zdjecie003

zdjecie003



Zaliczenie I wykładu z analizy instrumentalnej ITIHD 2009/2010 (nazwisko, imię, data) 1. Uzupełnił brakujące frazy

a)    w chromatografii adsorpcyjnej fazą stacjonarną może być.............................................'.'jSHH

natomiast faza nichoma to ..........    ....... ....... ...................................

b)    w tccbniće^pmatografii zodviTÓconymi fazami faza stacjonarna jest.

“ nMol^sWaS^^iorfe.iŁ... . ........^..............................................

c)    w cluómatografii gazowej objętość retencji składnika zależy od....................

d)    w rozdziale zwidów łatwolomych kor^sftiej^twhńikąje^t chromatografia.................

natomiast związki wysokowrzące łatwiej rozdzielić metoda chromatografii..................

e)    jeśli w mieszaninie występują składniki nieznaczne różniące się temperaturą wrzenia, to najkorzystniejszą

techniką ę^omątografiCzną dla ich rozdzielania będzie...........................................zaś jej odpowiednikiem

W'p^h^gr^.ćię^Q^j jest............................................,........................

f)    w q^miiatbgrafii z pdwóebnymi fazami rozpuszczalnik mniej polarny ma........................moc elucyjną

g)    dlajpbpriifoieriia^bź^    o słabej retencji należy użyć rozpuszczalnika o

.. BBi    .,... .sile elucji

|i h) liczba półek teoretycznych określa i....’..........................................................i zależy

......    .................................... bHM ........... ..........

i)    najkorzystniejsza technika analizy cukrów prostych będzie chromatografią.........................................

z fazą stacjonarną..    ,1.........................................................

j)    -związahejgrupyęSnbyę^iehne katiohitów maja charakter.......................................natomiast

pj^^^OMmi ^og^wSVf.....................................................!>................ '

k) mocne kationity charaktery zuj ą się...............wartością pH w rozpuszczalniku (fazie ruchomej),-.;: i

rpl^Mądamhtefldch katipmtójy.sa..................................................................................

l) podstawą rozdziału w^ęhrpmatografii jonowymiennej jest proces.............|.... ;V.... ,f

ktory^^^c^/A...    ............................................................................._______

m) podstawą arializy ilościowej w woltamperometrii jest pomiar......................................., który na

polarografie odpowiada...............................................................................

n)    potencjał półfali depolaryzatora zależy od.................................natomiast nie zależy

o)    techniki zmiennoprądowe w pomiarach woltamperometrycznych umożliwia zmniejszenie prądu

...................................... i tym samym zwiększenie....................................................

p)    elektrody membranowe o.................wartości współczynnika selektywności są

>.*«.....i.......selektywneatymsamym...................................w oznaczeniach ilościowych :

q)    podstawą analizy ilościowej w potencjometru jest liniowa zależność funkcji.......................

której nachylenie określa......    ......................................... .....................................

r)    maksymalną czułość w pomiarach potencjometrycznych można uzyskać dla...................................

przy czymvzależy ona od............................................ ..................». .......................

TT. Om ów procedurę kalibracji w metodzie ISTD

a)    jak się przygotowuje próbkilćąlibracyjne

b)    jaka jest postać funkcji opisującej zależność stężenia od powierzchni/wysokości piku i z czego ta zależność

wynika

c)    jak się przygotowuje próbkę badaną

TTT. Podaj definicję i interpretacje sprawności, selektywności i rozdzielczości kolumn

chromatograficznych

-■( J-,../    i_.    ’    ✓ ~1


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
dsc00459 Znlk/enie 11 wykładu z. analizy instrumentalnej III CD 2009/2010 (nazwisko, imię, data) 1.
zdjecie1214 Zaliczenie I wykładu z analizy instrumentalnej III HD^200^2P10^ (nazwisko, imię, data) I
dsc00452 2 r?..X 04 Ia&% • ZALICZENIE I WYKŁADU Z ANALIZY INSTRUMENTALNEJ, III CD 2O0ED9 (an»Mw
10945473?4651115601945f15065352371753653 o Mw os? zrzzłćjmMb Ol 15 Zaliczenie wykładu z analizy in
111 3 ZALICZENIE I WYKŁADU Z ANALIZY INSTRUMENTALNEJ, III CD 2008/09 (nazwisko i imię, Aftta)KU/E/»W
222 3 ZALICZENIE I WYKŁADU Z ANALIZY INSTRUMENTALNEJ, III CD 2008/09 (nazwisko i imię, 1.  &nbs
egznew EGZAMIN Z WYTRZYMAŁOŚCI MATERIAŁÓW (I termin 04.02.10) Grupy 7-11,2009/2010 Nazwisko, imię
1 (2) 2 Analiza instrumentalna (zaliczenie wykładu I) Nazwisko i imię. data III CD 2008/2009, dr inż
gip pytania1 ZALICZENIE WYKŁADÓW SEM VI inż. czerwiec 2010 1.    Jak można opisać ró
Warunki uzyskania zaliczenia przedmiotu: Warunkiem zaliczenia Laboratorium z analizy instrumentalnej
Mikronapędy zaliczenie Zaliczenie 1 ~UC"n,e * Polotu -M.knm**,,-Rokakadem 2009/2010 1.  &n
egazmin karne A Egzamin z prawa karnego — Studium Niestacjonarne 2009/2010,1 termin Imię i nazwisko
10649114d5439752240959C39216476928493078 o Wychossanic Fizyczne - studia stacjonarne - rok akad. 200
10649114d5439752240959C39216476928493078 o Wychowanie Fizyczne - stadia stacjonarne - rok akad. 2009
DSC00864 (2) a procesowa Rok akademicki 2009/2010 (semestr letni) Data Grupa Temat ćwiczenia Grupa
IMG161 I kolokwium, 16.11.2009 Cr. 1 Nazwisko i Imię studenta/studentkl 1.    Wyjaśni

więcej podobnych podstron