) Układ WE, tranzystor pnp
JZASILACZ +
I) Układ WB, tranzystor pnp
;) układu do pomiaru prądów Ichr (tranzystor npn).
Z) Parametry katalogowe przykładowych typów tranzystorów Jeżeli pomiary w laboratorium dotyczą innych typów ranzystorów ich dane należy odszukać samodzielnie w katalogu elementów półprzewodnikowych
_J |
30 |
30 |
Wk 3 |
U, _! 40 |
ł] |
1 tfvT 1 5 |
40 t-=25 °C |
1 IC1 150 |
1 |
25-200 |
ft [MhzJ 4 |
(CAV1 3.1 |
ESI |
3DP282 |
30 |
7 |
3 |
40 |
5 |
40 t=25°C |
150 |
1 |
25-200 |
10 |
3.1 | ||
3D 135 |
45 |
0.5 |
0.1 |
45 |
5 |
6.5U=40°C |
125 |
0.5 |
40-250 |
200 |
10 |
npn | |
3D 136 |
45 |
0.5 |
0.1 |
45 |
5 |
6.5t,=40 °C |
125 |
0.5 |
40-250 |
150 |
10 | ||
3C211 |
40 |
1 |
0.1 |
80 |
5 |
4.25 |
175 |
1 |
6-250 |
50 |
35 |
npn | |
3C313 |
40 |
1 |
0.1 |
80 |
5 |
4.25 |
175 |
1 |
6-250 |
50 |
35 |
F) Opracowanie i analiza wyników:
1. Narysować (wy drukować) wszystkie zmierzone charakterystyki.
2. Na podstawie charakterystyk złącz BE, BC narysowanych w skali logarytmiczno-liniowej i wyznaczyć współczynniki złącza oraz „prądy zerowe” i rezystancję szeregową.
3. Na podstawie charakterystyk statycznych wyznaczyć parametry schematu zastępczego z parametrami mieszanymi typu h dla wybranego punktu pracy tranzystora.
4. Narysować charakterystyki prądów zerowych. Sprawdzić teoretyczną zależność pomiędzy Iceo oraz Icbo-
5. Porównać uzyskane wyniki z danymi katalogowymi.
6. Skomentować charakterystyki przejściowe i częstotliwościowe wzmacniacza. Wyznaczyć częstotliwości graniczne.
7. Dokonać kompleksowej analizy- uzyskanych wyników.
1. W. Marciniak „Przyrząd)' półprzewodnikowe i układy scalone"
2. W. Marciniak „Modele elementów półprzewodników”
3. A. Kusy „Podstawy elektroniki”
4. Gray P.E .Searle C.L.- „Podstawy elektroniki
5. Kołodziejski J. Spiralski L. Stolarski E. „Pomiary przyrządów półprzewodnikowych”