Laboratorium Elektroniki cz I 4

104

7.    Dla tranzystora z wyprowadzonym podłożem zdjąć charakterystykę l_D = f(Un»i'

“SJ.

Pomiar przeprowadzić dla U_Ds = const oraz dla co najmniej trzech wartości napję. cia Ugs (w tym Ugs = 0).

8.    Zmierzyć rezystancję wejściową tranzystora w układzie przedstawionym j]_a rys. 5.6.

Rys. 5.6. Układ do pomiaru charakterystyk statycznych

Aby zmierzyć rezystancję wejściową, należy do układu włączyć kondensator C, a następnie rozewrzeć układ w punkcie A. W celu oszacowania rezystancji wejściowe)¹ należy obserwować przebieg prądu drenu w czasie, dokonując pomiaru dwóch wartości:

Idi - w czasie t_1t l_D2 - w czasie t₂.

Następnie z uzyskanej uprzednio charakterystyki przejściowej Id = UUgs) dla Uos = const odczytać odpowiednie wartości Ugsi • Ugs2- Rezystancję wyznaczyć ze wzoru:

(5.9)

R =

Z"¹ Cln-HfiSL GS2

5.6. Tematy do opracowania

1.    Wyniki pomiarów z punktów 2-7 przedstawić na wykresach.

2.    Dla obranego punktu pracy (w obszarze dozwolonym) wyznaczyć z charakterystyii parametry g_m, g_ds, gb.

Wyznaczyć wartości parametrów statycznych: l_Dss. Udss. U_GS(of

rpS(OFF)-

4    Obliczyć I wykreślić zmiany transkonduktancji g_m w całym przebadanym zakresie nasycenia - z charakterystyk statycznych i korzystając ze wzoru (5.6). Ustosunkować się do uzyskanych wyników.

₅    porównać charakterystyki otrzymane normalnie i po zamianie miejscami drenu ze źródłem. To samo dotyczy parametrów statycznych i małosygnałowych.

6    Na podstawie pomiarów z p. 6 obliczyć i wykreślić oporność R_DS = f(U_DS).

7    Obliczyć oporność wejściową.

8. Scharakteryzować przebadane tranzystory wykorzystując wyniki pomiarów i dane

katalogowe.

5.7. Literatura

1.    W. Marciniak: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone. WNT, Warszawa 1984, s. 343-365.

2.    W. Marciniak: Przyrządy półprzewodnikowe typu MIS. WNT, Warszawa 1977.

3.    K. Waczyński: Przyrządy półprzewodnikowe. Skrypt Pol. Śl. nr 2022. Gliwice 1997.

4.    Encyklopedia techniki. Tom: Elektronika. WNT, Warszawa 1983.

5.    J. Kołodziejski, L. Spiralski, E. Stolarski: Pomiary przyrządów półprzewodnikowych. WKŁ, Warszawa 1990.