wszystkie błędy, które mogą się przyczynić do zniekształcenia wyniku pomiaru, można podzielić na trzy zasadnicze grupy:
a) Błędy przypadkowe - o nieznanej bliżej wartości i przyczynach powstawania; błędy te nie mogą być usunięte na drodze stosowania poprawek. Ich wpływ na wynik pomiaru można oszacować statystycznie.
b) Błędy systematyczne - o wartości stałej lub zmieniającej się według określonego prawa. Wartość tych błędów można ściśle określić i w znacznej części usunąć przez stosowanie poprawek. Przyczynami ich powstawania są najczęściej błędy