skanuj0095

skanuj0095



100 Rozdział 7.

Rys. 7.15. Polaryskop do badań z wykorzystaniem światła odbitego

W przeciwieństwie do metody światła przechodzącego, gdzie model musiał być płaski, co ograniczało w znacznym stopniu zakres badań, w metodzie światła odbitego te ograniczenia zupełnie znikają, model ma kształt rzeczywistego obiektu w wymiarach 3D. Prawo Wertheima w metodzie światła odbitego ma postać:

£lp ®2p f' m>

gdzie: £lp, £2p - odkształcenia główne warstwy optycznie czynnej,

f - wartość rzędu izochromy, m - rząd izochromy.

Jeżeli przyjmie się, że warstwa optycznie czynna jest prawidłowo naklejona i dokładnie zespolona z obiektem, zachodzi proporcjonalność odkształceń obiektu i warstwy:

Sip-E2P=C(£1„-e2.2).

gdzie: £lp, £2p — odkształcenie warstwy,

£Irz, e2rz - odkształcenie obiektu,

C - współczynnik proporcjonalności zależny od rodzaju deformacji (zginanie, rozciąganie, skręcanie).

Współczynnik C zależy również od rodzaju materiału rzeczywistego oraz ilorazu grubości ścianek obiektu do grubości warstwy tp. Aby wyznaczyć ilościową różnicę naprężeń głównych w obiekcie badanym, należy posłużyć się wzorem:


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
skanuj0103 2 108 Rozdział 7.Ćwiczenie 3.Wyznaczanie wartości rzędu izochromy f w metodzie światła od
skanuj0027 2 26 Rozdział 2. Rys. 2.1. Interpretacja geometryczna modułu Younga ścią. Do pomiarów Al
skanuj0087 2 92 Rozdział 7. Rys. 7.2. Izokliny o parametrach kątowych p od 0 do 75° w modelu krążka
c Agnieszka DĘBCZAK, Janusz RYCZKOWSKI Rys. 15. Reaktor do badań IR w warunkach in situ[120], Rys. 1
35906 Scan10007 (4) 138 K. Jankowski Rys.6.15. Stanowisko do badań czujników: 1 - stelaż stanowiska,
CCI00064 (4) r f i 38__K. Jankowski Rys.6.15. Stanowisko do badań czujników: 1 - stelaż stanowiska,
skanuj0280 289 289 Rys. 15.3. Czysta renta ekonomiczna Czysta renta ekonomiczna jest wydatkiem, jaki

więcej podobnych podstron