-0—
-0—
-0—
£) Parametry katalogowe przykładowych typów tranzystorów Jeżeli pomiary w laboratorium dotyczą innych typów ranzystorów ich dane należy odszukać samodzielnie w katalogu elementów półprzewodnikowych.
LcEm*x [VI |
IcEnwc IA1 |
IlIrmN [A] |
IV] |
m |
pwtw] |
tjmax (C1 |
UCESAT FI |
Elit; |
fi IMłiz] |
■W tCAVi |
TVP | |
3DP281 |
30 |
7 |
3 |
40 |
5 |
40 tc=25 °C |
150 |
i |
25-200 |
4 |
3.1 |
npn |
3DP282 |
30 |
7 |
3 |
40 |
5 |
40 tc=25 °C |
150 |
i |
25-200 |
10 |
3.1 |
£!!£_ |
3D 135 |
45 |
0.5 |
0.1 |
45 |
5 |
6.5tc=40oC |
125 |
0.5 |
40-250 |
200 |
10 |
npn |
3D 136 |
45 |
0.5 |
0.1 |
45 |
5 |
6.5^=40 °C |
125 |
0.5 |
40-250 |
150 |
10 |
£!1E_ |
3C211 |
40 |
1 |
0.1 |
80 |
5 |
4.25 |
175 |
1 |
6-250 |
50 |
35 |
npn |
3C3I3 |
40 |
1 |
0.1 |
80 |
5 |
4.25 |
175 |
1 |
6-250 |
50 |
35 |
ZJE. |
F) Opracowanie i analiza wyników:
1 Narysować (wy drukować) wszystkie zmierzone charakterystyki.
2. Na podstawie charakterystyk złącz BE, BC narysowanych w skali logarytmiczno-liniowej i wyznaczyć współczynniki złącza oraz „prądy zerowe” i rezystancję szeregową.
3. Na podstawie charakterystyk statycznych wyznaczyć parametry schematu zastępczego z parametrami mieszanymi typu h dla wybranego punktu pracy tranzystora.
4. Narysować charakterystyki prądów zerowych. Sprawdzić teoretyczną zależność pomiędzy 1c*eo oraz Icbo-
5. Porównać uzyskane wyniki z danymi katalogowymi.
6. Skomentować charakterystyki przejściowe i częstotliwościowe wzmacniacza. Wyznaczyć częstotliwości graniczne.
7. Dokonać kompleksowej analizy- uzyskanych wyników.
1. W. Marciniak „Przyrząd)' półprzewodnikowe i układy scalone"
2. W. Marciniak „Modele elementów półprzewodników”
3. A. Kusy „Podstawy elektroniki”
4. Gray P.E .Searle C.L.- „Podstawy elektroniki
5. Kołodziejski J. Spiralski L. Stolarski E. „Pomiary przyrządów półprzewodnikowych”